测试组件及测试机构的制作方法

1.本技术涉及动力电池相关技术领域，具体涉及用于动力电池的测试组件及测试机构。

背景技术：

2.硬壳电芯在包膜过程中容易出现外膜破损，导致电池表面电阻变小，容易发生短路从而影响电池使用寿命，严重者会在使用过程中发生安全事故。因此需在电芯包膜之后增加一道测试电芯表面绝缘性能的工序，以此来检测电芯表面的电阻大小，以保证硬壳电芯的表面绝缘性，确保电芯的安全性。

技术实现要素：

3.本技术的目的在于提供一种测试组件及测试机构，以检测电芯的表面电阻。
4.为达上所述目的，本技术提供如下技术方案：
5.一种测试组件，用于检测电芯的表面电阻，所述测试组件包括多个硅胶模块、探针模块、测试仪；
6.各所述硅胶模块上均设有仿形硅胶，各所述仿形硅胶电性连接所述测试仪的负极；
7.所述探针模块上设有探针，所述探针电性连接所述测试仪的正极；
8.各所述硅胶模块围合设置，各所述仿形硅胶围合形成测试空间，所述测试空间中放置所述电芯，各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，所述探针接触所述电芯的正极极柱，所述测试仪释放电信号并形成电回路以检测所述电芯的表面电阻。
9.本技术的一些实施例中，各所述仿形硅胶的硬度为30-40
°
，导电率为20-25ω
·
cm。
10.本技术的一些实施例中，其特征在于，所述硅胶模块和探针模块上设有驱动装置；
11.所述硅胶模块上设置的驱动装置驱动各所述仿形硅胶靠近所述电芯进而各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，或者是驱动各所述仿形硅胶远离所述电芯进而各所述仿形硅胶与所述电芯的外表面分离；
12.所述探针模块上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯的正极极柱。
13.为达上述目的，本技术还提供一种技术方案：
14.一种测试机构，用于检测电芯的表面电阻，包括上述的测试组件、固定台、第一移栽机构；
15.部分所述硅胶模块设置于所述第一移栽机构上，部分所述硅胶模块和所述探针模块设置于所述固定台上；
16.所述第一移栽机构在水平方向上相对于所述固定台运动，运动路径上包括上料位和测试位；
17.所述第一移栽机构移至所述上料位进而所述电芯放置于位于所述第一移栽机构上的所述硅胶模块上，所述第一移栽机构移至所述测试位进而各所述仿形硅胶围合形成所述测试空间，以将所述电芯容置于其中。
18.本技术的一些实施例中，所述电芯为六面立方体并且包括第一面、第二面、第三面、第四面、第五面和第六面，所述电芯的正极极柱位于所述第六面上；
19.所述硅胶模块包括第一硅胶模块、第二硅胶模块、第三硅胶模块、第四硅胶模块和第五硅胶模块；
20.所述第一硅胶模块与所述第一面相对设置，所述第二硅胶模块与所述第二面相对设置，所述第三硅胶模块与所述第三面相对设置，所述第四硅胶模块与所述第四面相对设置，所述第五硅胶模块与所述第五面相对设置，所述探针模块与所述第六面相对设置；
21.所述固定台包括第一区域、第二区域和第三区域，所述第一区域、第二区域和第三区域连接并形成凹字形，所述凹字形的内凹处为所述测试位，所述探针模块固设于所述第一区域上，所述第一硅胶模块固设于所述第二区域上，所述第二硅胶模块固设于所述第三区域上；
22.所述第三硅胶模块和第四硅胶模块均固设于所述第一移栽机构上，并且所述第三硅胶模块和第四硅胶模块相互垂直设置并形成l字形；
23.所述测试机构还包括机架和第二移栽机构，所述第二移栽机构固设于所述机架上，所述第五硅胶模块设于所述第二移栽机构上，所述第二移栽机构驱动所述第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近或远离所述电芯。
24.本技术的一些实施例中，所述第一移栽机构包括承载台、固定座、无杆气缸；
25.所述第三硅胶模块和第四硅胶模块固设于，所述承载台的底部突出形成一凸出部，所述无杆气缸固设于所述固定座上，所述无杆气缸的移动方向上包括所述测试位和上料位，所述凸出部套设于所述无杆气缸上，所述无杆气缸驱动所述凸出部，进而驱动所述承载台在所述测试位和上料位之间来回移动。
26.本技术的一些实施例中，所述测试机构还包括压力测试模块；
27.所述压力测试模块固设于所述第二移栽机构上，包括主杆、多个弹簧、顶板、底板、压力传感器；
