集成运放参数测试仪设计报告

集成运放参数测试仪
摘要:本集成运放参数测试仪以MSC-51单片机为核心,由被测电路、信号源、0809A/D转换器、液晶显示器、键盘等组成。采用DDS芯片AD9835产生40kHz~4MHz扫频信号和5Hz的输入信号,它能对LM358及与之引脚兼容的其他集成运放(例如LM353、LM741)的基本参数VIO、IIO、AVD、KCMR及BWG进行测试和数字显示。
关键字:集成运放;单片机;DDS 
一、系统方案设计
1.方案论证与选择
(1)信号源部分
方案一:利用函数发生器,可产生三角波、方波、正弦波。通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度,但采用模拟器件由于元件分散性太大,即使用单片函数发生器,参数也与外部元件有关,外接电阻电容对参数影响很大,因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差。
方案二:采用锁相式频率合成方案。锁相式频率合成是将一个高稳定度和高精度的标准频率经过运算,产生同样稳定度和精确度的大量离散频率的技术,他在一定程度上满足了既要频率稳定精确,又要在大范围内变化的矛盾。但其波形幅度稳定度较差,在低频内波形不理想。
方案三:采用直接数字频率合成(DDS)技术。由于DDS采用全数字方式实现频率合成,直接对参考正弦波时钟进行抽样和数字化,然后通过数字计算技术进行频率合成,因此具有模拟频率合成技术无法比拟的优点。DDS不仅频率转换速率快、频率分辨率高、相位噪声低、输出相位可连续变化,而且易编程,体积小、功耗低。DDS直接频率合成器件的诸多优点使其逐渐成为未来信号源发展方向。方案拟采用DDS专用集成芯片AD9835。它的串行控制方式,使电路简单、编程方便;内部有一个32位相位累加器,用于存放频率控制字,可实现1Hz的频率调节。
我们需要5Hz的单一稳定频率,要求其频率,幅度稳定。综合考虑,我们采用方案三,实现了高精度,高稳定度的5Hz测试信号源。   
(2)信号采集模块
方案一:用AD736 RMS真有效值转换芯片,AD736的响应频率在0~10KHZ,采用该器件只需将被测的信号加到它的输入端上,就可以得到它的有效值,无需软件处理,测试非常的方便。但是我们在调试中现在AD736 在响应低频的时候不是很稳定,这样对整个系统会带来不稳定。因此我们没有选用这个方案。
方案二:采用A/D转换,将模拟信号数字化,然后进行数据处理。
由于ADC0809运用起来非常的方便,转换精度也比较高,因此我们采用了方案二。
2.系统方案描述   
该系统包括软件和硬件两个方面,程序被下载到单片机中,自动进行一系列测试工作,其整体系统原理框图如图1.1所示。
图1.1  整体系统原理框图
二、硬件电路设计与分析
1、VIO和IIO电参数的测试
    根据GB3442-82标准,直流参数VIO、IIO电路原理图如图2.1所示。
图2.1  VIO、IIO测试原理图
(1)输入失调电压VIO
由于运放电路参数的不对称,使得两个输入端都接地时输出电压不为零,称之为放大器的失调。为使输出电压回到零点,必须在输入端加一个纠偏电压来补偿这种失调,这个纠偏电压就叫运算放大器的输入失调电压VIO。因此,VIO的定义为使输出电压为零时,在两个输入端之间加的直流补偿电压。输入失调电压的测量原理如图2.1所示,此时应K1、K2闭合,测出E点的电压VE,则输入失调电压
                                    (1)
(2)输入失调电流IIO
IIO的定义为补偿失调电压后,使输出电压为零时,流入运算放大器两输入端的电流差值。测试原理仍用图2.1此时K1、K2断开,测E点的电压VE,则输入失调电流
                                        (2)
2、AVD和KCMR电参数的测试
    根据GB3442-82标准,交流参数AVD、KCMR电路原理图如图2.2所示。
图2.2  AVD、KCMR测试原理图
(1)差模开环增益AVD 
开环电压增益是指放大器在无反馈时的差模电压增益,其数值等于输出电压的变化量ΔUo与输入电压的变化量ΔUI之比。由于Avo很大,输入信号很小,而且输入电压与输出电压之间还存在相位差,很容易引起较大的测试误差,因此在测试开环电压增益时都采用交流开环、直流闭环的方法。测试原理如图3.2所示,将S1拨向地线,S2拨向信号源VS,取Cf1=0.47uF,Cf2=2200pF,测出E点电压VE,则交流差模开环增益
                                      (3)
(2)共模抑制比KCMR
    共模抑制比定义为差模电压增益AVD与共模电压增益AVC之比。KCMR的大小不仅与频率有关,还与输入信号大小和波形有关,因此测量频率不宜太高,信号不宜过大。其测试原理如图3.2所示,将S1拨向信号源VS,S2拨向地线,Cf1取4个0.47uF电容串联,Cf2=1000pF,测出E点电压VE,则共模抑制比
                                (4)
三、软件程序设计
在主程序中,主要根据按键做相应的处理,主程序流程图如图3.1所示。
图3.1  主程序流程图
四、数据分析与测试
(1)测试VIO、IIO、AVD、KCMR的数据见表4.1。测量值与标准值的比较如表4.2所示。
表4.1  测试VIO、IIO、AVD、KCMR的数据
次数
测量值
计算值
直流参数
交流参数
直流参数
交流参数
VE/V
VE/V
VE/V
VE/V
VIO/mV
IIO/nA
AVD/dB
KCMR/dB
1
1.54
4.03
10.80
2.00
3.27
5.28
53.85
68.50
2
1.60
4.16
10.93
2.12
3.40
5.43
53.75频率控制字
68.00
3
1.58
4.09
10.55
2.07
3.35
5.32
54.06
68.20
表4.2  测量值与标准值的比较
测 试 芯 片
测 量 值
标 准 值
测量误差
VIO/mV
3.34
3.25
2.77%
IIO/nA
5.34
5.25
1.71%
AVD/dB
53.89
50
+3.89dB
KCMR/dB
68.23
70
-1.77dB
(2)信号源的输出频率范围及输出电压有效值见表4.3。
表4.3  信号源的输出
标准频率/Hz
实测频率/Hz
误差/(%)
有效值/V
1
0.999
0.01
2.1
100
99.9
0.1
2.1
1k
0.994k
0.6
2.0
10k
9.98k
0.2
2.0
100k
100 k
0
1.8
1M
1M
0
1.9
4M
4M
0
1.8

本文发布于:2024-09-21 18:31:26,感谢您对本站的认可!

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