一种光路测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及一种光路测试系统，属于内窥镜测试领域。

背景技术：

2.内窥镜是集中了传统光学、人体工程学、精密机械、现代电子、数学、软件等于一体的检测仪器。一个具有图像传感器、光学镜头、光源照明、机械装置等，它可以经口腔进入胃内或经其他天然孔道进入体内。利用内窥镜可以看到x射线不能显示的病变，因此它对医生非常有用。例如，借助内窥镜医生可以观察胃内的溃疡或肿瘤，据此制定出最佳的方案。
3.其中的光棒在内窥镜中起到重要的作用，目前在对光棒测试时通常是将内窥镜装配好，通过人工对其进行检测光棒是否合格，不合格需要将光棒导出后重新在装进新的光棒进行检测，直到检测光棒合格后才可进入到下一工序，这种检测方式费时费力，人力成本投入较大，测试结果难以保证。
4.有鉴于此，在申请号为202121482960.8的专利文献中公开了一种光学内窥镜测试系统，一维平移台用于在移动条件下调节测标靶盘与光学内窥镜物镜间的距离，二维工作台用于光学内窥镜的视场中心调节，再通过旋转刻度旋转台来测量出光学内窥镜的视向角，视向角数值通过刻度显示出，本技术与现有技术测试方式不同。

