镀层厚度测试

按摩脚盆
目的:
检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性
涂/镀层产品来料厚度检验
方法:
截面法(仲裁方法)
X射线荧光膜厚法
依据标准:
隧道隔音降噪施工截面法:GB/T 6462-2005,ASTM B 487-85(2002), ASTM B748-1990(2010)
X射线荧光膜厚法:ASTM B 568-98,GB/T 16921-2005,ISO 3497
典型图片:
酒炮
金相显微镜测量镀层厚度
SEM测量镀层厚度
链接:
一、截面法之显微镜测试
二、截面法之SEM测试
三、X射线荧光膜厚测试
链接一:截面法之显微镜测试
镀层厚度测量的最高倍数1000X,最低可测试至0.8µm
大圆针织机the Maximum magnification of the optical microscope is 1000X, the size measured can be as low as 0.8μm
硬质合金丝锥
铁基体上镀锌层厚度测量
Zn layer thickness measurement on iron substrate
渗碳层深度测量
The depth measurement of carburizing layer
漆膜层厚度测量

链接二:截面法之SEM测试
多层镀层厚度测量
链接三:X射线荧光膜厚测试
X-RAY荧光测厚仪X-Ray fluorescence thickness tester
具体可针对如Sn/Fe(基材)、Zn/Cu(基材)、Ni/Cu汽车智能防盗系统(基材)、Cr/Ni/Fe(基材)、 Au/Ni/Cu(基材)等数十种电镀工艺镀层进行厚度测量,具有测量精度高、简便快捷、无损的优点,特别是对微薄镀层厚度(一般指小于0.2微米)测量效果较佳。
X-Ray fluorescence thickness tester, being highly accurate, fast and easy-to-operate, non-destructive, is mainly used for the thickness measurements of plating layers, such as Sn/Fe (substrate), Zn/Cu (substrate), Ni/Cu (substrate), Cr/Ni/Fe(substrate) and Au/Ni/Cu (substrate). Especially good for the thickness measurement of extra-thin coatings(generally less than 0.2 um).
典型样品:
LED引脚支架
连接器引脚

本文发布于:2024-09-23 16:19:46,感谢您对本站的认可!

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