专利名称：多通道射频芯片测试装置以及测试方法专利类型：发明专利 发明人：李健均，王雪，彭恒，杨昆明，王日炎
申请号：CN202111404296.X
申请日：20211124
公开号：CN114355152A
公开日：
20220415
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供一种多通道射频芯片测试装置以及测试方法，该测试装置的信号输出单元、信号采集单元分别与信号处理单元、多通道射频芯片连接；信号处理单元通过多通道射频芯片的测试信息获取测试项目，根据测试项目排序控制信号输出单元向多通道射频芯片输出多路测试信号，接收信号采集单元采集的多通道射频芯片的输出信号，根据输出信号获取多通道射频芯片的并行测试结果，并在测试完成后记录所述并行测试结果并生成测试报告。本发明能够同时对多个通道进行并行测试，缩减了测试时间，测试效率高，并且不需要额外设置切换开关，简化了布线，降低了测试成本。 申请人：广州润芯信息技术有限公司
地址：510000 广东省广州市黄埔区科学城南翔二路23号B座6楼
国籍：CN
代理机构：广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人：郭昊辰
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
关于我们
投诉建议