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一种用于EBSD测试的Al-Si合金OPS抛光制样的方法[发明专利]

专利名称：一种用于EBSD测试的Al-Si合金OPS抛光制样的方法

专利类型：发明专利

发明人：高波，徐宁，胡成龙，王艺璇，胡亮，朱广林，邢鹏飞，娄太平

申请号：CN201711155229.2

申请日：20171120

公开号：CN108106913A

公开日：

20180601

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种用于EBSD测试的Al‑Si合金OPS抛光制样的方法，是将经过机械抛磨并超声清洗后的Al‑Si合金样品进行OPS抛光盘进行抛光5‑10Min，然后将需要进行EBSD分析的Al‑Si合金样品卡在振动抛光的夹具上，然后放在带有0.06umMicroCloth抛光布的震动抛光机上震动抛光3‑4小时，其振动抛光机的振幅调到最大。该方法能解决电解抛光腐蚀重熔层的厚度问题，比FIB切割抛光等抛光更加经济实惠，同时也能有效的去除样品截面的表面应力层，有利EBSD测试时产生强的衍射花样，以便对Al‑Si合金进行微观组织和织构的研究。

申请人：东北大学

地址：110169 辽宁省沈阳市浑南区创新路195号

国籍：CN

代理机构：大连理工大学专利中心

本文发布于:2024-09-21 20:44:46，感谢您对本站的认可！

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