[实验⽬的]
1.掌握算术逻辑运算加、减、乘、与的⼯作原理；
3.验证实验台运算器的8位加、减、与、直通功能；
4.验证实验台4位乘4位功能。
[接线]
功能开关：DB=0 DZ=0 DP=1 IR/DBUS=DBUS
接线：LRW：GND（接地）
IAR-BUS# 、M1、M2、RS-BUS#：接+5V
控制开关：K0：SW-BUS# K1：ALU-BUS
K2：S0 K3：S1 K4：S2
K5：LDDR1 K6：LDDR2
[实验步骤]
⼀、(81)H与(82)H运算
1.K0=0：SW开关与数据总线接通
K1=0：ALU输出与数据总线断开
2.开电源，按CLR#复位
3.置数（81）H：
在SW7—SW0输⼊10000001→LDDR2=1，LDDR1=0→按QD：数据送DR2置数（82）H：
在SW7—SW0输⼊10000010→LDDR2=0，LDDR1=1→按QD：数据送DR1 4.K0=1：SW开关与数据总线断开K1=1：ALU输出与数据总线接通
5. S2S1S0=010：运算器做加法
（观察结果在显⽰灯的显⽰与进位结果C的显⽰）
6.改变S2S1S0的值，对同⼀组数做不同的运算，观察显⽰灯的结果。
⼆、乘法、减法、直通等运算
1.K0K1=00
2.按CLR#复位
3.分别给DR1和DR2置数
4.K0K1=11
5. S2S1S0取不同的值，执⾏不同的运算
[思考]
M1、M2控制信号的作⽤是什么？
运算器运算类型选择表
选择操作
S2 S1 S0
0 0 0 A&B
0 0 1 A&A(直通)
0 1 0 A+B
0 1 1 A-B
1 0 0 A(低位)ΧB(低位)
完成以下表格
ALU-BUS SW-BUS# 存储器内容S2S1S0 DBUS C 输⼊时：计算时：DR1：01100011
DR2：10110100
（与）
DR1：10110100
DR2：01100011
（直通）
DR1：01100011
DR2：01100011
（加）
DR1：01001100
DR2：10110011
（减）
DR1：11111111
DR2：11111111
（乘）
[实验⽬的]
1.了解双端⼝存储器的读写；
2.了解双端⼝存储器的读写并⾏读写及产⽣冲突的情况。
[接线]
功能开关：DB=0 DZ=0 DP=1 IR/DBUS= DBUS AR1/AR2=AR1接线：IAR_BUS# ←→+5V ：禁⽌IAR输出
RS_BUS# ←→+5V ：禁⽌寄存器堆RF输出
M3 ←→+5V ：
ALU_BUS ←→GND（接地）：禁⽌运算器输出
AR1_INC ←→GND（接地）：禁⽌AR1⾃动+1
控制开关：K0：CEL# K1：LRW K2：CER
K3：LDAR1 K4：LDAR2 K5：SW-BUS#
K6：LDIR
CEL# = 0：选中左端⼝LRW= 0：左端⼝读
1：禁⽌左端⼝1：左端⼝写
注意：①SW-BUS#、CEL#不能同时为0。
②使⽤左端⼝向某⼀存储单元写⼊，将地址写⼊AR1后，应置LDAR1(K4)=0，避免写数时数据同时进⼊AR1。[实验内容及步骤]
⼀、向左端⼝写数并读出
1．写数
IR/DBUS= DBUS AR1/AR2=AR1
K0-6=1101000
SW7-0=00H，按QD：将00地址写⼊AR1
K0K1K3=000降失水剂
SW7-0=80H，按QD：将数据80写⼊00单元
重复在10H、20H、30H、40H单元分别写⼊数据81H、82H、83H、84H
2．读数
K0-6=1101000
SW7-0=00H，按QD：将00地址写⼊AR1
K5=1，K3=0，K0=0，K1=1：读出00地址的数据
重复读出10H、20H、30H、40H单元的数据，记录DBUS和AR1的灯显⽰。
⼆、在右端⼝读数（将00H、10H、20H、30H、40H单元的数据从右端⼝读出，
写⼊IR）
IR/DBUS= IR AR1/AR2=AR2
K0-6=1100100
