液晶显示面板的检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种液晶显示面板的检测装置。

背景技术：

2.薄膜晶体管液晶显示器(thin film transistor-liquid crystal display，tft-lcd)是液晶显示器的一种，它具有低能耗、高亮度、高对比度、高响应速度、环保等特点，被广泛应用于电视、平板显示器及投影仪上。彩膜基板是tft-lcd中的重要膜层，根据滤光原理使液晶显示器实现彩输出。现有的tft-lcd中的彩膜基板表面镀有透明的导电膜，在测试过程中，需要对此导电膜进行检测，避免缺陷导致产品质量下降。
3.现有技术中往往在彩膜基板的出厂阶段对导电膜进行检测，具体来说，工厂生产的是可切割出若干彩膜基板的大板，在出场阶段，对大板的四角面电阻进行测量，即可获知此板的导电膜的质量好坏；此外，还可以进行抽检，对样品切割后用扫描电子显微镜测量膜厚度。但是，上述两种方法均无法实现对每个tft-lcd中的彩膜基板实施导电膜检测，因而对改善产品质量的作用有限。
4.因此，需要一种能够对每个tft-lcd中的彩膜基板的导电膜实现阻抗检测的检测装置，以改善产品质量。

技术实现要素：

5.鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种液晶显示面板的检测装置，从而能够完成对每个液晶显示面板中彩膜基板表面的导电膜阻抗测量。
6.根据本实用新型的一方面，提供一种液晶显示面板的检测装置，用于检测液晶显示面板中的彩膜基板表面的导电膜的电阻以及画面检测，其特征在于，包括：立柱；基座，所述基座设置于所述立柱上并沿所述立柱在竖直方向上运动，所述基座包括层叠设置的第一基座和第二基座，所述第一基座的投影面积大于所述第二基座的投影面积，且所述第一基座设于所述第二基座远离所述液晶显示面板的一侧；电阻探针，安装在所述第一基座朝向所述液晶显示面板的一侧上，所述电阻探针通过所述第一基座接触所述导电膜上的电阻测试点，所述电阻探针被配置为探测所述液晶显示面板中彩膜基板表面的导电膜的电阻；画面测试探针，所述画面测试探针安装在所述第二基座朝向所述液晶显示面板的一侧上，并沿着远离或靠近所述立柱的方向直线滑动，所述画面测试探针通过所述第二基座接触所述液晶显示面板中薄膜晶体管阵列基板上的测试焊盘。
7.可选地，所述检测装置还包括阻抗测试电表，所述阻抗测试电表通过所述基座与所述电阻探针电连接。
8.可选地，所述液晶显示面板还包括薄膜晶体管阵列基板，所述彩膜基板与所述薄膜晶体管阵列基板层叠设置，所述导电膜设在所述彩膜基板远离所述薄膜晶体管阵列基板的一侧。
9.可选地，所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面包括第一区域和第二区
域，所述第一区域的面积与所述彩膜基板的面积相等，所述彩膜基板设在所述第一区域上，所述第二区域与所述第一区域并列设置。
10.可选地，所述薄膜晶体管阵列基板的测试焊盘设在所述第二区域。
11.可选地，所述电阻探针与所述画面测试探针设在不同的高度，高度差大于所述彩膜基板的厚度。
12.可选地，所述电阻探针与所述画面测试探针设为可伸缩的。
13.可选地，所述电阻测试点在所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面上的投影位于所述第一区域，所述投影与所述测试焊盘的连接线与所述第一区域和所述第二区域的交界线垂直。
14.可选地，所述电阻测试点在所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面上的投影与所述测试焊盘之间的距离小于等于3mm。
15.可选地，所述电阻测试点设置在所述液晶显示面板的可视区外。
16.本实用新型提供的液晶显示面板的检测装置，通过在原有的画面检测装置上增加阻抗检测功能，使画面检测和彩膜基板的导电膜阻抗测试能够同时进行，在不增加测试步骤的前提下实现了对每个彩膜基板的导电膜阻抗检测，即在不明显提高生产成本的情况下提高了液晶显示面板的质量。
附图说明
17.通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
18.图1示出了根据现有技术的彩膜基板的阻抗测试示意图；
19.图2示出了根据本实用新型实施例的待测面板的立体结构示意图；
20.图3示出了根据本实用新型实施例的待测面板的俯视图；
21.图4示出了根据本实用新型实施例的液晶显示面板的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
22.以下将参照附图更详细地描述本实用新型的各种实施例。在各个附中，相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
23.同时，在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。
24.在下文中描述了本发明的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本发明。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本发明。
25.此外，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意
在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
