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针对GF-AIUS掩星探测基于查表的切高校正方法[发明专利]

专利名称：针对GF-AIUS掩星探测基于查表的切高校正方法专利类型：发明专利

发明人：李小英，王红梅，罗琪，曹西凤，刘双慧

申请号：CN202010266657.8

申请日：20200407

公开号：CN111398179A

公开日：

20200710

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及针对GF‑AIUS掩星探测基于查表的切高校正方法，包括以下步骤：获取初始数据，对初始数据进行处理得到一级数据，在GF5‑AIUS的探测光谱范围内，分析大气成份中的多种痕量气体的敏感性特征；通过敏感性及光谱特征的分析，在光谱范围基础上，选取包含N与O吸收的两个连续的光谱范围，利用正向模型ARTS，模拟两个连续光谱范围上的不同切高上的光谱透过率数据；通过计算不同切高上N波段与O波段实际的光谱透过率与模拟光谱透过率的最小方差，确定查表校正的最小半径范围；在选取的两个N波段与O波段连续的探测光谱范围内，分析不同切高上的光谱特征，利用查表切高校正方法对一级数据中的低层切高与高层切高分别进行校正，合并得到校正后的切高。

申请人：中国科学院空天信息创新研究院

地址：100101 北京市朝阳区大屯路甲20号北

国籍：CN

代理机构：北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：陈霁

本文发布于:2024-09-24 19:11:23，感谢您对本站的认可！

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