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一种液晶面板的点灯测试方法[发明专利]

专利名称：一种液晶面板的点灯测试方法专利类型：发明专利

发明人：吕俊发，王建峰，张芬，杨宣威

申请号：CN201210137767.X

申请日：20120507

公开号：CN102636891A

公开日：

20120815

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及一种液晶面板的点灯测试方法，包括以下步骤：S1：对液晶面板进行试压操作，两层玻璃之间的间隙变小，微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，CF共通电极和TFT配线之间发生短路；S2：对液晶面板进行点灯测试，将发生短路的液晶面板进行检查和拦截。此方法是在点灯测试之前先对液晶面板进行试压操作，即对液晶面板进行挤压，将两玻璃层之间的间隙变小，此种方式可使得面板中的微小金属异物颗粒分别与CF共通电极和TFT配线接通，使得CF共通电极和TFT配线之间发生短路，此种欠陷在点灯测试时可见，可将此处的不良液晶面板进行拦截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模组耗材的大量浪费。

申请人：华映视讯(吴江)有限公司

地址：215217 江苏省苏州市吴江经济开发区同里分区江兴东路88号

国籍：CN

代理机构：上海汉声知识产权代理有限公司

代理人：胡晶

本文发布于:2024-09-20 17:32:46，感谢您对本站的认可！

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