数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质与流程

1.本技术涉及计算机技术领域，尤其涉及一种数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术：

2.在工业加工过程中，一些金属材料如铝合金在做成消费者使用的金属制品时，需要对铝合金进行阳极氧化和染工艺，以提升金属制品的耐磨性，材料稳定性和外观美观等。阳极氧化和染工艺简称阳极染工艺，阳极染工艺通常包括多类加工制程，如化学抛光、阳极氧化、脱脂、浸泡、染等，每一类制程可以包括多个制程参数，如阳极氧化制程的温度参数、硫酸浓度参数、停留时间参数等，经过阳极染工艺即可得到阳极染产品，对阳极染产品的进行染结果检测，以与标准染规格对比，从而得出阳极染产品的染结果。在实际生产中，阳极染产品的染结果可能受多种因素的影响，对于如何到阳极染工艺的参数与阳极染产品的染结果的相应关系，一直是困扰研发人员的问题。
3.然而，目前为了保证物料的加工结果，往往需要根据人工对参数进行调整，但是人工调整仅能依靠经验，较为繁琐而且并不精确，工作量很大。例如，在利用阳极槽对物料染时，若对染完成的物料进行测的结果不合格，则需要依据物料的染程度、阳极槽的加工参数，例如，温度、ph值、浓度等，确定物料的二次染时间。现有的物料二次染时间大多由人工设置，需要经过多次试验和调整才能保证设置的染时间可使染后的物料的颜为合格。因此人工调试确定加工参数，导致调整效率较低，且依据人工经验确定加工参数时，可复制性较差且浪费人力成本。

技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术提出了一种数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，通过导入公式化模型对实际回染时间进行计算，实现了染智能化，可提高染效率及染质量。
5.第一方面，本技术实施例提供一种数据分析方法，包括：
6.获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；
7.获取多组样本染数据，其中，所述多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；
8.基于所述多组样本染数据建立公式化模型，及将所述实际染结果输入所述公式化模型，得到所述待加工的阳极染产品的实际回染时间；
9.基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染。
10.于一实施例中，所述多组样本染数据包括第一组样本数据、第二组样本数据，所述公式化模型的建立方法包括：
11.根据所述第一组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第一染
速率基准时间；
12.根据所述第二组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第二染速率基准时间；
13.基于所述第一染速率基准时间、所述第二染速率基准时间、所述第一组样本数据的首次染结果以及所述第二组样本数据的首次染结果，得到染速率系数；
14.基于所述染速率系数，构建所述公式化模型。
15.于一实施例中，所述基于所述第一染速率基准时间、所述第二染速率基准时间、所述第一组样本数据的首次染结果以及所述第二组样本数据的首次染结果，得到染速率系数，包括：
16.将所述第一染速率基准时间与所述第二染速率基准时间之差与所述第一组样本数据的首次染结果与所述第二组样本数据的首次染结果之差的比值用作所述染速率系数。
17.于一实施例中，当所述样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递减时，所述公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(p-l1)
×
k]
×
|l-l1|；
[0018]
当所述样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递增时，所述公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(l1-p)
×
k]
×
|l-l1|；
[0019]
其中，s1代表所述待加工的阳极染产品的染速率基准时间，p代表所述代加工的阳极染产品在染速率基准时间s1时长下的首次染结果，k代表所述待加工的阳极染产品的染速率系数，s2代表所述待加工的阳极染产品的实际回染时间，l1代表所述待加工的阳极染产品的首次染结果，l代表所述待加工的阳极染产品的染目标值。
[0020]
于一实施例中，所述基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染，包括：
[0021]
通过预设程序将所述实际回染时间导入预设自动化染系统，所述自动化染系统用于对所述待加工的阳极染产品进行回染。
[0022]
于一实施例中，所述获取多组样本染数据之前，还包括：
[0023]
判断所述实际染结果是否在预设阈值范围内；
[0024]
若所述实际染结果在所述预设阈值范围内，放弃对所述待加工的阳极染产品进行回染；
[0025]
若所述实际染结果不在所述预设阈值范围内，对所述待加工的阳极染产品进行回染，直至所述实际染结果在预设阈值范围内。
[0026]
于一实施例中，所述实际染结果、所述首次染结果、所述染目标值及所述回染结果为通过差仪得到的实际测量值的绝对值。
[0027]
第二方面，本技术实施例还提供一种数据分析装置，包括：
