一种模拟集成电路的参数优化方法及系统

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 114492279 A (43)申请公布日 2022.05.13

(21)申请号 CN202210101249.6

(22)申请日 2022.01.27

(71)申请人西安交通大学

地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

(72)发明人王红义陈晨惠静妮吴凯凯梁峰

(74)专利代理机构

代理人

(51)Int.CI

G06F30/373

G06N7/00

G06K9/62

G06F111/04

G06F111/08

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

一种模拟集成电路的参数优化方法及系统

(57)摘要

本发明公开了一种模拟集成电路的参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、设计参数及其取值范围、迭代停止条件；基于获取的设计参数及其取值范围，采样获得训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代，实现模拟集成电路的参数优化。本发明为缓解维数灾难的问题，使算法具有处理高维优化问题的能力，提出了一种基于互信息分析的逐步优化策略；在每次迭代中，仅选取部分设计变量进行优化，能够缓解维数灾难。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-05-31	实质审查的生效IPC(主分类):G06F30/373专利申请号:2022101012496申请日:20220127	实质审查的生效
2022-05-13	公开	发明专利申请公布