26.图1示出了根据现有技术的彩膜基板的阻抗测试示意图，大板10可以切割出若干彩膜基板100，在现有的彩膜基板的制造方法中，通常采用磁控溅射等方法在大板10的表面涂覆透明导电膜，该导电膜例如可以是ito(indium-tin oxide，氧化铟锡)，用作屏蔽层以避免外界电场对于液晶显示装置的干扰。为了确保产品质量，避免导电膜上存在由于静电释放或意外划伤等造成的缺陷，现有技术中通常采用四角面电阻测量仪测试大板10表面的导电膜的四角面电阻，如图所示，大板10的四个角附近设有测试点11，探针与四个测试点11接触以获取面电阻，再结合扫描电子显微镜测得的膜厚即可判定导电膜是否存在缺陷。然而，这种方法不仅测量精度有限，还无法定位缺陷位置，难以完成对每一个彩膜基板进行测量的需求。
27.为了解决上述问题，提高产品质量，本实用新型提供了一种新的液晶显示面板的测量装置，能够在不提高成本的同时实现对每个彩膜基板的测量。
28.图2示出了本实用新型的测量装置的待测面板的立体结构示意图，如图所示，彩膜基板100和薄膜晶体管阵列基板200叠层设置。应当理解的是，在液晶显示面板中，彩膜基板100和薄膜晶体管阵列基板200之间还设有其他叠层，例如液晶层、配向膜层等，图中未示出；类似地，图中的导电膜110与彩膜基板100之间有空隙，本领域技术人员应当理解，在实际产品中，二者紧贴设置。
29.本实用新型的测量装置的待测面板中，薄膜晶体管阵列基板200朝向彩膜基板100的面包括第一区域和第二区域(图中未示出)，第二区域与所述第一区域并列设置。彩膜基板100的面积小于薄膜晶体管阵列基板200，薄膜晶体管阵列基板200的第一区域的面积与所述彩膜基板100的面积相等。如前所述，彩膜基板100和薄膜晶体管阵列基板200叠层设置，,彩膜基板100覆盖第一区域，彩膜基板100未覆盖第二区域。第二区域设有薄膜晶体管阵列基板200的测试焊盘210，用于与画面测试探针电连接以进行画面测试；导电膜110上设有若干电阻测试点111，用于与电阻探针电连接以进行阻抗测试。应当理解的是，测试焊盘210由导电金属制成，与薄膜晶体管阵列基板200中的晶体管电连接；电阻测试点111为导电膜110的一个区域，与其周围的导电膜一体形成，在一些实施例中，导电膜110上设有标记以标明电阻测试点111的位置，优选地，设在导电膜上靠近测试焊盘210的一侧。
30.在一些实施例中，电阻测试点111的数量为两个，且两测试点分别设在导电膜的两端，本实用新型的测试装置测试这两点之间的电阻以判定导电膜上是否有缺陷，具体来说，当测试点位置固定时，若测得的电阻处于一预设范围，则判定为合格，否则认为导电膜上存在缺陷。在另一些实施例中，采用测导电膜的四角面电阻的方式以获取更精确的结果，相应地，测试点设为四个，分别设在导电膜的四个角附近。
31.图3示出了根据本实用新型实施例的待测面板的俯视图，如图所示，在图示的实施例中，测试焊盘210设在薄膜晶体管阵列基板200上未被彩膜基板覆盖的第二区域，画面检测信号通过测试焊盘210进入面内，具体来说，画面检测信号用于搭配背光将面板点亮，控制薄膜晶体管阵列基板200显示黑/白/灰阶/红/绿/蓝/分屏等画面，以检测面板是否有显
示异常。电阻测试点111分别在面板的左右两侧与测试焊盘210对应设置，具体来说，电阻测试点111设在测试焊盘210上方，电阻测试点111在薄膜晶体管阵列基板200朝向彩膜基板100的面上的投影位于第一区域，该投影与测试焊盘210的连接线与第一区域和第二区域的交界线垂直。进一步地，电阻测试点111在薄膜晶体管阵列基板200朝向彩膜基板100的面上的投影与测试焊盘210在垂直方向上的距离小于3mm。
32.在一些实施例中，电阻测试点111设在液晶显示面板的可视区外，如图3所示，可视区112设在彩膜基板的中心，其面积小于彩膜基板的面积。电阻测试点111设在可视区外，避免测试过程中对导电膜造成影响，进而影响最终的液晶显示面板的显示效果。
33.图4示出了根据本实用新型实施例的液晶显示面板的检测装置的结构示意图，如图所示，本实用新型的检测装置例如包括基座310和立柱320，基座310设置于立柱320上并沿立柱320在竖直方向上移动，基座310包括层叠设置的第一基座314和第二基座315，第一基座314的垂直投影面积大于第二基座315的垂直投影面积，且第一基座314设于第二基座315远离液晶显示面板的一侧，第一基座314朝向液晶显示面板的一侧设有电阻探针312，第二基座315朝向液晶显示面板的一侧设有画面测试探针311，且面测试探针311能沿着远离或靠近所述立柱的方向直线滑动以适应多尺寸的显示面板，提高检测装置的兼容性。画面测试探针311和电阻探针312能够随基座310上下移动以分别与测试焊盘210和电阻测试点111电连接，其中，画面测试探针311用于通过测试焊盘210向薄膜晶体管阵列基板200传递画面检测信号，电阻探针312用于检测导电膜110的电阻，具体来说，基座310还与阻抗测试电表313连接，阻抗测试电表313能够实现阻抗记录和阻抗异常报警，阻抗测试电表313通过可控块连接至电阻探针312，用于探测导电膜110的电阻。应当理解的是，画面测试探针311和电阻探针312的位置与数量均与上述测试焊盘210与电阻测试点111对应，例如当电阻测试点111的数量为两个是，电阻探针312也设有两个；当采用四角面测电阻方式测量导电膜110的电阻时，电阻探针312设为四个。
34.在一些实施例中，电阻探针312高于画面测试探针311设置，应当理解的是，由于液晶显示装置中的各膜层均有一定厚度，当待测面板水平放置时，测试焊盘210与电阻测试点111在竖直方向上存在一高度差，此高度差与画面测试探针311和电阻探针312之间的高度差相对应，使实用新型的检测装置能够同时对待测面板进行画面检测和彩膜基板的导电膜阻抗测试。进一步地，为了适应不同产品的膜厚度之间的差别，画面测试探针311和电阻探针312被设置为可伸缩的，以保证在不对待测面板造成影响的情况下实现同时测量。
35.依照本实用新型的实施例如上文，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型的保护范围应当以本实用新型权利要求及其等效物所界定的范围为准。