[0028]
测量模块，用于获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；
[0029]
获取模块，用于获取多组样本染数据，其中，所述多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；
[0030]
计算模块，用于基于所述多组样本染数据建立公式化模型，及将所述实际染结果输入所述公式化模型，得到所述待加工的阳极染产品的实际回染时间；
[0031]
加工模块，用于基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染。
[0032]
第三方面，本技术实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行第一方面所述的数据分析方法的步骤。
[0033]
第四方面，本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，当所述计算机指令在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行如第一方面所述的数据分析方法的步骤。
[0034]
本技术实施方式提供的数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，首先，基于多组样本染数据建立公式化模型，其中，多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果，然后，将待加工的阳极染产品首次染后的实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间，最后，基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。本技术通过采用上述手段，实现了染智能化，提高了染效率及染质量。
附图说明
[0035]
图1为本技术一实施例的数据分析方法的步骤流程示意图。
[0036]
图2为本技术一实施例的数据分析装置的功能模块图。
[0037]
图3为本技术一实施例的电子设备的架构示意图。
[0038]
主要元件符号说明
[0039]
数据分析装置10
[0040]
测量模块11
[0041]
获取模块12
[0042]
计算模块13
[0043]
加工模块14
[0044]
电子设备20
[0045]
处理器21
[0046]
存储器22
[0047]
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。
具体实施方式
[0048]
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0049]
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0050]
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相
连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0051]
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
[0052]
下面参照附图，对本技术的具体实施方式作进一步的详细描述。
[0053]
请参阅图1，为本技术一实施例提供的数据分析方法的步骤流程示意图。
[0054]
具体地，数据分析方法可以包括：
[0055]
s100，获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果。
[0056]
进一步参阅图3，操作人员可以利用差仪对待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果进行测量，得到实际测量值的绝对值为待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果。例如，待加工的阳极染产品为铝制产品。差仪测量得到的实际染结果可以传输给电子设备20，例如电子设备20可以是电脑设备，操作人员也可以手动录入差仪测量得到的实际染结果至电子设备20。
[0057]
s200，判断实际染结果是否在预设阈值范围内。
[0058]
于一实施例中，电子设备20可以判断实际染结果是否在预设阈值范围内。若实际染结果在预设阈值范围内，放弃对待加工的阳极染产品进行回染，即不必再执行步骤s300-s600。
[0059]
于一实施例中，若实际染结果不在预设阈值范围内，对待加工的阳极染产品进行回染，即继续执行步骤s300-s600，直至实际染结果在预设阈值范围内。
[0060]
其中，预设阈值范围根据实际生产中待加工的阳极染产品的材质、待染的颜及首件待加工的阳极染产品的染结果来设定。例如，待加工的阳极染产品为铝制产品，待染的颜为蓝，则预设阈值范围设定为69-69.5。
[0061]
s300，获取多组样本染数据。
[0062]
具体地，多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果。其中，首次染结果、染目标值及回染结果为由操作人员利用差仪对每组样本产品进行测量得到的实际测量值的绝对值。例如，由待加工的阳极染产品为铝制产品可知多组样本染数据为铝制产品的染数据。差仪测量得到的多组样本染数据可以传输给电子设备20。操作人员也可以手动录入多组样本染数据至电子设备20。
[0063]
s400，基于多组样本染数据建立公式化模型。
[0064]