技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理的光路测试系统。
6.本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是：该光路测试系统，包括接受仪和分析处理系统，其结构特点在于：还包括测试模组和可拆卸模组，所述测试模组与可拆卸模组配合，所述可拆卸模组与接受仪连接，所述接受仪与分析处理系统连接；所述测试模组包括测试底座、测试模组本体和卡接机构，所述测试模组本体通过卡接机构设置在测试底座上，所述测试底座包括测试底座本体、套管和套管座，所述套管座设置在测试底座本体上，所述套管设置在套管座上，所述测试模组本体安装在套管和套管座上。将被测试光棒放置在可拆卸模组内，通过测试模组可测试光棒数据，将测得的数据通过接受仪传输至分析处理系统进行分析光棒是否合格，无需人工检测，提高工作效率。
7.进一步地，所述测试底座还包括升降限位孔、移动限位孔、复位腔和螺纹孔，所述升降限位孔和螺纹孔均设置在套管内，所述移动限位孔设置在升降限位孔的侧壁，所述复位腔设置在套管座上。用于控制移动卡块与升降导向块的贴合，在测试光棒的不同数据时方便对测试模组本体进行更换。
8.进一步地，所述测试模组本体上设置有测试模组卡槽，所述测试模组卡槽呈环形结构设置。可对测试模组本体进行限位。
9.进一步地，所述卡接机构包括移动卡块、卡块复位板、卡接复位弹簧、升降限位块、
升降导向块、升降限位杆和升降螺栓，所述卡块复位板设置在移动卡块上，所述卡块复位板和移动卡块分别位于复位腔和移动限位孔内，所述卡接复位弹簧的两端分别与卡块复位板和复位腔的壁面抵接，所述升降限位块位于升降限位孔内，所述升降导向块设置在升降限位块上，且升降导向块与移动卡块配合，所述升降限位杆的两端分别与升降限位块和升降螺栓连接，所述升降螺栓与套管螺纹连接。
10.进一步地，所述移动卡块的一端设置有卡块导向面，所述升降导向块上设置有升降导向面，所述升降导向面与卡块导向面接触。
11.进一步地，所述移动卡块的另一端设置有与测试模组卡槽配合的弧形结构。当移动卡块伸出时可对测试模组本体进行限位，方便控制测试模组本体的转动。
12.进一步地，所述升降限位杆上设置有升降限位环，所述升降限位块上设置有升降限位槽，所述升降限位环位于升降限位槽内。
13.进一步地，所述可拆卸模组包括可拆卸底座、翻盖、铰接轴、锁止机构和接受仪接口，所述翻盖的一侧通过铰接轴设置在可拆卸底座上，所述翻盖的另一侧通过锁止机构与可拆卸底座固定，所述可拆卸底座和翻盖上均设置有呈半圆结构设置的光棒放置槽，所述可拆卸底座的端部设置有接受仪接口，所述接受仪接口与接受仪连接。
14.进一步地，所述锁止机构包括锁止钩、锁止钩腔体、锁止块、锁止块腔体、锁止杆和锁止复位弹簧，所述锁止钩设置在翻盖上，所述锁止钩腔体和锁止块腔体均设置在可拆卸底座上，所述锁止块位于锁止块腔体内，所述锁止块与锁止杆连接，所述锁止复位弹簧的两端分别与锁止块腔体的壁面和锁止块抵接。在需要装入与取出光棒时可实现翻盖的快速锁紧扣合。
15.进一步地，所述锁止钩上设置有锁止钩导向面，锁止块上设置有锁止块导向面，所述锁止块导向面与锁止钩导向面配合。
16.相比现有技术，本实用新型具有以下优点：采用该光路测试系统预先对光棒进行检测，测试光棒等畸变景深、视场角视向角、通光率像线数据，通过接受仪将数据传输至分析处理系统进行分析，待光棒检测合格后即可将光棒与内窥镜进行装配，装配后即可进入到下一工序，减少人力成本的投入，提高了检测效率，同时通过设置的测试模组可对多种光棒的多种数据进行测试，在需要对测试模组本体更换时可通过卡接机构进行操作，在更换测试模组本体后可通过卡接机构对其进行限位可实现测试模组本体的转动。
附图说明
17.图1是本实用新型实施例的光路测试系统的立体结构示意图。
18.图2是本实用新型实施例的光路测试系统的立体结构示意图。
19.图3是本实用新型实施例的光路测试系统的主视结构示意图。
20.图4是图3中的a-a剖面结构示意图。
21.图5是图4中的b部放大结构示意图。
22.图6是本实用新型实施例的光路测试系统的左视结构示意图。
23.图7是图6中的c-c剖面结构示意图。
24.图8是图7中的d部放大结构示意图。
25.图9是本实用新型实施例的光路测试系统的原理结构示意图。
26.图中：测试模组1、可拆卸模组2、接受仪3、分析处理系统4、
27.测试底座11、测试模组本体12、卡接机构13、
28.测试底座本体111、套管112、套管座113、升降限位孔114、移动限位孔115、复位腔116、螺纹孔117、
29.测试模组卡槽121、
30.移动卡块131、卡块复位板132、卡接复位弹簧133、卡块导向面134、升降限位块135、升降导向块136、升降导向面137、升降限位杆138、升降限位环139、升降限位槽1390、升降螺栓13901、
31.可拆卸底座21、翻盖22、铰接轴23、锁止机构24、光棒放置槽25、接受仪接口26、
32.锁止钩241、锁止钩腔体242、锁止块243、锁止块腔体244、锁止杆245、锁止复位弹簧246、锁止钩导向面247、锁止块导向面248。
具体实施方式
33.下面结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。
34.实施例。
35.参见图1至图9所示，须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容能涵盖的范围内。同时，本说明书中若有引用如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本实用新型可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本实用新型可实施的范畴。
