发明专利位移传感器及其测量方法

发明专利：位移传感器及其测量方法

技术领域

本发明涉及传感器技术领域，特别是一种位移传感器及其测量方法。

背景技术

位移传感器是一种用于测量物体位置变化的装置，广泛应用于工业自动化、机器人技术、汽车制造等领域。现有的位移传感器通常采用电感式、电容式、光电式等原理，但这些传感器的测量精度和稳定性仍存在一定的问题。因此，开发一种高精度、高稳定性的位移传感器及其测量方法具有重要的实际意义。

发明内容

本发明提供了一种位移传感器及其测量方法，该传感器采用激光三角成像原理，具有高精度、高稳定性的优点。

1. 一种便于安装于自动工具锚的位移传感器，包括：外壳，其包括工具锚板、弹簧护板以及弹簧扣板，工具锚板上开设有第一连接孔，弹簧护板一端与工具锚板连接，另一端与弹簧扣板连接；激光器，设置于外壳内部，用于向待测物体表面方向垂直发射激光；光束透镜，设置于外壳内部，用于接收筛选激光器发射光线经待测物体表面漫反射的激光束；反射镜面，设置于外壳内部，用于反射传递光束透镜筛选的激光束至感光芯片；感光芯片，设置于外壳内部，用于接收反射镜面反射传递的激光束，并通过光束点亮芯片的像素位置来计算分析被测物体的位置信息。

2. 根据权利要求1所述的位移传感器，其中，所述外壳还包括固定板，固定板上设置有第二连接孔，第一连接孔和第二连接孔用于将位移传感器固定在自动工具锚上。

3. 根据权利要求1或2所述的位移传感器，其中，所述激光器为半导体激光器或光纤激光器。

4. 一种使用如权利要求1-3任一项所述的位移传感器的测量方法，包括以下步骤：

a. 将位移传感器固定在自动工具锚上；

b. 启动位移传感器，激光器向待测物体表面发射激光；

c. 待测物体表面漫反射的激光束经过光束透镜筛选后，由反射镜面反射至感光芯片；

d. 感光芯片接收反射镜面反射的激光束，通过光束点亮芯片的像素位置来计算分析被测物体的位置信息。

实施方式

具体实施方式参见附图1-3。

附图1为本发明位移传感器的结构示意图；

附图2为本发明位移传感器的外壳分解示意图；

附图3为本发明位移传感器的测量方法流程图。

具体实施方式参见附图1-3。在本发明的一个具体实施例中，位移传感器包括外壳1、激光器2、光束透镜3、反射镜面4和感光芯片5。外壳1包括工具锚板6、弹簧护板7和弹簧扣板8。

工具锚板6上开设有第一连接孔9。弹簧护板7一端与工具锚板6连接，另一端与弹簧扣板8连接。激光器2设置于外壳1内部，用于向待测物体表面方向垂直发射激光。光束透镜3设置于外壳1内部，用于接收筛选激光器2发射光线经待测物体表面漫反射的激光束。反射镜面4设置于外壳1内部，用于反射传递光束透镜3筛选的激光束至感光芯片5。感光芯片5设置于外壳1内部，用于接收反射镜面4反射传递的激光束，并通过光束点亮芯片的像素位置来计算分析被测物体的位置信息。在本实施例中，外壳1还包括固定板10，固定板上设置有第二连接孔11。第一连接孔9和第二连接孔11用于将位移传感器固定在自动工具锚上。在本实施例中，激光器2为半导体激光器或光纤激光器。在本实施例中，采用如权利要求1-3任一项所述的位移传感器进行测量，包括以下步骤：将位移传感器固定在自动工具锚上；启动位移传感器，激光器2向待测物体表面发射激光；待测物体表面漫反射的激光束经过光束透镜3筛选后，由反射镜面4反射至感光芯片5；感光芯片5接收反射镜面4反射的激光束，通过光束点亮芯片的像素位置来计算分析被测物体的位置信息。本发明提供的位移传感器及其测量方法具有高精度、高稳定性的优点，能够快速精确地对被测物体的位置进行测量。

尽管本发明已被描绘和描述为具体实施例，但显然可以在不脱离其精神和范围的情况下进行各种修改和改变。因此，本发明不应仅限于所描绘和描述的任何具体实施例。

本文发布于:2024-09-22 03:31:23，感谢您对本站的认可！

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