基于YOLOv5算法小样本数据集实现微波芯片缺陷检测方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 113506286 A (43)申请公布日 2021.10.15

(21)申请号 CN202110852074.8

(22)申请日 2021.07.27

(71)申请人西安电子科技大学

地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

(72)发明人王树龙陈栋梁杜林王国生刘钰马兰孙彪

(74)专利代理机构 61218 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人惠文轩

(51)Int.CI

G06T7/00(20170101)

G01N21/88(20060101)

G01N21/956(20060101)

G01R31/308(20060101)

G06K9/62(20060101)

G06N3/04(20060101)

G06N3/08(20060101)

G06T5/00(20060101)

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

基于YOLOv5算法小样本数据集实现微波芯片缺陷检测方法

(57)摘要

本发明属于人工智能和微波芯片技术领域，公开了一种基于YOLOv5算法小样本数据集实现微波芯片缺陷检测方法，对作为数据集的微波芯片进行图像预处理，具体预处理包括灰度转换、图像旋转矫正和去除背景噪声等操作。采集图像经过预处理后，再进行缺陷分类标注，将缺陷分类标注后的数据集分为训练集以及测试集。搭建YOLOv5网络结构，使用经过缺陷分类标注后的训练集对YOLOv5网络结构进行训练，通过反向传播算法调整网络模型权重参数，使用测试集对最终网络进行测试分析，结果表明经过放大处理的微波芯片表面，实现自动快速的缺陷检测以及定位，并达到了较高的准确率、召回率和mAP值。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2021-10-15	公开	公开
2022-04-15	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00专利申请号:2021108520748申请日:20210727	实质审查的生效