28.所述主杆和弹簧相对平行设置并且均设于所述顶板和底板之间，所述压力传感器设于所述主杆上，所述主杆的顶端与所述顶板固定连接，所述主杆的底部端面形成一圆弧凸出面，所述底板上与所述主杆的底部端面相对的一面上形成一圆弧凹陷面，所述圆弧凸出面与所述圆弧凹陷面相对设置并且具有相同的尺寸和形状，所述圆弧凸出面和圆弧凹陷面之间具有活动空间，所述第五硅胶模块固设于所述底板的另一面上；
29.所述第二移栽机构在所述测试位的竖直方向上运动，进而带动所述压力测试模块和第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯的外表面，或者是带动所述压力测试模块和第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上远离所述电芯；
30.所述第五硅胶模块压覆于所述电芯上，进而所述弹簧压缩，进而所述顶板和底板之间的间距缩小，进而所述圆弧凹陷面和圆弧凸出面吻合，进而所述底板对所述主杆产生压力，所述压力传感器检测所述压力。
31.本技术的一些实施例中，所述压力测试模块还包括多个导向杆；
32.各所述弹簧的内部均设有一所述导向杆，各所述弹簧沿着所述导向杆的纵长方向收缩或伸长，所述导向杆垂直设置于所述顶板和底板之间，所述导向杆的一端连接所述底板，另一端以一无油衬套与所述顶板连接。
33.本技术的一些实施例中，所述第二移栽机构包括气缸、变速器、第一滑块、第二滑块、第三滑块、丝杆；
34.所述气缸、变速器、丝杆依次连接设置，所述第一滑块、第二滑块、第三滑块依次套设于所述丝杆上，所述第一滑块和第三滑块固设于所述机架上，所述第二滑块固设于所述压力测试模块上；
35.所述气缸经由所述变速器驱动所述丝杆转动，进而所述丝杆驱动所述第二滑块在所述测试位的竖直方向上运动，进而所述第二滑块驱动所述压力测试模块和第六硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯的外表面上，或者是远离所述电芯。
36.本技术的一些实施例中，所述第二移栽机构还包括导轨，第一背板、第二背板、第一导轨滑块、第二导轨滑块；
37.所述导轨设于所述机架上，所述第一背板的一侧与所述顶板固定连接，所述第一背板的另一侧与所述第一导轨滑块固定连接，所述第二背板的一侧与所述底板固定连接，所述第二背板的另一侧与所述第二导轨滑块固定连接，所述第一导轨滑块和第二导轨滑块均套设于所述导轨上并沿着所述导轨运动；
38.所述第二硅胶模块、第三硅胶模块和探针模块上设有驱动装置；
39.所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上设置的驱动装置分别驱动所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上的所述仿形硅胶靠近所述电芯进而各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，或者是驱动所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上的所述仿形硅胶远离所述电芯进而各所述仿形硅胶与所述电芯的表面分离；
40.所述探针模块上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯的正极极柱；所述测试机构还包括扫码模块，所述扫码模块采集所述电芯的信息。
41.本技术的有益效果是：
42.1、本技术采用的各所述仿形硅胶的外形轮廓略大于所述电芯的各个表面，各所述仿形硅胶在围合时彼此边缘处之间存在一定的挤压和弹性变形，所以形成的测试空间能够包覆到所述电芯的各个棱边、尖角和r角，所以本技术检测到的所述电芯的外表面电阻实质包含了所述电芯的五个表面以及各个棱边、尖角和r角位置，因此本技术通过所述电芯的外表面电阻来考察所述电芯的外表面是否有破损，可以实现不仅能考察各个表面，还能考察各个棱边、尖角和r角位置有无发生破损。
43.2、本技术的测试机构中设置了一个压力测试模块，可以在检测电芯表面电阻的同时检测电芯的耐压强度。
附图说明
44.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附
图。
45.图1为包含有本技术所提供测试组件的测试机构的结构示意图；