36.本实施例中的光路测试系统，包括测试模组1、可拆卸模组2、接受仪3和分析处理系统4，测试模组1与可拆卸模组2配合，可拆卸模组2与接受仪3连接，接受仪3与分析处理系统4连接；测试模组1包括测试底座11、测试模组本体12和卡接机构13，测试模组本体12通过卡接机构13设置在测试底座11上。将被测试光棒放置在可拆卸模组2内，通过测试模组1可测试光棒的畸变景深、视场角视向角、通光率像线等数据，将测得的数据通过接受仪3传输至分析处理系统4进行分析光棒是否合格。
37.本实施例中的测试底座11包括测试底座本体111、套管112、套管座113、升降限位孔114、移动限位孔115、复位腔116和螺纹孔117，套管座113设置在测试底座本体111上，套管112设置在套管座113上，套管座113与套管112均用于安装测试模组本体12，测试模组本体12安装在套管112和套管座113上，升降限位孔114和螺纹孔117均设置在套管112内，升降限位孔114呈四边形结构设置，用于限制升降限位块135只能上下移动，而无法转动，移动限位孔115设置在升降限位孔114的侧壁，复位腔116设置在套管座113上，测试模组本体12上设置有测试模组卡槽121，测试模组卡槽121呈环形结构设置。测试模组本体12呈多边形结构设置，每个面可测得不同的光棒数据，如畸变景深、视场角视向角、通光率像线等数据，当需要测试其中某一项数据时，转动测试模组本体12将需要测得的相应数据的面朝向可拆卸
模组2即可。
38.本实施例中的卡接机构13包括移动卡块131、卡块复位板132、卡接复位弹簧133、升降限位块135、升降导向块136、升降限位杆138和升降螺栓13901，卡块复位板132设置在移动卡块131上，卡块复位板132和移动卡块131分别位于复位腔116和移动限位孔115内，卡接复位弹簧133的两端分别与卡块复位板132和复位腔116的壁面抵接，升降限位块135位于升降限位孔114内，升降导向块136设置在升降限位块135上，且升降导向块136与移动卡块131配合，升降限位杆138的两端分别与升降限位块135和升降螺栓13901连接，升降螺栓13901与套管112螺纹连接。
39.本实施例中的移动卡块131的一端设置有卡块导向面134，升降导向块136上设置有升降导向面137，升降导向面137与卡块导向面134接触，移动卡块131的另一端设置有与测试模组卡槽121配合的弧形结构，升降限位杆138上设置有升降限位环139，升降限位块135上设置有升降限位槽1390，升降限位环139位于升降限位槽1390内。
40.本实施例中的可拆卸模组2包括可拆卸底座21、翻盖22、铰接轴23、锁止机构24和接受仪接口26，翻盖22的一侧通过铰接轴23设置在可拆卸底座21上，翻盖22的另一侧通过锁止机构24与可拆卸底座21固定，可拆卸底座21和翻盖22上均设置有呈半圆结构设置的光棒放置槽25，可拆卸底座21的端部设置有接受仪接口26，接受仪接口26与接受仪3连接。
41.本实施例中的锁止机构24包括锁止钩241、锁止钩腔体242、锁止块243、锁止块腔体244、锁止杆245和锁止复位弹簧246，锁止钩241设置在翻盖22上，锁止钩腔体242和锁止块腔体244均设置在可拆卸底座21上，锁止块243位于锁止块腔体244内，锁止块243与锁止杆245连接，锁止复位弹簧246的两端分别与锁止块腔体244的壁面和锁止块243抵接，锁止钩241上设置有锁止钩导向面247，锁止块243上设置有锁止块导向面248，锁止块导向面248与锁止钩导向面247配合。
42.采用述光路测试系统的测试方法，如下：
43.将被测试光棒放置于可拆卸底座21的光棒放置槽25内，将翻盖22与可拆卸底座21扣合，具体如下；
44.按动锁止杆245使得锁止复位弹簧246处于压缩状态，锁止块243与锁止钩241分离，此时锁止块243位于锁止块腔体244内，可将翻盖22打开；
45.通过锁止机构24对翻盖22进行固定，翻盖22沿着铰接轴23转动时，依靠翻盖22的自身重力使其下落，使锁止钩241落入锁止钩腔体242内，当锁止钩导向面247与锁止块导向面248接触时，将锁止块243推入到锁止块腔体244内，当锁止钩241的底部与锁止钩腔体242的壁面接触时，锁止复位弹簧246可将锁止块243弹回，使得锁止块243将锁止钩241卡紧；
46.将测试模组本体12安装在测试底座11上，具体如下；
47.拧动升降螺栓13901使得升降限位杆138随着升降螺栓13901转动，同时通过升降限位杆138向下推动升降限位块135在升降限位孔114内向下移动，当升降导向面137与卡块导向面134接触时，即可通过升降导向块136将移动卡块131推出移动限位孔115内，使得移动卡块131卡入到测试模组卡槽121内，方便对测试模组本体12进行更换，
48.在需要对测试模组本体12进行更换时，拧动升降螺栓13901使得升降限位杆138随着升降螺栓13901转动，同时通过升降限位杆138向上拉动升降限位块135在升降限位孔114内向上移动，当升降导向面137与卡块导向面134分离时，即可通过卡接复位弹簧133将移动
卡块131弹入移动限位孔115内，使得移动卡块131脱离于测试模组卡槽121内；
49.对被测试光棒进行测试时可转动测试模组本体12，将测试模组本体12上的需测得所需数量的那一面朝向可拆卸模组2，通过移动卡块131插入到测试模组卡槽121内实现对测试模组本体12的限位，避免测试模组本体12上下移动，可分别测得被测试光棒的畸变景深、视场角视向角、通光率像线的数据，通过接受仪3将被测试光棒的测试数据传输至分析处理系统4进行分析处理。
50.此外，需要说明的是，本说明书中所描述的具体实施例，其零、部件的形状、所取名称等可以不同，本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本实用新型结构所作的举例说明。凡依据本实用新型专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效变化或者简单变化，均包括于本实用新型专利的保护范围内。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。