SW7-0=00H，按QD：将00地址写⼊AR2
K4=0，K2=1，K6=1，按QD：读出00地址的数据，并写⼊IR
重复读出10H、20H、30H、40H单元的数据，记录IR和AR2的灯显⽰。
三、并⾏读写，访问冲突
1．AR1/AR2=AR1
K0-6=1101000
SW7-0=38H，按QD：将38地址写⼊左边
AR1/AR2=AR2
K3=0，K4=1，K5=0
SW7-0=38H，按QD：将38地址写⼊右边
2．K2=1 K0=1 测BUSYL
K2=1 K0=0 测BUSYL 先选中右边再选中左边膜浓缩
K2=1 K0=1 测BUSYL
3．K0=0 K2=0 测BUSYR
K0=0 K2=1 测BUSYR 先选中左边再选中右边
K0=0 K2=0 测BUSYR
完成以下表格
矩阵键盘程序00H 10H 20H 30H 40H AR1
1．左端⼝
读数
DBUS
AR2
2．右端⼝
读数
IR
BUSYL BUSYR
K2=1 K0=1K0=0 K2=0
K2=1 K0=0K0=0 K2=1
K2=1 K0=1K0=0 K2=0
实验三数据通路
[实验⽬的]
1. 将双端⼝通⽤存储器堆和双端⼝存储器模块联机；
2. 进⼀步熟悉计算机的数据通路；
3. 锻炼分析问题与解决问题的能⼒，培养独⽴分析故障现象，并解除故障的能⼒。
FOSY
与总线相连的数据源有5个，任⼀时刻只能有⼀个有效。
数据源1：运算器ALU ：ALU_BUS
数据源2：寄存器堆RF ：RS_BUS#
数据源3：数据开关SW7-0 ：SW_BUS#
数据源4：双端⼝存储器RAM ：CEL#、LRW
数据源5：中断寄存器：IAR_BUS#
RF寄存器堆有R0，R1，R2，R3四个寄存器，带⼀个写⼊端和两个读出端。RD0、RD1控制A端，RS0、RS1控制B端。WRD=1 将（ER）写⼊WR0，WR1选中的寄存器
WRD=0 读
双端⼝存储器（左端⼝控制信号）
CEL#=1 禁⽌左端⼝
CEL#=0 允许左端⼝，（LRW=0 左端⼝写，LRW=1 左端⼝读）
[接线]
功能开关：DB=0 DZ=0 DP=1
接线：IAR_BUS# ←→+5V ：禁⽌IAR输出
CER ←→GND（接地）：禁⽌双端⼝存储器右端⼝输出
AR1_INC←→GND（接地）：禁⽌AR1⾃动+1
M2 ←→GND（接地）：DR2选择RF作数据源
S2S1S0=001：直通运算
控制开关：K0：SW-BUS# K1：RS_BUS# K2：ALU-BUS K3：CEL# K4：LRW K5：LDAR1 K6：LDDR2 K7：LDER K8：RS0
K9：RS1 K10：RD0 K11：RD1
K12：WR0 K13：WR1 K14：WRD
[实验内容及步骤]
⼀、向RF中的四个通⽤寄存器分别置数：
R0=（0F）H R1=（F0）H R2=（55）H R3=（AA）H
vagoo（1）将0F送⼊R0
K0-14=0 101 100 000 000 00
K0K7=01 , 开关置数0F，按QD ：0F送⼊ER
K7K14=01，K12K13=00，按QD ：（ER）送⼊R0
（2）将F0送⼊R1
陶瓷板波纹规整填料（3）将55送⼊R2
（4）将AA送⼊R3
⼆、将寄存器R0⾄R3的数据读⼊DR2寄存器和DBUS。
1. 将寄存器R0⾄R3的数据读⼊DBUS
（1）将R0送⼊DBUS
IR/DBUS=DBUS
K0=1，K2-7=011000 K10-14=00000
K1=0，K8K9=00，记录DBUS灯显⽰的值
（2）将F0送⼊DBUS
（3）将55送⼊DBUS
（4）将AA送⼊DBUS
2. 将寄存器R0⾄R3的数据读⼊DR2寄存器再到DBUS
（1）将寄存器R0的数据读⼊DR2寄存器再到DBUS
K01=11 K3-5=110 K7-9=000 K12-14=000
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