概要
测量LED的绝对光谱强度及颜的配置如下所示。
在进行LED测量时我们可以准确测定它的一些参数，如总光通量、坐标、温值、主波长、中心波长,以及它们的空间光强分布。 LED测量一般采用两种方法：光度测量和辐射度测量。
光度测量仅仅局限于可见光波段，如人眼的响应。而辐射度测量则不受人眼的限制。两种方法都可以表述LED的辐射功率和发光强度。辐射功率是指LED在任何方向发射的所有功率（光通量），单位是流明或瓦。而发光强度是指向观察者方向的每单位立体角内照射到物体上的光通量，经常认为是沿着LED的轴线方向，单位是坎德拉。 因为LED发光面独有的外形尺寸，导致其发光很难均匀化，测量标准至今没有很好地被规范。所以仔细考虑LED测试设备的设计和使用对准确完成LED的测试至关重要。推荐使用USB4000或者USB2000+光谱仪，配备25μm狭缝，#2光栅（350-1000nm）以及一个L2探测器聚光透镜，用以增加聚光效率和减少杂散光。OFLV-350-1000消二级衍射滤光片屏
蔽了二级和三级衍射。该光学平台的配置最大程度地优化了系统的灵敏度，对于光学辐射测量来说，积分球是一种很简单的元件。积分球的内表面具有完美的散射性，光线在其内表面发生均匀反射。辐射光在内表面上经过多次反射后变得十分均匀，导致在球壁上任何一点的光辐射度都相同。通过使用积分球减少光损失—这个配置适合大多数LED测量应用。（也可以使用一个CC-3-UV余弦校正器和光纤来收集LED信号。）
注:杂散光是光学系统中所有非正常传输光的总称, 是错误波长（非对应信号光波长）的光辐射照射在探测器象元上所产生的信号。它的来源是光学元件制造误差，光学和机械零件表面的漫反射和非光学元件产生的反射，光不同衍射级次间的重叠。杂散光是分析样品的非吸收光，对光学系统性能的影响因系统不同而变化,将给分析结果带来一定的误差。在紫外的短波区域光源强度和检测器的灵敏度均明显减弱，杂散光的影响更不能忽视。把光谱仪安装在光密封的外壳内可以有效地消除周围环境带来的杂散光。当光谱仪工作在探测极限时（微弱光探测），则来自于光学平台、光栅、聚焦镜的杂散光强度就决定了光谱仪的最终探测极限。大多数光栅都是全息型光栅，杂散光很低。杂散光的测试方法是用激光束照射到光谱仪上，然后测量远离激光波长处象元的光强。另一种方法是用卤钨灯作为光源并配合长通或带通滤光片进行测试。
二级衍射：对于低线对数光栅（宽可测波长范围）来说，往往会发生光栅的二级衍射光之间的重叠。这些高级次衍射光在大多数场合可以忽略不计，但在某些场合下则必须考虑。解决的方法就是把信号光限制在不可能出现级次重叠的光谱区。具体的方法可以通过在光谱仪入口的 SMA 接口处安装一个长通滤光片或在探测器前面的保护窗镜上镀特殊膜层来实现。该保护窗所镀的膜层通常是一个长通滤光片（ 590nm ）或两个长通滤光片（ 350nm 和 550nm ），取决于所选择的光栅型号及其光谱范围。
取样光学原件的工作原理
LED被安装在符合NIST标准的 LED-PS-NIST 电源里面，它为LED提供了白背景，同时可控制驱动电流来调节LED输出功率。FOIS-1积分球放置在LED-PS-NIST上，用来收集LED的发射光。附带的光纤从LED收集光能，并传输给光谱仪。通过将LED发射光与标准辐射校正光源LS-1-CAL-INT进行对比，可以确定LED的功率及颜，LS-1-CAL-INT校正光源可直接插入积分球样品口。OOIIrrad-C 辐射和颜测量软件可计算出主波波长、中心波长和质心波长，以及彩空间参数，例如X,Y,Z 和L*, a*, b*。
LED 测量的典型配置清单
1. USB4000 或USB2000+ 即插即用光谱仪 |
#2光栅, 波长范围350-1000 nm |
25 μm 狭缝作为入射孔径 |
L2 探测器聚光透镜 |
OFLV-350-1000 消除衍射滤光片 |
2. LS-1-CAL-INT 卤钨辐射 |
3. LED-PS LED 电源 |
4. FOIS-1 用于发射光测量的积分球 |
5. QP400-2-VIS-NIR 优等光纤 |
6. OOIIrrad-C 辐射和颜测量软件 |
卤钨灯光谱7. ASP一年服务包 |
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表1LED测量系统典型配置
LED 测量的软件操作界面
LED颜测量
CIE1931－XYZ度系统
颜感觉是由于光辐射源的或被物体反射的光辐射作用于人眼的结果。因此，颜不仅取决于光刺激，而且取决于人眼的视觉特性。关于颜的测量和标准应该符合人眼的观测结果。但是，人眼的颜特性对于不同的观测者或多或少会有差异，因此要求根据大量的观测者的颜视觉实验，确定一组为匹配等能光谱的三原数据，?quot;标准度观测者光谱三刺激值"，以此代表人眼的平均颜视觉特性，用于度学的测量和计算。
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