GBT 4377-2018半导体集成电路 电压调整器测试方法(标准状态:现行)

I C S31.200
L56
纸张打孔机中华人民共和国国家标准
G B/T4377 2018
代替G B/T4377 1996
半导体集成电路
电压调整器测试方法
S e m i c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t s
cpichM e a s u r i n g m e t h o do f v o l t a g e r e g u l a t o r s
2018-03-15发布2018-08-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
耐酸碱保护膜目  次
前言Ⅰ                                        1 范围1                                      2 术语和定义1                                    3 总则3                                        3.1 测试环境要求3                                  3.2 测试注意事项3                                  3.3 测试仪器和设备3
4 参数测试3
鸟笼拉手4.1 电压调整率(S V )3                                4.2 电流调整率(S I )5                                4.3 电源纹波抑制比(S r i p )6                              4.4 输出电压温度系数(S T )7                              4.5 输出电压长期稳定性(S t )8                            4.6 输出噪声电压(V N O )9                                4.7 耗散电流(I D )和耗散电流变化(ΔI D )10                        4.8 短路电流(I O S )11                                4.9 输出阻抗(Z O )12     
                          4.10 基准电压(V R E F )13                                4.11 启动时间(t S )14                                4.12 最小输入输出电压差(V D R O P )15                          4.13 输入电压变化瞬态响应时间(t 1)和输入电压变化瞬态过冲电压[V OM (V I )]16        4.14 负载电流变化瞬态响应时间(t 2)和负载电流变化瞬态过冲电压[V OM (I O )]17        4.15 输出电流限制(I L i m i t )18                              4.16 热关断温度(T S H D N )和滞回温度(ΔT S H D N )19                      4.17 输出电压(V O )和输出电压偏差(ΔV O )20                      4.18 热调整率(S h )21                                G B /T 4377 2018
前言
本标准按照G B/T1.1 2009给出的规则起草㊂
本标准代替G B/T4377 1996‘半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理“,与G B/T4377 1996相比,主要技术变化如下:
修改了电源纹波抑制比S r i p㊁输出噪声电压V N O㊁耗散电流I D和耗散电流变化ΔI D㊁热调整率S h4项参数测试方法;
删除了原标准中 不适用于双端(输入)口器件 一句;
删除了原标准中 启动电压范围V O R 一项,改由 启动时间t S 来代替;
增加了启动时间t S㊁输出电流限制I L i m i t㊁热关断温度T S H D N和滞回温度ΔT S H D N及输出电压V O 和输出电压偏差ΔV O4项参数的测试方法㊂
请注意本文件的某些内容可能涉及专利㊂本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任㊂
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出㊂
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会(S A C/T C78)归口㊂
本标准起草单位:圣邦微电子(北京)股份有限公司㊁中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所㊁成都振芯科技股份有限公司㊁北京宇翔电子有限公司㊂
本标准主要起草人:王鸿儒㊁袁莹莹㊁邹臣㊁朱华㊁张宝华㊁张冰㊁陈志培㊁罗彬㊂
半导体集成电路
电压调整器测试方法
1范围
本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法㊂
本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试㊂
2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件㊂
2.1
电压调整率v o l t a g e r e g u l a t i o n
360历史输出电压随输入电压变化而发生的变化率,通常通过改变直流输入电压并测量相应的输出电压变化来确定电压调整率㊂
延时开关电路2.2
电流调整率c u r r e n t r e g u l a t i o n
输出电压随输出电流变化而发生的变化率,通常通过改变直流输出电流并测量相应的直流输出电压变化来确定电流调整率㊂
2.3
电源纹波抑制比p o w e r s u p p l y r e j e c t i o n r a t i o
输入电源变化量与输出电压变化量的比值㊂
2.4
输出电压温度系数o u t p u t v o l t a g e t e m p e r a t u r e c o e f f i c i e n t
输出电压随环境温度变化而发生的变化率,通常通过改变环境温度和记录相应的输出电压变化来确定输出电压的温度系数㊂
2.5
输出电压长期稳定性o u t p u t v o l t a g e s t a b i l i t y
输出电压随时间的变化率,通过测试输出电压值随时间的变化来确定㊂
2.6
输出噪声电压o u t p u t v o l t a g e n o i s e
器件本身在输出电压上产生的噪声,通常在规定的直流输入电压下,测量器件内部电路对输出电压的干扰㊂
2.7
耗散电流和耗散电流变化d i s s i p a t i v e c u r r e n t a n dd i s s i p a t i o n c u r r e n t c h a n g e s
在输入电压和输出电流为规定值时的地端电流值,在输入和输出条件变化时,确定耗散电流变化㊂在输出电流为 0 时测得的耗散电流又被称为静态电流(I q)㊂
2.8
短路电流s h o r t-c i r c u i t c u r r e n t
器件输出端短路时的输出电流,通常在规定的输入电压下,测量短路电流㊂

本文发布于:2024-09-22 03:44:07,感谢您对本站的认可!

本文链接:https://www.17tex.com/tex/2/235595.html

版权声明:本站内容均来自互联网,仅供演示用,请勿用于商业和其他非法用途。如果侵犯了您的权益请与我们联系,我们将在24小时内删除。

留言与评论(共有 0 条评论)
   
验证码:
Copyright ©2019-2024 Comsenz Inc.Powered by © 易纺专利技术学习网 豫ICP备2022007602号 豫公网安备41160202000603 站长QQ:729038198 关于我们 投诉建议