1. STS8200系统概述
1.1 测试器件类别
STS8200测试机属于大模小数类器件测试系统，主要可用于测试运放/比较器、LDO、PWM、锂电池充电/保护、模拟开关、LED Driver、双卡双待、触摸屏、FM Tuner、Class AB/D、 滤波器等电源管理类以及大模小数类产品。
1.2 测试指标
最大电压：±1000V；最大电流：±10A，电压精度：±0.05%；电流精度：±0.1%
1.3 工作模式
STS8200支持PING-PONG（STATION A与STATION B）工作模式，实现方法如下：
1）配置支持STATION A/B工作模式的STS8000软件。
2）配置2水情监测块CBIT128板，且拨码为00和01。
3）配置STATION A/B的电缆和测试盒。即2套外电缆和2个测试盒。
4）配置2块Handler接口卡。
STS8200支持TWIN工作模式，实现方式如下：
1）配置2块带表贴电阻背板总线卡（SM8001)，且拨码均为00和00，上下插件箱各一块，2块总线接口卡（IF8001）。
2）配置2套外电缆和2个测试盒。
3）配置2套与电脑主机连接68芯的通信电缆。
4）配置2套与Handler连接62芯的通信电缆。
5）2套电脑主机。
2. STS8200单板介绍
STS8200目前共有7种常规板卡，分别为DVI400（双路电压/电流源），PVI10（双路功率电压/电流源），OVI40（八路电压/电流源），CBIT128（用户卡控制单元），QTMU_PLUS（四通道时间测量单元），ACSM_PLUS（精密交流源表），DIO（数字通道模块）。4款浮动源表FPVI10，FOVI100，HVI1K，QVM。
2.1 板卡精度
代号 | 参数/指标 | 精度 |
DVI400 | ±40V, ±20V, ±10V, ±5V, ±2V, ±1V ±400mA, ±40mA, ±4mA, ±400uA, ±40uA,±4uA* | 电压±0.05% 电流±0.1% DVI400的4uA档精度为±0.5% |
PVI10 | ±40V, ±20V, ±10V, ±5V, ±2V, ±1V ±10A*, ±1A, ±100mA, ±10mA, ±1mA, ±100uA | 电压±0.05% 电流±0.1% PVI10的10A档精度为±1% |
OVI40 | ±20V, ±10V, ±5V, ±2V ±40mA, ±溶角蛋白酶4mA, ±400uA, ±40uA, ±4uA* | 电压±0.05% 电流±0.1% OVI40的4uA档精度为±0.5% |
QTMU_PLUS | 触发电压档位 ±25V/±5V 被测频率范围 0.1Hz -10MHz 被测时间范围 10ns - 40s | Coarse mode ±10ns±0.1% Fine mode ± 2ns±0.1% |
ACSM_PLUS | ACS | 正弦波、方波、三角波、锯齿波 最大峰峰值 20V；THD -80dB 输出频率 0.05 KHz - 100.0 KHz 偏置电压 ±10.0 V Max | AC±0.1% DC±0.1% |
ACM | 直流信号平均值、交流信号有效值 输入电压 ±100 V ；THD -85dB 低速采样速率 200KHz 高速采样速率 10MHz |
CBIT128 | 128个继电器控制位，单通道最大100mA驱动电流 | |
DIO | 8通道；脉冲宽度>10ns； 输出电平 -2.0 to +7.0 V | ±桥架接头30mV |
FOVI100 | ±40V, ±20V, ±10V, ±5V, ±2V, ±1V ±1A, ±100mA, ±10mA, ±1mA,±100uA, ±10uA | |
HVI1K | ±1000V, ±500V, ±200V, ±100V ±10mA, ±1mA,±100uA, ±10uA,±1uA | |
FPVI10 | ±40V, ±20V, ±10V, ±5V, ±2V, ±1V, ±100mV ±10A, ±1A, ±100mA, ±10mA, ±1mA,±100uA, ±10uA,±1uA | |
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*黑字体为脉冲模式
3. 外电缆及测试盒介绍
3.1 外电缆介绍
STS8200外电缆直接从板卡输出接口处引出，然后连接至测试盒，其对应板卡的关系如下：
DVI400 电缆：1根电缆对应 4 块 DVI400板8 路资源，测试盒标准配置2根电缆， 共引入 16 路资源。
PVI10 电缆：1根电缆对应 2 块 PVI10 板 4 路资源，测试盒标准配置2根电缆，共引入 8 路资源。
OVI40 电缆：1根电缆对应 1 块 OVI40 板 8 路资源，测试盒标准配置2根电缆，共引入16 路资源。