电子设备20可以基于多组样本染数据建立公式化模型。具体地，多组样本染数据包括第一组样本数据、第二组样本数据，公式化模型的建立方法可以包括：第一，根据第一组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第一染速率基准时间；第
二，根据第二组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第二染速率基准时间；第三，基于第一染速率基准时间、第二染速率基准时间、第一组样本数据的首次染结果以及第二组样本数据的首次染结果，得到染速率系数，其中，将第一染速率基准时间与第二染速率基准时间之差与第一组样本数据的首次染结果与第二组样本数据的首次染结果之差的比值用作染速率系数；第四，基于染速率系数，构建公式化模型。
[0065]
进一步地，当样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递减时，公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(p-l1)
×
k]
×
|l-l1|。例如，当待加工的阳极染产品的染颜为蓝丶绿等颜时，样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递减。
[0066]
当样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递增时，公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(l1-p)
×
k]
×
|l-l1|。例如，当待加工的阳极染产品的染颜为粉丶紫丶黄丶橙等颜时，样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递增。
[0067]
其中，s1代表待加工的阳极染产品的染速率基准时间，p代表待加工的阳极染产品在染速率基准时间s1时长下的首次染结果，k代表待加工的阳极染产品的染速率系数，s2代表待加工的阳极染产品的实际回染时间，l1代表待加工的阳极染产品的首次染结果，l代表待加工的阳极染产品的染目标值。
[0068]
s500，将实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间。
[0069]
在本实施例中，当电子设备20构建得到公式化模型之后，可以将实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间。电子设备20还可以通过预设程序将待加工的阳极染产品的实际回染时间导入预设自动化染系统。以待加工的阳极染产品为铝制产品，待染颜为蓝，染时间以秒为单位为例，对公式化模型的实现过程进行详细描述。当待加工的阳极染产品的染颜为蓝时，样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递减，公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(p-l1)
×
k]
×
|l-l1|。
[0070]
例如，第一组样本数据的首次染结果为71.85，染目标值为69.2,回染时间为93秒，则第一染速率基准时间＝93/(71.85-69.2)＝35；第二组样本数据的首次染结果为71.25，染目标值为69.3,回染时间为60秒，则第二染速率基准时间＝60/(71.25-69.3)＝30.8；综上，染速率系数为(35-30.8)/(71.85-71.25)＝7，即k＝7。将上述公式化模型转化为对应公式导入excel表格中，即可自动求出待加工的阳极染产品的实际回染时间s2，如表1所示。
[0071]
表1
[0072]
颜l1ll-l1s1[s1-(p-l1)
×
k]s2蓝7169.21.8352952
[0073]
其中，71代表待加工的阳极染产品首次染后差仪测量的数据的绝对值，即待加工的阳极染产品的首次染结果l1；69.2代表根据实际生产确定待加工的阳极染产品的预设染标准值l，蓝选取69～69.5；1.8代表excel表格自动算出差值，代表回染
时达到待加工的阳极染产品的预设染标准值l还需要染多少个点；35代表利用两组样本数据确定的染速率基准时间s1，表示每染深一个点需要的时间；29代表输入待加工的阳极染产品的首次染结果71后excel表格自动算出时间速率，表示的每染深一个点所需时间；52代表excel表格自动算出的待加工的阳极染产品的实际回染时间s2，即最终需要的实际回染时间。
[0074]
s600，基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。
[0075]
具体地，可以通过预设程序将实际回染时间导入预设自动化染系统，自动化染系统用于基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。
[0076]
在本实施例中，首先，基于多组样本染数据建立公式化模型，其中，多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果，然后，将待加工的阳极染产品首次染后的实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间，最后，基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。通过采用上述手段，实现了染智能化，提高了染效率及染质量。
[0077]
