基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化

(19)中华人民共和国国家知识产权局

阵列天线	(12)发明专利说明书
阵列天线		(10)申请公布号 CN 114144779 A (43)申请公布日 2022.03.04

(21)申请号 CN202080053448.3

(22)申请日 2020.06.12

(71)申请人赛普拉斯半导体公司

地址美国加利福尼亚州

(72)发明人 A·史密斯 K·乌内 V·西米莱斯基 Z·张

(74)专利代理机构 72002 永新专利商标代理有限公司

代理人刘瑜

(51)Int.CI

G06F17/18(20060101)

G06K9/62(20220101)

G06N3/02(20060101)

G06N3/08(20060101)

G06N20/00(20190101)

G01S11/04(20060101)

H04B17/391(20150101)

H01Q21/00(20060101)

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

基于机器学习的天线阵列验证、原型设计和优化

(57)摘要

估计天线阵列的角分辨率的示例方法包括：接收用于天线阵列所包括的多个天线元件中的每个天线元件的射频(RF)信号的幅度和相位的多个值；通过机器学习模型执行特征提取操作，以将幅度和相位的多个值变换为降维空间中的多个数据点；通过机器学习模型将多个数据点聚类到多个聚类中；并且基于聚类的数据点来计算天线阵列的角分辨率值。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-03-04	公开	国际专利申请公布
2022-08-09	实质审查的生效IPC(主分类):G06F17/18专利申请号:2020800534483申请日:20200612	实质审查的生效