46.图2为图1所示测试机构的局部放大示意图；
47.图3为图1所示测试机构的另一视角侧视图。
48.本技术说明书附图中的主要附图标记说明如下：
49.1-测试组件；2-电芯；101-硅胶模块；102-探针模块；103-测试仪；104-仿形硅胶；3-固定台；4-第一移栽机构；205-第五面；206-第六面；1011-第一硅胶模块；1012-第二硅胶模块；1013-第三硅胶模块；1014-第四硅胶模块；1015-第五硅胶模块；31-第一区域；32-第二区域；33-第三区域；5-机架；6-第二移栽机构；41-承载台；42-固定座；43-无杆气缸；411-凸出部；7-压力测试模块；71-主杆；72-弹簧；73-顶板；74-底板；75-压力传感器；76-导向杆；77-无油衬套；601-气缸；602-变速器；603-第一滑块；604-第二滑块；605-第三滑块；606-丝杆；607-导轨；608-第一背板；609-第二背板；610-第一导轨滑块；611-第二导轨滑块；8-扫码模块。
具体实施方式
50.下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描所述，显然，所描所述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
51.本技术提供一种测试组件及测试机构，以下分别进行详细说明。需要说明的是，以下实施例的描所述顺序不作为对本技术实施例优选顺序的限定。且在以下实施例中，对各个实施例的描所述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
52.实施例1
53.如图1所示，一种测试组件1，用于检测电芯2的表面电阻，所述测试组件1包括多个硅胶模块101、探针模块102、测试仪103。各所述硅胶模块101上均设有仿形硅胶104，各所述仿形硅胶104电性连接所述测试仪103的负极；所述探针模块102上设有探针，所述探针电性连接所述测试仪103的正极；各所述硅胶模块101围合设置，各所述仿形硅胶104围合形成测试空间，所述测试空间中放置所述电芯2，各所述仿形硅胶104覆合于所述电芯2的外表面上，所述探针接触所述电芯2的正极极柱，所述测试仪103释放电信号并形成电回路以检测所述电芯2的表面电阻。可以理解的是，各所述仿形硅胶104的外形轮廓略大于所述电芯2的各个表面，各所述仿形硅胶104在围合时彼此边缘处之间存在一定的挤压和弹性变形，由此形成的测试空间能够包覆到所述电芯2的各个棱边、尖角和r角，所以本技术检测到的所述电芯2的外表面电阻，实质包含了所述电芯2的五个表面以及各个棱边、尖角和r角位置，因此本技术通过所述电芯2的外表面电阻来考察所述电芯2的外表面是否有破损，可以实现不仅仅能考察各个表面，还能考察各个棱边、尖角和r角位置有无发生破损。
54.本技术的一些实施例中，各所述仿形硅胶104的尺寸和形状与所述电芯2的各个外表面的尺寸和形状相适应，各所述仿形硅胶104略大于各个外表面，各所述仿形硅胶104在围合形成所述测试空间时彼此间产生一定的挤压和弹性变形，各所述仿形硅胶104同时包
裹在所述电芯2的外表面上以检测所述电芯2的外表面电阻，通过这一电阻值来考察所述电芯2各个表面以及棱边、尖角和r角位置处有无破损。
55.本技术的一些实施例中，所述仿形硅胶的硬度为30-40
°
，导电率为20-25ω
·
cm，也可根据实际需求调整上述的硬度和导电率的大小，以便于测试所述电芯2的表面电阻。
56.本技术的一些实施例中，所述硅胶模块101和探针模块102上设有驱动装置(未标号)。所述硅胶模块101上设置的驱动装置驱动各所述仿形硅胶104靠近所述电芯2进而各所述仿形硅胶104覆合于所述电芯2的外表面上，或者是驱动各所述仿形硅胶104远离所述电芯2进而各所述仿形硅胶104与所述电芯2的外表面分离；所述探针模块102上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯2的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯2的正极极柱。
57.本技术的一些实施例中，所述驱动装置包括气缸，也可根据实际需求采用其它结构形式的驱动件以实现同等的移动所述仿形硅胶104的效果。
58.实施例2
