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一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置[发明专利]

专利名称：一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置专利类型：发明专利

发明人：郭永瑞，张娜娜，盛宏远

申请号：CN202210150744.6

申请日：20220218

公开号：CN114526893A

公开日：

20220524

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置，该方法包括：测量激光器的强度噪声，并从激光器的强度噪声谱线中获取激光器的弛豫振荡频率测量值；根据测量激光器的强度噪声时激光器的实际参数，利用激光器弛豫振荡频率的理论函数作函数曲线图；函数曲线图是以激光器激光晶体受激发射截面理论值为自变量，且以激光器的弛豫振荡频率理论值为因变量的函数曲线图；当弛豫振荡频率测量值等于弛豫振荡频率理论值时，所述函数曲线图中所述弛豫振荡频率测量值对应的横坐标的值，即为激光器的被测激光晶体在注入抽运功率该运转状态下实际的受激发射截面。本发明测量精准，适合稳定运转下全固态激光器激光晶体实际受激发射截面的测量。

申请人：重庆邮电大学

地址：400000 重庆市南岸区南山街道崇文路2号

国籍：CN

代理机构：成都行之专利代理事务所(普通合伙)

代理人：梁田

本文发布于:2024-09-23 19:17:27，感谢您对本站的认可！

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