需要说明的是，不同染颜的预设染标准值的设定标准不同，在本实施例中，以待加工的阳极染产品为铝制产品为例，根据实际生产数据，对染颜为黄丶绿丶紫丶粉丶橙的预设染标准值进行示例性设定，如表2及表3所示。
[0078]
表2
[0079]
颜l1l|l-l1|s1[s1-(p-l1)
×
k]s2蓝7169.21.8352952绿77.676.31.329.22735
[0080]
表3
[0081]
颜l1l|l-l1|s1[s1-(l1-p)
×
k]s2黄2.83.050.2519019248紫17.520.32.815.21953粉8.349.71.36161521橙1920.81.8392545
[0082]
在其他实施例中，可以根据表2及表3的示例数据，在已导入公式化模型的excel表格中手动输入待加工的阳极染产品的首次染结果l1，利用excel表格自动算出的待加工的阳极染产品的染颜为染颜为黄丶绿丶紫丶粉丶橙时的实际回染时间s2。
[0083]
请参阅图2，为本技术一实施例提供的数据分析装置10的功能模块图。在本实施例中，基于与上述实施例中的数据分析方法相同的思想，本技术还提供一种数据分析装置10，该数据分析装置10可用于执行上述数据分析方法。为了便于说明，数据分析装置10实施例的功能模块示意图中，仅仅示出了与本技术实施例相关的部分，本领域技术人员可以理解，图示结构并不构成对该数据分析装置10的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
[0084]
具体地，数据分析装置10包括：测量模块11，用于获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；获取模块12，用于获取多组样本染数据，其中，多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；计算
模块13，用于基于多组样本染数据建立公式化模型，及将实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间；加工模块14，用于基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。
[0085]
请参阅图3，为本技术一实施例提供的电子设备20的架构图。
[0086]
具体地，电子设备20包括处理器21和存储器22，存储器22用于存储计算机指令，处理器21用于调用存储器22中的计算机指令，使得电子设备20执行如上述实施例的数据分析方法的步骤。电子设备20可以是指与自动化染系统通信连接的电子设备，也可是指集成在自动化染系统中的设备或者模块。
[0087]
示例性的，计算机指令可以被分割成一个或多个模块/单元，一个或者多个模块/单元被存储在存储器22中，并由处理器21执行。一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机指令指令段，指令段用于描述计算机指令在电子设备20中的执行过程。例如，可以分割成图2所示的测量模块11、获取模块12、计算模块13、加工模块14。
[0088]
电子设备20可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑、工业电脑、平板电脑、服务器等计算设备。本领域技术人员可以理解，示意图仅仅是电子设备20的示例，并不构成对电子设备20的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如电子设备20还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
[0089]
处理器21可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器、单片机或者处理器21也可以是任何常规的处理器等。
[0090]
存储器22可用于存储计算机指令和/或模块/单元，处理器21通过运行或执行存储在存储器22内的计算机指令和/或模块/单元，以及调用存储在存储器22内的数据，实现电子设备20的各种功能。存储器22可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序等；存储数据区可存储根据电子设备20的使用所创建的数据等。此外，存储器22可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(smart media card,smc)，安全数字(secure digital,sd)卡，闪存卡(flash card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。
[0091]
本技术还公开一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储计算机指令，当计算机指令在电子设备20上运行时，使得电子设备20执行如上述实施例的3d打印机的调试方法的步骤。其中，存储介质可以是u盘、移动硬盘、只议存储器rom、随机存取存储器ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0092]
本技术实施方式提供的数据分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，首先，基于多组样本染数据建立公式化模型，其中，多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果，然后，将待加工的阳极染产品首次染后的实际染结果输入公式化模型，得到待加工的阳极染产品的实际回染时间，最后，基于实际回染时间对待加工的阳极染产品进行回染。通过采用上述手段，实现
