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发明人：张尚剑，王恒，邹新海，尹欢欢，张雅丽，刘永申请号：CN201410181001.0分子筛膜
申请日：20140430
便当袋公开号：CN103926059A
公开日：
超高压软管
20140716
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了电光相位调制器调制系数的测量方法，涉及光电子技术领域，本发明为了解决相位调制信号在光电探测器上无法直接检测以及无法避免PM-IM和FM-IM的转换中的非线性过程的问题，本发明采用光纤干涉仪作为测量装置，光纤干涉仪由分束器、待测电光相位调制器、声光移频器、辅助电光相位调制器和合束器构成，其中待测电光相位调制器置于光纤干涉仪的一干涉臂上，声光移频器和辅助电光相位调制器放置在另一干涉臂上；三个器件上分别加载不同频率的正弦信号；本发明通过设置所加载正弦信号的频率关系消除了光电探测器的频率响应，实现了自校准测量，提高了测量电光相位调制器调制系数的准确性，具有很好的应用价值。
申请人：电子科技大学
地址：611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
国籍：CN
代理机构：成都华典专利事务所(普通合伙)
代理人：徐丰
熔断器底座
同步相量测量装置
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
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