一种宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法[发明专利]

专利名称:一种宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法专利类型:发明专利
发明人:史治国,陈剑锋,单国峰,高承醒
申请号:CN202010786193.3
申请日:20200807
公开号:CN112034417A
公开日:
20201204
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开了一种宽频带高精度测向天线阵列全方位遍历方法。该方法在环境中均匀布置的若干个天线阵列的面线阵,通过天线阵列中的单个线阵探测时,需用电子开关关闭其他面线阵以降低干扰,而后根据需要探测的信号频段的中心频率,由本地产生一个参考信号,根据天线接收的信号与本地参考信号进行比较相位差,在事先利用“暗室标定+现场校正”方式建立的样本表中查询以获得覆盖范围内的来波方向;通过依次遍历所有面线阵实现360°的全方位侦测测向;在现场可编程逻辑门阵列(FPGA)上部署该天线阵列,加快天线阵列的遍历速度,在实际应用时可实现多面线阵对多个频段的同时测向、同时查表。
申请人:浙江大学,浙江欧软低空防务技术有限公司
地址:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
国籍:CN
代理机构:杭州求是专利事务所有限公司
代理人:刘静

本文发布于:2024-09-22 02:03:14,感谢您对本站的认可!

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标签:天线   信号   遍历   专利   测向   现场   方法   面线
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