了染智能化，提高了染效率及染质量。
[0093]
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本发明内。
[0094]
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

技术特征：

1.一种数据分析方法，其特征在于，包括：获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；获取多组样本染数据，其中，所述多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；基于所述多组样本染数据建立公式化模型，及将所述实际染结果输入所述公式化模型，得到所述待加工的阳极染产品的实际回染时间；基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染。2.如权利要求1所述的数据分析方法，其特征在于，所述多组样本染数据包括第一组样本数据、第二组样本数据，所述公式化模型的建立方法包括：根据所述第一组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第一染速率基准时间；根据所述第二组样本数据的首次染结果、染目标值及回染时间得到第二染速率基准时间；基于所述第一染速率基准时间、所述第二染速率基准时间、所述第一组样本数据的首次染结果以及所述第二组样本数据的首次染结果，得到染速率系数；基于所述染速率系数，构建所述公式化模型。3.如权利要求2所述的数据分析方法，其特征在于，所述基于所述第一染速率基准时间、所述第二染速率基准时间、所述第一组样本数据的首次染结果以及所述第二组样本数据的首次染结果，得到染速率系数，包括：将所述第一染速率基准时间与所述第二染速率基准时间之差与所述第一组样本数据的首次染结果与所述第二组样本数据的首次染结果之差的比值用作所述染速率系数。4.如权利要求2所述的数据分析方法，其特征在于，当所述样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递减时，所述公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(p-l1)
×
k]
×
|l-l1|；当所述样本染数据中首次染结果与回染结果的绝对值保持递增时，所述公式化模型满足关系式：s2＝[s1-(l1-p)
×
k]
×
|l-l1|；其中，s1代表所述待加工的阳极染产品的染速率基准时间，p代表所述代加工的阳极染产品在染速率基准时间s1时长下的首次染结果，k代表所述待加工的阳极染产品的染速率系数，s2代表所述待加工的阳极染产品的实际回染时间，l1代表所述待加工的阳极染产品的首次染结果，l代表所述待加工的阳极染产品的染目标值。5.如权利要求1所述的数据分析方法，其特征在于，所述基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染，包括：通过预设程序将所述实际回染时间导入预设自动化染系统，所述自动化染系统用于对所述待加工的阳极染产品进行回染。6.如权利要求1所述的数据分析方法，其特征在于，所述获取多组样本染数据之前，还包括：判断所述实际染结果是否在预设阈值范围内；若所述实际染结果在所述预设阈值范围内，放弃对所述待加工的阳极染产品进行
回染；若所述实际染结果不在所述预设阈值范围内，对所述待加工的阳极染产品进行回染，直至所述实际染结果在预设阈值范围内。7.如权利要求1所述的数据分析方法，其特征在于，所述实际染结果、所述首次染结果、所述染目标值及所述回染结果为通过差仪得到的实际测量值的绝对值。8.一种数据分析装置，其特征在于，包括：测量模块，用于获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；获取模块，用于获取多组样本染数据，其中，所述多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；计算模块，用于基于所述多组样本染数据建立公式化模型，及将所述实际染结果输入所述公式化模型，得到所述待加工的阳极染产品的实际回染时间；加工模块，用于基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染。9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器用于存储指令，所述处理器用于调用所述存储器中的指令，使得所述电子设备执行权利要求1至权利要求7中任一项所述的数据分析方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，当所述计算机指令在电子设备上运行时，使得所述电子设备执行如权利要求1至权利要求7中任一项所述的数据分析方法的步骤。

技术总结

本申请提出一种数据分析方法，包括：获取待加工的阳极染产品进行首次染后的实际染结果；获取多组样本染数据，其中，所述多组样本染数据中的每组样本染数据包括首次染结果、染目标值、回染时间及回染结果；基于所述多组样本染数据建立公式化模型，及将所述实际染结果输入所述公式化模型，得到所述待加工的阳极染产品的实际回染时间；基于所述实际回染时间对所述待加工的阳极染产品进行回染。本申请还提供一种数据分析装置、电子设备及计算机可读存储介质。本申请通过导入公式化模型对实际回染时间进行计算，实现了染智能化，可提高染效率及染质量。可提高染效率及染质量。可提高染效率及染质量。