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用容性测量检测不可访问的插针上的短路的方法和装置[发明专利]

专利名称：用容性测量检测不可访问的插针上的短路的方法和装置

专利类型：发明专利

发明人：埃迪·威廉姆森

申请号：CN200510135060.5

申请日：20051223

公开号：CN1851488A

公开日：

20061025

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明是一种使用容性耦合技术诊断集成电路器件的不可访问节点或非接触节点上的短路缺陷的方法和装置。根据本发明，交流(AC)信号发生器被连接，以向被测IC器件的可访问节点施加交流(AC)信号。优选地，被测IC器件的所有余下可访问节点接地。容性传感探测器的传感器板以信号耦合方式放置在集成电路器件上的感兴趣的不可访问节点的附近。如果在感兴趣的不可访问节点上存在信号，则其容性耦合到探测器的传感器板。测量设备通过容性传感探测器获得代表容性耦合到传感器板的电流量的测量值。基于测量值和/或从测量值导出的参数，可以推断被激励可访问节点和不可访问节点之间可能的短路缺陷的存在。

申请人：安捷伦科技有限公司

地址：美国加利福尼亚州

国籍：US

代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：王怡

本文发布于:2024-09-25 13:21:54，感谢您对本站的认可！

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