59.如图1所示，一种测试机构，用于检测电芯2的表面电阻，包括如实施例1所述的测试组件1、固定台3、第一移栽机构4。部分所述硅胶模块101设置于所述第一移栽机构4上，部分所述硅胶模块101和所述探针模块102设置于所述固定台3上；所述第一移栽机构4在水平方向上相对于所述固定台3运动，运动路径上包括上料位和测试位(未标号)。本技术的一些实施例中，所述运动路径为直线段，所述上料位和测试位分别位于所述直线段的两端位置上。
60.所述第一移栽机构4移至所述上料位进而所述电芯2放置于位于所述第一移栽机构4上的所述硅胶模块101上，所述第一移栽机构4移至所述测试位进而各所述仿形硅胶104围合形成所述测试空间，以将所述电芯2容置于其中。可以理解的是，各所述仿形硅胶104的外形轮廓略大于所述电芯2的各个表面，各所述仿形硅胶104在围合时彼此边缘处之间存在一定的挤压和弹性变形，所以形成的测试空间能够包覆到所述电芯2的各个棱边、尖角和r角，所以本技术检测到的所述电芯2的外表面电阻，实质包含了所述电芯2的各个表面以及各个棱边、尖角和r角位置，所以本技术通过所述电芯2的外表面电阻来考察所述电芯2的外表面是否有破损，可以实现不仅仅能考察各个表面，还能考察各个棱边、尖角和r角位置有无发生破损。
61.本技术的一些实施例中，当所述第一移栽机构4位于所述上料位上时，人工手动地将所述电芯2放置于位于所述第一移栽机构4上的所述硅胶模块101上，然后所述第一移栽机构4将所述电芯2移动到所述测试位上以进行检测。本技术的另一些实施例中，还可以通过机械手等装置实现自动化地将所述电芯2从生产线上抓取并放置于位于所述第一移栽机构4上的所述硅胶模块101上。
62.本技术的一些实施例中，所述电芯2为六面立方体并且包括第一面、第二面、第三面、第四面、第五面205和第六面206，所述电芯2的正极极柱位于所述第六面206上。所述硅胶模块101包括第一硅胶模块1011、第二硅胶模块1012、第三硅胶模块1013、第四硅胶模块1014和第五硅胶模块1015。所述第一硅胶模块1011与所述第一面相对设置，所述第二硅胶模块1012与所述第二面相对设置，所述第三硅胶模块1013与所述第三面相对设置，所述第四硅胶模块1014与所述第四面相对设置，所述第五硅胶模块1015与所述第五面205相对设
置，所述探针模块102与所述第六面206相对设置。各所述硅胶模块101上均设有与所述电芯2的各个表面的形状和尺寸对应的所述仿形硅胶104。本技术的一些实施例中，各所述仿形硅胶104略大于各个外表面，各所述仿形硅胶104在围合形成所述测试空间时彼此间产生一定的挤压和弹性变形，各所述仿形硅胶104同时包裹在所述电芯2的外表面上，此时所述仿形硅胶104良好地覆合于所述电芯的外表面、棱边、尖角和r角上，通过检测所述电芯2的外表面电阻来考察所述电芯2各个表面以及棱边、尖角和r角位置处有无破损。
63.如图2所示，本技术的一些实施例中，所述固定台3包括第一区域31、第二区域32和第三区域33，所述第一区域31、第二区域32和第三区域33连接并形成凹字形，所述凹字形的内凹处为所述测试位，所述探针模块102固设于所述第一区域31上，所述第一硅胶模块1011固设于所述第二区域32上，所述第二硅胶模块1012固设于所述第三区域33上。
64.如图2所示，所述第三硅胶模块1013和第四硅胶模块1014均固设于所述第一移栽机构4上，并且所述第三硅胶模块1013和第四硅胶模块1014相互垂直设置并形成l字形。
65.如图3所示，所述测试机构还包括机架5和第二移栽机构6，所述第二移栽机构6固设于所述机架5上，所述第五硅胶模块1015设于所述第二移栽机构6上，所述第二移栽机构6驱动所述第五硅胶模块1015在所述测试位的竖直方向上靠近或远离所述电芯2。
66.如图1和图2所示，本技术的一些实施例中，所述第一移栽机构4包括承载台41、固定座42、无杆气缸43。所述第三硅胶模块1013和第四硅胶模块1014固设于所述承载台41上。所述承载台41的底部突出形成一凸出部411，所述无杆气缸43设于所述固定座42上，所述无杆气缸43的移动方向上包括所述测试位和上料位，所述凸出部411套设于所述无杆气缸43上，所述无杆气缸43驱动所述凸出部411，进而驱动所述承载台41在所述测试位和上料位之间来回移动。
