光耦失效的几种常见原因及分析

光耦失效的几种常见原因及分析
金属导电膜作者:王小龙 冯勇雄电阻加热炉
来源:《河南科技》2019年第07期
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        摘 要:本文首先總结了光耦失效的几种模式,然后基于线性光耦的工作原理、制程,出光耦失效的原因,并阐述了在光耦生产过程、光耦应用等环节如何进行调查分析,以期为相关学者的研究提供参考。
        关键词:光耦;失效;封装;金线绑定;过电压击穿
        中图分类号:TN36 文献标识码:A 文章编号:1003-5168(2019)07-0063-03
        Abstract: Firstly, several modes of photo coupler failure were summarized. Then, based on the working principle and process of linear photo coupler, the causes of photo coupler failure were found out, and how to conduct investigation and analysis in the process of photo coupler production and application of photo coupler were elaborated, in order to provide reference for the research of relevant scholars.
实验室分析天平        Keywords: photo coupler;failure;packaging;gold wire binding;overvoltage breakdown
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        1 光电耦合器结构及原理
        光电耦合器(Photo coupler)简称光耦,其是以光为媒介来传输电信号的器件,通常把发光器(发光二极管LED)与受光器(光敏管、光敏电阻)封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线,受光器接受光线之后就产生光电流,从输出端流出,从而实现电-光-电转换。

本文发布于:2024-09-24 00:22:37,感谢您对本站的认可!

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标签:发光   原理   光线   电信号   分析   封装   进行
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