氧空位
Dpio(或称DPiO)是一种能量位点,特指“氧空位”(English: oxygen vacancy)。氧空位是指氧原子在晶体或材料中的位置上缺失了,导致形成一个能量位点。这种缺陷可以通过掺杂、退火等方法形成,对材料的电学、磁学、光学等性质具有重要影响。氧空位在各种材料中都存在,例如氧化物半导体、氧化物电解质、金属氧化物等。氧空位可以在晶体结构中存在,也可以形成在材料表面上。在固体氧化物燃料电池(solid oxide fuel cell,SOFC)中,氧空位是电导的关键因素之一,通过调控和控制氧空位的浓度,可以提高材料的离子导电性能。 此外,氧空位还可以影响材料的光学性质和光催化活性,例如,通过在氧空位上占据或释放电荷,可以改变材料的光吸收和发射性质,从而实现光催化反应或光电化学反应。
总之,氧空位是材料中晶格缺陷的一种形式,具有重要的物理、化学和材料科学意义,对材料的性能具有显著影响。