67.如图1、图2和图3所示，本技术的一些实施例中，所述测试机构还包括压力测试模块7；所述压力测试模块7固设于所述第二移栽机构6上，包括主杆71、多个弹簧72、顶板73、底板74、压力传感器75。
68.如图1、图2和图3所示，所述主杆71和弹簧72相对平行设置并且均设于所述顶板73和底板74之间，所述压力传感器75设于所述主杆71上，所述主杆71的顶端与所述顶板73固定连接，所述主杆71的底部端面形成一圆弧凸出面(未示出)，所述底板74上与所述主杆71的底部端面相对的一面上形成一圆弧凹陷面(未示出)，所述圆弧凸出面与所述圆弧凹陷面相对设置并且具有相同的尺寸和形状，所述圆弧凸出面和圆弧凹陷面之间具有活动空间，所述第五硅胶模块1015固设于所述底板74的另一面上。
69.如图1、图2和图3所示，所述第二移栽机构6在所述测试位的竖直方向上运动，进而带动所述压力测试模块7和第五硅胶模块1015在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯2的外表面，或者是带动所述压力测试模块7和第五硅胶模块1015在所述测试位的竖直方向上远离所述电芯2。
70.所述第五硅胶模块1015压覆于所述电芯2上，进而所述弹簧72压缩，进而所述顶板73和底板74之间的间距缩小，进而所述圆弧凹陷面和圆弧凸出面吻合，进而所述底板74对所述主杆71产生压力，所述压力传感器75检测所述压力，以考察所述电芯2的耐压性能是否符合设计标准。
71.可以理解的是，本技术的一些实施例中，所述圆弧凸出面和圆弧凹陷面的形状可
以根据实际情况进行适当调整和优化。
72.如图3所示，本技术的一些实施例中，所述压力测试模块7还包括多个导向杆76；各所述弹簧72的内部均设有一所述导向杆76，各所述弹簧72沿着所述导向杆76的纵长方向收缩或伸长，所述导向杆76垂直设置于所述顶板73和底板74之间，所述导向杆76的一端连接所述底板74，另一端以一无油衬套77与所述顶板73连接。可以理解的是，所述导向杆76可以对所述弹簧72的伸长和收缩起到导向、引导的作用。
73.如图3所示，本技术的一些实施例中，所述第二移栽机构6包括气缸601、变速器602、第一滑块603、第二滑块604、第三滑块605、丝杆606。所述气缸601、变速器602、丝杆606依次连接设置，所述第一滑块603、第二滑块604、第三滑块605依次套设于所述丝杆606上，所述第一滑块603和第三滑块605固设于所述机架5上，所述第二滑块604固设于所述压力测试模块7上。
74.所述气缸601经由所述变速器602驱动所述丝杆606转动，进而所述丝杆606驱动所述第二滑块604在所述测试位的竖直方向上运动，进而所述第二滑块604驱动所述压力测试模块7和第六硅胶模块101在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯2的外表面上，或者是远离所述电芯2。所述变速器602可以给所述丝杆606提供一个较大的扭矩，以便更好地控制所述压力测试模块的施压过程。
75.如图3所示，本技术的一些实施例中，所述第二移栽机构6还包括导轨607，第一背板608、第二背板609、第一导轨滑块610、第二导轨滑块611。所述导轨607设于所述机架5上，所述第一背板608的一侧与所述顶板73固定连接，所述第一背板608的另一侧与所述第一导轨滑块610固定连接，所述第二背板609的一侧与所述底板74固定连接，所述第二背板609的另一侧与所述第二导轨滑块611固定连接，所述第一导轨滑块610和第二导轨滑块611均套设于所述导轨607上并沿着所述导轨607运动。
76.本技术的一些实施例中，所述第二硅胶模块1012、第三硅胶模块1013和探针模块102上设有驱动装置。所述第二硅胶模块1012和第三硅胶模块1013上设置的驱动装置分别驱动所述第二硅胶模块1012和第三硅胶模块1013上的所述仿形硅胶104靠近所述电芯2进而各所述仿形硅胶104覆合于所述电芯2的外表面上，或者是驱动所述第二硅胶模块1012和第三硅胶模块1013上的所述仿形硅胶104远离所述电芯2进而各所述仿形硅胶104与所述电芯2的表面分离。所述探针模块102上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯2的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯2的正极极柱。
