单片机输出功能修调方法与流程

1.本发明涉及单片机测试技术领域，尤其涉及单片机输出功能修调方法。

背景技术：

2.在目前的单片机技术领域，由于客户对单片机的使用要求存在各种差异，因此单片机的输出功能无法固定，也就意味着需要按照客户需求的目标值用测试系统对单片机进行输出功能修调测试，然而输出功能修调需要从几十或几百个修调值中，选取出一个满足目标值范围的修调值并写单片机；为了实现上述要求，需要在测试系统中将若干修调值依次代入单片机中，直到单片机的输出功能满足客户需求的目标值。
3.上述测试方法存在结构冗长且运行时间长的问题，严重影响单片机输出功能修调测试的效率。

技术实现要素：

4.本发明的技术问题是提供一种单片机输出功能修调方法，能够有效缩短单片机输出功能修调测试时间，提高单片机输出功能修条测试效率。
5.为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：
6.单片机输出功能修调方法，包括以下步骤：s1获取若干待测试修调值和目标值范围；s2将若干待测试修调值中的最小值赋值给min，将若干待测试修调值中的最大值赋值给max；s3计算max和min的平均值并赋值给mid；s4将mid代入单片机，测试单片机的功能输出值，并判断功能输出值是否满足目标值范围；若是，执行s5；若否，执行s6；s5将当前mid的值写入单片机；s6通过二分法进行测试，直至单片机的功能输出值满足目标值范围，并将当前满足目标值范围的功能输出值所对应的待测试修调值写入单片机。本发明通过二分的方法，在实现单片机测试目的的同时，简化了测试方法，减少了测试程序运行次数，大大缩减了测试时间，从而提高了修调效率。
7.进一步地，s6包括：s61判断s4中得到的功能输出值与目标值范围的区间端点的大小关系；若s4中得到的功能输出值大于最大目标值，执行s62；若s4中得到的功能输出值小于最小目标值，执行s63；s62将mid－1赋值给max，循环执行s3至s6；s63将mid+1赋值给min，循环执行s3至s6。
8.进一步地，功能输出值可以为频率值或电流值或电压值。
9.进一步地，待测试修调值可以为频率值或电流值或电压值。
附图说明
10.通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明及其特征、外形和优点将会变得更加明显。在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未刻意按照比例绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。
11.图1是本发明提供的单片机输出功能修调方法的流程图。
具体实施方式
12.下面结合附图和具体的实施例对本发明作进一步的说明，但是不作为本发明的限定。
13.由于现有技术中的输出功能修调算法比较冗长，运行时间长，严重影响了单片机修调测试的效率，因此本发明提供一种单片机输出功能修调方法，本方法基于二分法，可应用于频率、电流和电压等的修调，如图1所示，具体包括以下步骤：s1获取若干待测试修调值和目标值范围；其中，待测试修调值可以为频率值或电流值或电压值，具体是单片机设计是由设计工程师提供的，目标值范围则是客户根据实际需求不同提供的；s2将若干待测试修调值中的最小值赋值给min，将若干待测试修调值中的最大值赋值给max；s3计算max和min的平均值并赋值给mid；s4将mid代入单片机，测试单片机的功能输出值，并判断功能输出值是否满足目标值范围；若是，执行s5将当前mid的值写入单片机；若否，执行s6通过二分法进行测试，直至单片机的功能输出值满足目标值范围，并将当前满足目标值范围的功能输出值所对应的待测试修调值写入单片机。
14.具体地，s6包括：s61判断s4中得到的功能输出值与目标值范围的区间端点的大小关系；若s4中得到的功能输出值大于最大目标值，执行s62；若s4中得到的功能输出值小于最小目标值，执行s63；s62将mid－1赋值给max，循环执行s3至s6；s63将mid+1赋值给min，循环执行s3至s6。
15.采用本发明提供的单片机输出功能修调方法，不仅通过二分法简化了测试方法，对于有n个修调值地单片机来说，最多只需运行log2(n)+1次就可选出满足目标值范围的修调值，从而大大缩短的单片机的测试时间，提高了测试效率。
16.以上对本发明的较佳实施例进行了描述；需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本发明的实质内容；因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

技术特征：

1.单片机输出功能修调方法，其特征在于，包括以下步骤：s1获取若干待测试修调值和目标值范围；s2将若干所述待测试修调值中的最小值赋值给min，将若干所述待测试修调值中的最大值赋值给max；s3计算max和min的平均值并赋值给mid；s4将mid代入单片机，测试单片机的功能输出值，并判断所述功能输出值是否满足目标值范围；若是，执行s5；若否，执行s6；s5将当前mid的值写入单片机；s6通过二分法进行测试，直至单片机的功能输出值满足目标值范围，并将当前满足目标值范围的功能输出值所对应的待测试修调值写入单片机。2.根据权利要求1所述的单片机输出功能修调方法，其特征在于，所述s6包括：s61判断s4中得到的功能输出值与目标值范围的区间端点的大小关系；若s4中得到的功能输出值大于最大目标值，执行s62；若s4中得到的功能输出值小于最小目标值，执行s63；s62将mid－1赋值给max，循环执行s3至s6；s63将mid+1赋值给min，循环执行s3至s6。3.根据权利要求2所述的单片机输出功能修调方法，其特征在于，所述功能输出值可以为频率值或电流值或电压值。4.根据权利要去3所述的单片机输出功能修调方法，其特征在于，所述待测试修调值可以为频率值或电流值或电压值。

技术总结

本发明提供的单片机输出功能修调方法，属于单片机测试技术领域，包括：获取若干待测试修调值和目标值范围；将若干待测试修调值中的最小值赋值给MIN，将若干待测试修调值中的最大值赋值给MAX；计算MAX和MIN的平均值并赋值给MID；将MID代入单片机，测试单片机的功能输出值，并判断功能输出值是否满足目标值范围；若是，将当前MID的值写入单片机；若否，通过二分法进行测试，直至单片机的功能输出值满足目标值范围，并将当前满足目标值范围的功能输出值所对应的待测试修调值写入单片机。本发明通过二分的方法，在实现单片机测试目的的同时，简化了测试方法，减少了测试程序运行次数，大大缩减了测试时间，从而提高了修调效率。从而提高了修调效率。从而提高了修调效率。