技术特征：

1.一种光路测试系统，包括接受仪（3）和分析处理系统（4），其特征在于：还包括测试模组（1）和可拆卸模组（2），所述测试模组（1）与可拆卸模组（2）配合，所述可拆卸模组（2）与接受仪（3）连接，所述接受仪（3）与分析处理系统（4）连接；所述测试模组（1）包括测试底座（11）、测试模组本体（12）和卡接机构（13），所述测试模组本体（12）通过卡接机构（13）设置在测试底座（11）上，所述测试底座（11）包括测试底座本体（111）、套管（112）和套管座（113），所述套管座（113）设置在测试底座本体（111）上，所述套管（112）设置在套管座（113）上，所述测试模组本体（12）安装在套管（112）和套管座（113）上。2.根据权利要求1所述的光路测试系统，其特征在于：所述测试底座（11）还包括升降限位孔（114）、移动限位孔（115）、复位腔（116）和螺纹孔（117），所述升降限位孔（114）和螺纹孔（117）均设置在套管（112）内，所述移动限位孔（115）设置在升降限位孔（114）的侧壁，所述复位腔（116）设置在套管座（113）上。3.根据权利要求1所述的光路测试系统，其特征在于：所述测试模组本体（12）上设置有测试模组卡槽（121），所述测试模组卡槽（121）呈环形结构设置。4.根据权利要求1所述的光路测试系统，其特征在于：所述卡接机构（13）包括移动卡块（131）、卡块复位板（132）、卡接复位弹簧（133）、升降限位块（135）、升降导向块（136）、升降限位杆（138）和升降螺栓（13901），所述卡块复位板（132）设置在移动卡块（131）上，所述卡块复位板（132）和移动卡块（131）分别位于复位腔（116）和移动限位孔（115）内，所述卡接复位弹簧（133）的两端分别与卡块复位板（132）和复位腔（116）的壁面抵接，所述升降限位块（135）位于升降限位孔（114）内，所述升降导向块（136）设置在升降限位块（135）上，且升降导向块（136）与移动卡块（131）配合，所述升降限位杆（138）的两端分别与升降限位块（135）和升降螺栓（13901）连接，所述升降螺栓（13901）与套管（112）螺纹连接。5.根据权利要求4所述的光路测试系统，其特征在于：所述移动卡块（131）的一端设置有卡块导向面（134），所述升降导向块（136）上设置有升降导向面（137），所述升降导向面（137）与卡块导向面（134）接触。6.根据权利要求5所述的光路测试系统，其特征在于：所述移动卡块（131）的另一端设置有与测试模组卡槽（121）配合的弧形结构。7.根据权利要求4所述的光路测试系统，其特征在于：所述升降限位杆（138）上设置有升降限位环（139），所述升降限位块（135）上设置有升降限位槽（1390），所述升降限位环（139）位于升降限位槽（1390）内。8.根据权利要求1所述的光路测试系统，其特征在于：所述可拆卸模组（2）包括可拆卸底座（21）、翻盖（22）、铰接轴（23）、锁止机构（24）和接受仪接口（26），所述翻盖（22）的一侧通过铰接轴（23）设置在可拆卸底座（21）上，所述翻盖（22）的另一侧通过锁止机构（24）与可拆卸底座（21）固定，所述可拆卸底座（21）和翻盖（22）上均设置有呈半圆结构设置的光棒放置槽（25），所述可拆卸底座（21）的端部设置有接受仪接口（26），所述接受仪接口（26）与接受仪（3）连接。9.根据权利要求8所述的光路测试系统，其特征在于：所述锁止机构（24）包括锁止钩（241）、锁止钩腔体（242）、锁止块（243）、锁止块腔体（244）、锁止杆（245）和锁止复位弹簧（246），所述锁止钩（241）设置在翻盖（22）上，所述锁止钩腔体（242）和锁止块腔体（244）均
设置在可拆卸底座（21）上，所述锁止块（243）位于锁止块腔体（244）内，所述锁止块（243）与锁止杆（245）连接，所述锁止复位弹簧（246）的两端分别与锁止块腔体（244）的壁面和锁止块（243）抵接。10.根据权利要求9所述的光路测试系统，其特征在于：所述锁止钩（241）上设置有锁止钩导向面（247），锁止块（243）上设置有锁止块导向面（248），所述锁止块导向面（248）与锁止钩导向面（247）配合。

技术总结

本实用新型涉及一种光路测试系统，属于内窥镜测试领域。本实用新型包括接受仪和分析处理系统，其结构特点在于：还包括测试模组和可拆卸模组，测试模组与可拆卸模组配合，可拆卸模组与接受仪连接，接受仪与分析处理系统连接；测试模组包括测试底座、测试模组本体和卡接机构，测试模组本体通过卡接机构设置在测试底座上，测试底座包括测试底座本体、套管和套管座，套管座设置在测试底座本体上，套管设置在套管座上，测试模组本体安装在套管和套管座上。将被测试光棒放置在可拆卸模组内，通过测试模组可测试光棒数据，将测得的数据通过接受仪传输至分析处理系统进行分析光棒是否合格。无需人工检测，提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。