77.如图1、图2和图3所示，本技术的一些实施例中，所述测试机构还包括扫码模块8，所述扫码模块8采集所述电芯2的信息。本技术的一些实施例中，所述扫码模块8设于靠近所述上料位的一侧，当所述电芯2放置于位于所述第一移栽机构4上的所述硅胶模块101上时，所述扫码模块8便扫描所述电芯2上的二维码或条形码，以采集所述电芯2的产品信息。
78.当检测操作完毕时，所述第一移栽机构4将所述电芯2移回所述上料位，此时人工将所述电芯2取出，或者是采用机械手等自动化方式将所述电芯2取出。
79.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。此外，说明书中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说
明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。

技术特征：

1.一种测试组件，用于检测电芯的表面电阻，其特征在于，所述测试组件包括多个硅胶模块、探针模块、测试仪；各所述硅胶模块上均设有仿形硅胶，各所述仿形硅胶电性连接所述测试仪的负极；所述探针模块上设有探针，所述探针电性连接所述测试仪的正极；各所述硅胶模块围合设置，各所述仿形硅胶围合形成测试空间，所述测试空间中放置所述电芯，各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，所述探针接触所述电芯的正极极柱，所述测试仪释放电信号并形成电回路以检测所述电芯的表面电阻。2.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，各所述仿形硅胶的硬度为30-40
°
，导电率为20-25ω
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cm。3.根据权利要求1或2所述的测试组件，其特征在于，所述硅胶模块和探针模块上设有驱动装置；所述硅胶模块上设置的驱动装置驱动各所述仿形硅胶靠近所述电芯进而各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，或者是驱动各所述仿形硅胶远离所述电芯进而各所述仿形硅胶与所述电芯的外表面分离；所述探针模块上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯的正极极柱。4.一种测试机构，用于检测电芯的表面电阻，其特征在于，包括如权利要求1-3中任一项所述的测试组件、固定台、第一移栽机构；部分所述硅胶模块设置于所述第一移栽机构上，部分所述硅胶模块和所述探针模块设置于所述固定台上；所述第一移栽机构在水平方向上相对于所述固定台运动，运动路径上包括上料位和测试位；所述第一移栽机构移至所述上料位进而所述电芯放置于位于所述第一移栽机构上的所述硅胶模块上，所述第一移栽机构移至所述测试位进而各所述仿形硅胶围合形成所述测试空间，以将所述电芯容置于其中。5.根据权利要求4所述的测试机构，其特征在于，所述电芯为六面立方体并且包括第一面、第二面、第三面、第四面、第五面和第六面，所述电芯的正极极柱位于所述第六面上；所述硅胶模块包括第一硅胶模块、第二硅胶模块、第三硅胶模块、第四硅胶模块和第五硅胶模块；所述第一硅胶模块与所述第一面相对设置，所述第二硅胶模块与所述第二面相对设置，所述第三硅胶模块与所述第三面相对设置，所述第四硅胶模块与所述第四面相对设置，所述第五硅胶模块与所述第五面相对设置，所述探针模块与所述第六面相对设置；所述固定台包括第一区域、第二区域和第三区域，所述第一区域、第二区域和第三区域连接并形成凹字形，所述凹字形的内凹处为所述测试位，所述探针模块固设于所述第一区域上，所述第一硅胶模块固设于所述第二区域上，所述第二硅胶模块固设于所述第三区域上；所述第三硅胶模块和第四硅胶模块均固设于所述第一移栽机构上，并且所述第三硅胶模块和第四硅胶模块相互垂直设置并形成l字形；所述测试机构还包括机架和第二移栽机构，所述第二移栽机构固设于所述机架上，所
