附录A
（规范性附录）
A.1 概述
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本方法适用于双包层铒镱共掺光纤内包层直径的测试。双包层铒镱共掺光纤内包层形状涉及多种多边形，应根据被测光纤内包层实际情况对其内包层直径进行测试。
当双包层铒镱共掺光纤内包层为N（N＞3）边形时，取任意连续不同的三条边进行切线圆拟合，共取3次，取3次拟合圆直径平均值作为内包层直径。并取中间值拟合圆圆心作为内包层中心与纤芯计算纤芯/内包层同心度误差。例如，六边形内包层光纤6条边依次为L1、L2、L3、L4、L5、L6，则可取L1、L2、L3三边，取L2、L3、L4三边，取L3、L4、L5三边分别作切线圆。如图B.1所示。
图A.1 六边形内包层切线圆示意图
图A.2是典型的八边形内包层双包层铒镱共掺光纤结构示意图
图A.2 典型的八边形内包层双包层铒镱共掺光纤结构示意图
A.2.1 光学显微镜
采用具备配套几何尺寸拟合软件的光学显微镜。
A.3 试样制备
A.3.1 端面处理
剥去光纤一端的涂覆层，清洗干净，用专用光纤切割刀处理端面。
A.3.2 光纤放置
将光纤放置在光学显微镜下通过程序拟合多边形切线圆。
A.4 测试条件
在测量期间，温度15℃~35℃，湿度45%~60%。
A.5 测试步骤
A.5.1 接通测量系统相关仪器的电源，按规定进行预热。
A.5.2 把制备好端面的被测光纤放置在光纤显微镜中。
A.5.3 调整焦距及位置，保证被测光纤端面处于显微镜正中。
A.5.4 用拟合软件连续3次对不同三边进行切线圆拟合，并计算对应切线圆直径分别为D1、D2、D3。
A.5.5 取三个切线圆直径均值作为内包层直径D。
A.6 计算
水力测功器内包层直径计算见公式（B.1）：
()………………………………………………(A.1)
式中：
D—内包层直径；
D1—（L1、L2、L3）三边切线圆直径，单位为微米（μm）；女士化妆包
D2—（L2、L3、L4）三边切线圆直径，单位为微米（μm）；
D3—（L3、L4、L5）三边切线圆直径，单位为微米（μm）。
附录B
（规范性附录）
纤芯吸收系数试验方法
B.1 概述
本方法适用于双包层铒镱共掺光纤纤芯吸收系数的测量。
B.2 测量设备
led外露灯
B.2.1通则
纤芯吸收系数测试系统示意图见图A.1，应根据被测光纤的工作波段选择相应的测量部件。
图B.1 纤芯吸收系数测量系统示意图
B.2.2 宽谱光源
根据测量波长选择合适的宽谱光源，在测量范围内宽谱光源的输出功率平坦度应小于5dB ，光源光功率应保证光纤不产生较强的ASE （放大自发辐射）光，宽谱光源尾纤类型为FC 型连接头的单模光纤。
红外线烤炉
B.2.3光谱分析仪
接收经过光纤的光信号，分析并给出光谱特性。
B.3 试样制备
B.3.1 端面处理
剥去光纤两端的涂覆层，清洗干净，用专用光纤切割刀处理端面。
B.3.2 光纤放置
将光纤均匀地绕在直径不小于165mm 的线轴上，缠绕时应避免出现扭曲。
B.4 测试条件
在测量期间，温度15℃~35℃，湿度45%~60%。 B.5 测试步骤 宽谱光源源 光谱分析仪
被测光纤
包层模剥除器 熔接点
B.5.1 接通测量系统相关仪器的电源，按规定进行预热。
B.5.2 把制备好端面的被测光纤接入测量光路，输入端对准光源，输出端接入光谱分析仪中，光纤的长度为l1，单位为米（m）。
B.5.3 调整光路使得注入光信号达到最大值，固定被测光纤的输入端。
B.5.4 用光谱分析仪测量经过被测光纤吸收后的输出光谱曲线F1，把该曲线保存在光谱分析仪中。
B.5.5 在距离光纤输入端l0（一般为1m）处截断光纤并制备端面，再用光谱分析仪测量经过剩余被测光纤的输出光谱曲线F2。
B.5.6 在光谱分析仪的（功率）坐标系中得到曲线F3（曲线F3对应纵坐标数值，为相应横坐标上曲线F2纵坐标数值减去与曲线F1纵坐标数值的差值），读出曲线上相应波长的光功率差T。
B.6 结果计算
纤芯吸收系数按公式（A.1）计算：
…………………………………………(B.1)
()
式中：
α——纤芯吸收系数，单位分贝每公里（dB/km）；
l1——测试光纤长度，单位米（m）；
Τ——光功率差，单位分贝（dB）
附录 C
（规范性附录）
包层泵浦吸收系数试验方法
C.1 概述
本方法适用于双包层铒镱共掺光纤包层泵浦吸收系数的测试。
取长度为L1的光纤，首先通过光谱仪确定激发阈值的泵浦功率，确保非激发状态泵浦功率条件下，以915nm波长的稳定光源进行包层泵浦吸收系数测量。采用功率计测试其泵浦光输出功率值（W1）。然后，在距离光纤输入端L0处截断该光纤，测试其输出功率值（W0）。则包层泵浦吸收系数按照公式C.1进行计算。
C.2 测量设备
C.2.1 稳定光源
使用输出波长为915nm的SLD（超辐射发光二极管）光源，光源功率应保持在激发非线性效应阈值之下。
C.2.2 光谱仪
以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。
C.2.3 功率计
用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器。
C.3 试样制备
C.3.1 端面处理
剥去光纤两端的涂覆层，清洗干净，用专用光纤切割刀处理端面。
C.3.2 光纤放置
将光纤一端与泵浦光源连接，另一端与光谱仪连接。
C.4 测试条件
在测量期间，温度15℃~35℃，湿度45%~60%。
C.5 测试步骤
空调用制冷技术C.5.1 接通测量系统相关仪器的电源，按规定进行预热。
C.5.2 取长度为L1的光纤，将光纤两端涂层剥除，切割端面。
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