技术特征：

1.一种液晶显示面板的检测装置，其特征在于，包括：立柱；基座，所述基座设置于所述立柱上并沿所述立柱在竖直方向上运动，所述基座包括层叠设置的第一基座和第二基座，所述第一基座的垂直投影面积大于所述第二基座的垂直投影面积，且所述第一基座设于所述第二基座远离所述液晶显示面板的一侧；电阻探针，安装在所述第一基座朝向所述液晶显示面板的一侧上，所述电阻探针通过所述第一基座接触所述液晶显示面板中彩膜基板表面的导电膜上的电阻测试点；画面测试探针，所述画面测试探针安装在所述第二基座朝向所述液晶显示面板的一侧上，并沿着远离或靠近所述立柱的方向直线滑动，所述画面测试探针通过所述第二基座接触所述液晶显示面板中薄膜晶体管阵列基板上的测试焊盘。2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，还包括阻抗测试电表，所述阻抗测试电表通过所述基座与所述电阻探针电连接。3.根据权利要求1所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述彩膜基板与所述薄膜晶体管阵列基板层叠设置，所述导电膜设在所述彩膜基板远离所述薄膜晶体管阵列基板的一侧。4.根据权利要求3所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面包括第一区域和第二区域，所述第一区域的面积与所述彩膜基板的面积相等，所述彩膜基板设在所述第一区域上，所述第二区域与所述第一区域并列设置。5.根据权利要求4所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述薄膜晶体管阵列基板的测试焊盘设在所述第二区域。6.根据权利要求5所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述电阻探针与所述画面测试探针设在不同的高度，高度差大于所述彩膜基板的厚度。7.根据权利要求5所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述电阻探针与所述画面测试探针设为可伸缩的。8.根据权利要求5所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述电阻测试点在所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面上的投影位于所述第一区域，所述投影与所述测试焊盘的连接线与所述第一区域和所述第二区域的交界线垂直。9.根据权利要求8所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述电阻测试点在所述薄膜晶体管阵列基板朝向所述彩膜基板的面上的投影与所述测试焊盘之间的距离小于等于3mm。10.根据权利要求8所述的液晶显示面板的检测装置，其特征在于，所述电阻测试点设置在所述液晶显示面板的可视区外。

技术总结

本实用新型公开了一种液晶显示面板的检测装置，用于检测液晶显示面板中的彩膜基板表面的导电膜的电阻，包括：立柱、可沿所述立柱在竖直方向上运动的基座与电阻探针，所述电阻探针安装在所述基座上，所述基座控制所述电阻探针接触所述导电膜上的电阻测试点，用于探测所述导电膜的电阻。进一步地，还设有画面测试探针，用于液晶显示面板的画面检测。本实用新型的检测装置通过设置电阻探针和画面测试探针，不仅能实现对每个液晶显示面板中的彩膜基板的电阻测量，而且将彩膜基板的电阻测量与画面检测同时进行，在未提高生产成本的同时提高了产品质量。产品质量。产品质量。