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检查电路、半导体存储元件、半导体装置以及连接检查方法[发明专利]

专利名称：检查电路、半导体存储元件、半导体装置以及连接检查方法

专利类型：发明专利

发明人：清水道昭

申请号：CN201810116715.1

申请日：20180206

公开号：CN108511026A

公开日：

20180907

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供一种即使在产生了将规定的功能设为有效的逻辑值侧的短路的情况下，也能够容易地检测该短路的检查电路、半导体存储装置、半导体装置以及连接检查方法。检查电路包含：输入向第一控制部(26)发送的试验信号的输入端子(CS)；输入向存储部写入的数据并且输出从存储部读出的数据的输入输出端子(DQ)；输入检查信号的第一检查部(24‑1)；被配置于输入端子(CS)与第一控制部(26)之间并且基于第一检查部(24‑1)的控制将试验信号转换为预先决定的逻辑的控制信号的第二检查部(24‑2)；以及被配置于输入输出端子(DQ)与第二控制部(28)之间并且基于第一检查部(24‑1)的控制将试验信号向第二控制部(28)发送的第三检查部(24‑3)。

申请人：拉碧斯半导体株式会社

地址：日本神奈川县

国籍：JP

代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司

本文发布于:2024-09-21 22:48:08，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/2/426715.html

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