光学测量方法在手机跌落测试中的应用作者：徐劲澜 梁晋 赵鹏亮 张桁维 孟繁昌来源：《中国测试》2019年第01期 摘要：手机跌落试验主要用于检验手机质量，有限元分析模拟仿真方法能够帮助厂家在产品开发阶段优化手机结构，但不能对成品实物进行质量检验。针对上述间题，该文提出一种基于光学测量的手机跌落试验方法，采用双目立体视觉原理，利用摄影测量技术，提高数字图像相关法匹配精度，使用高速相机对手机跌落过程进行连续采集，提高系统标定精度后通过图像数据计算分析获取手机跌落过程中的全场位移及应变值。该文用华为荣耀4A手机前壳进行试验，成功获取其跌落过程中的三维全场变形数据，证明基于数字图像相关法手机跌落试验方法具有高精度、试验过程简便等优点，满足成品手机质量检测的需求。 关键词：光学测量;手机跌落试验;数字图像相关;全场应变
中图分类号：TP391 文献标志码：A 文章编号：1674-5124（2019）01-0034-06
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手机跌落试验是用于检验手机质量的标准试验，目前国内外均采用有限元分析模拟仿真的方法模拟手机跌落试验，即先用CAD三维建模软件建立手机模型，用ANSYS软件对模型进行前处理，最后使用如LS-DYNA一类的动态仿真软件完成仿真模拟试验，从而获取手机跌落碰撞过程中的应力云图、应变云图等数据[1-2]。这种方法广泛应用于产品开发阶段对产品手机进行结构耐撞性的分析，从而优化手机结构，提高产品的可靠性，降低产品开发成本，提高产品的市场竞争能力。由于基于ANSYS软件的手机跌落试验使用软件建模模型进行试验，其建模根据试验侧重点有一定简化，故所得模拟仿真结果与实际手机碰撞结果仍有一定区别，故其方法虽然对结构的设计与改善有一定指导作用，但无法更加精确地完成成品手机质量的检验，为了准确检验手机的质量，还需要对实物手机进行手机跌落试验。
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