述第五硅胶模块设于所述第二移栽机构上，所述第二移栽机构驱动所述第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近或远离所述电芯。6.根据权利要求5所述的测试机构，其特征在于，所述第一移栽机构包括承载台、固定座、无杆气缸；所述第三硅胶模块和第四硅胶模块固设于，所述承载台的底部突出形成一凸出部，所述无杆气缸固设于所述固定座上，所述无杆气缸的移动方向上包括所述测试位和上料位，所述凸出部套设于所述无杆气缸上，所述无杆气缸驱动所述凸出部，进而驱动所述承载台在所述测试位和上料位之间来回移动。7.根据权利要求5所述的测试机构，其特征在于，所述测试机构还包括压力测试模块；所述压力测试模块固设于所述第二移栽机构上，包括主杆、多个弹簧、顶板、底板、压力传感器；所述主杆和弹簧相对平行设置并且均设于所述顶板和底板之间，所述压力传感器设于所述主杆上，所述主杆的顶端与所述顶板固定连接，所述主杆的底部端面形成一圆弧凸出面，所述底板上与所述主杆的底部端面相对的一面上形成一圆弧凹陷面，所述圆弧凸出面与所述圆弧凹陷面相对设置并且具有相同的尺寸和形状，所述圆弧凸出面和圆弧凹陷面之间具有活动空间，所述第五硅胶模块固设于所述底板的另一面上；所述第二移栽机构在所述测试位的竖直方向上运动，进而带动所述压力测试模块和第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯的外表面，或者是带动所述压力测试模块和第五硅胶模块在所述测试位的竖直方向上远离所述电芯；所述第五硅胶模块压覆于所述电芯上，进而所述弹簧压缩，进而所述顶板和底板之间的间距缩小，进而所述圆弧凹陷面和圆弧凸出面吻合，进而所述底板对所述主杆产生压力，所述压力传感器检测所述压力。8.根据权利要求7所述的测试机构，其特征在于，所述压力测试模块还包括多个导向杆；各所述弹簧的内部均设有一所述导向杆，各所述弹簧沿着所述导向杆的纵长方向收缩或伸长，所述导向杆垂直设置于所述顶板和底板之间，所述导向杆的一端连接所述底板，另一端以一无油衬套与所述顶板连接。9.根据权利要求7所述的测试机构，其特征在于，所述第二移栽机构包括气缸、变速器、第一滑块、第二滑块、第三滑块、丝杆；所述气缸、变速器、丝杆依次连接设置，所述第一滑块、第二滑块、第三滑块依次套设于所述丝杆上，所述第一滑块和第三滑块固设于所述机架上，所述第二滑块固设于所述压力测试模块上；所述气缸经由所述变速器驱动所述丝杆转动，进而所述丝杆驱动所述第二滑块在所述测试位的竖直方向上运动，进而所述第二滑块驱动所述压力测试模块和第六硅胶模块在所述测试位的竖直方向上靠近并压覆于所述电芯的外表面上，或者是远离所述电芯。10.根据权利要求9所述的测试机构，其特征在于，所述第二移栽机构还包括导轨，第一背板、第二背板、第一导轨滑块、第二导轨滑块；所述导轨设于所述机架上，所述第一背板的一侧与所述顶板固定连接，所述第一背板的另一侧与所述第一导轨滑块固定连接，所述第二背板的一侧与所述底板固定连接，所述
第二背板的另一侧与所述第二导轨滑块固定连接，所述第一导轨滑块和第二导轨滑块均套设于所述导轨上并沿着所述导轨运动；所述第二硅胶模块、第三硅胶模块和探针模块上设有驱动装置；所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上设置的驱动装置分别驱动所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上的所述仿形硅胶靠近所述电芯进而各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，或者是驱动所述第二硅胶模块和第三硅胶模块上的所述仿形硅胶远离所述电芯进而各所述仿形硅胶与所述电芯的表面分离；所述探针模块上设置的驱动装置驱动所述探针靠近并接触所述电芯的正极极柱，或者是驱动所述探针远离所述电芯的正极极柱；所述测试机构还包括扫码模块，所述扫码模块采集所述电芯的信息。

技术总结

本申请提供了一种测试组件及测试机构，所述测试组件包括多个硅胶模块、探针模块、测试仪；各所述硅胶模块上均设有仿形硅胶，各所述仿形硅胶电性连接所述测试仪的负极；所述探针模块上设有探针，所述探针电性连接所述测试仪的正极；各所述硅胶模块围合设置，各所述仿形硅胶围合形成测试空间，所述测试空间中放置所述电芯，各所述仿形硅胶覆合于所述电芯的外表面上，所述探针接触所述电芯的正极极柱，所述测试仪释放电信号并形成电回路以检测所述电芯的表面电阻；所述测试机构，包括所述测试组件、固定台、第一移栽机构。本申请可检测电芯的表面电阻。表面电阻。表面电阻。