微波暗室静区性能测量及影响因素分析作者：白昀初来源：《物联网技术》2019年第05期 镀层厚度检测 摘 要：在天线、雷达等无线通信产品和电子设备的测试中，微波暗室是一个理想的场所，在民用、军事及专项工程领域得到了广泛应用，如何评估暗室的静区性能也变得愈发重要。基于测量静区反射电平的自由空间电压驻波比（VSWR法），给出了测量原理和具体的测量过程，以及测量系统的布置方案，并通过测量实例进行验证。结合实际测量中出现的问题，对可能影响测量结果的因素和需要注意的问题进行了分析，并提出了相应的解决方案，对微波暗室的日常使用维护和微波暗室性能测量系统的组建具有一定的参考价值。
关键词：微波暗室;静区反射电平;VSWR法;影响因素;无线通信;性能测量
高增益天线 中图分类号：古代蹴鞠用什么做的TP39;TN98 文献标识码：A 文章编号：2095-1302（2019）05-00-02
0 引 言
静区指暗室内电场均匀性满足规范要求的空间区域，评价一个暗室静区的性能指标是否合乎要求，主要参考指标为反射电平。静区反射电平的现行测量方法主要包括两种，即VSWR法与天线方向图比较法申智惠[1-2]。在实际测量时，优先选用VSWR法。对于微波暗室的
静区反射电平的测量结果，目前尚未有相关标准和规范能对其进行评价，而且在实际测量中，微波暗室的静区性能会受到暗室环境和测量系统内产生的误差等因素影响，无法对微波暗室的静区性能进行准确评价。
1 静区反射电平测量过程及测试实例
微波暗室性能测量系统如图1所示，可按具体功能划分为如下三部分：
（1）信号发射部分由发射天线、转台及升降杆，信号源组成;
（2）信号接收部分由接收天线，转台及扫描架，频谱仪组成垃圾打捞船;
网络设备管理（3）控制部分包括程控计算机，扫描架控制器及射频线缆、网线等。
信号源的信号经发射天线发射后，通过计算机对接收天线转台进行控制，在频谱仪上实时采集接收信号电平参数，完成测试数据的统计处理及结果析。
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