CBIT128：1根CBIT128电缆引出 64 路 继电器控制信号，测试盒标准配置2根电缆，共引
入128 路继电器控制信号。
POW：1根 POW电缆引出+5V、±15V、+12V以及地信号，测试盒标准配置1根 电缆，POW电缆和 CBIT128电缆均从CBIT128板引出。
QTMU_PLUS：采用高频电缆， 4组独立测试单元，8根电缆，对应TMU的0A/0B，1A/1B，2A/2B，3A/3B的4组共8个SMA插头。
ACSM_PLUS：采用高频电缆，4路交流源（ACS）对应4根电缆，分别为ACS的0， 1，2，3共4路SMA插头；4路差分交流表（ACM）对应8根电缆，分别为ACM0-/0+，1-/1+，2-/2+，3-/3+共8路SMA插头。
DIO：采用高频电缆，8路独立数字I/O口，8根电缆，对应DIO的D0，D1，D2，D3，D4，D5，D6，D7语音合成技术，但不连接至测试盒。
3.2 测试盒介绍
测试盒示意图
标准测试盒支持：
DVI400 | PVI10 | OVI40 | OPTION | CBIT128 | 常电源 | ACSM_PLUS | QTMU_PLUS | DIO | FVI10 |
16路 | 8路 | 16路 | 16路电解水杯(DVI400或者OVI40) | 128路 | +12V,±15V,+5V | 4 | 4 | 8 | 2 |
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4. 软件介绍和基本操作
4.1 软件启动
双击桌面图标后即可启动STS8200软件系统，运行后首先要求用户登录，系统提供初始账号：admin，密码:admin，拥有最高的管理与运行权限。下图为软件登入界面。 软件登入界面示意图
4.2 Check界面介绍
测试系统启动后，会首先检测测试机的状态。根据系统配置文件检测每块电路板的基本功能是否正常，并给出自检报告。下图为Check界面。
Check界面示意图
“auto test when start-up” 钩选后，开机会自动运行自检程序；
“Stop”按钮停止自检，在自检完毕后会转换位“Start”按钮，点击开始自检；
“Refresh”刷新自检界面，系统自动识别硬件资源；
“Open check result”打开本次的自检结果；
“Quit”退出。
4.3 Test UI界面介绍
Test UI主界面中包含以下几部分：
工具栏：测试操作用到的功能都在工具栏中有相应的按扭
参数信息区：显示出测试参数的名称，判据，单位等信息 状态栏：显示测试程序名，LOTID，操作员等信息
下图为Test UI界面
Test UI界面示意图
1）单击，选择要装入的测试程序，
2）与测试相关的按钮：单次测试，开始自动测试，停止自动测试。
STS8200提供了三种数据显示方式，在工具栏上有相应工具：
3）工具栏上的键，对应Dmode，是缺省的模式，界面上只显示当前的器件测试结果， 键，对应mmode(多行模式)，界面可显示之前测过器件的结果，键：Binmode，只显示合格失效以及分档的统计结果，用户可以切换到适合自己的方式来观看测试数据。其中Dmode方式显示的信息最为全面，是系统默认的显式模式。
由于8200是多site测试系统，界面上提供了多个数据显示面板以显示多个SITE的测试结果，数据显示面板默认状态为平铺方式排列，用户可以点击面板右上角的小按扭来切换成为单面板显示方式，以显示更多内容。在单面板方式下，通过site切换按钮来切换当前需要显的面板。
4）如果想对测试数据存盘，点击键，进入数据存盘界面，勾选SaveData，并在下面指定存盘的文件名，如果没有指定路径，则存盘文件会存入安装路径中的Datalog子目录。下图为数据存盘界面
数据存盘示意图
通过点击Default Save Path后的键，来改变数据存储的位置。
通过修改Save Data，来改变数据存储的文件名。
通过勾选Auto Expot Summary File To，来存储Summary文件，并且通过点击Auto Expot Summary File To后的键，来改变Summary文件存储的位置。
4.4 新建程序
1）进入测试主界面，如图 3-1所示，点击Edit按钮可进入PGSEditor编辑器的主界面。
2）进入PGSEditor编辑器的主界面之后，创建一个新的PGS。
3）按照测试规范要求，输入测试项以及对应测试函数，鼠标右键点击图中的测试参数区域可以添加其他函数和参数
其中“Function Editor”为添加函数界面，输入函数名称之后点击“OK”按钮即可。
“Param Editor”为添加参数界面，设置完成后点击“OK”
4）点击PGS编辑界面中Site按钮，做出工位选择。
5）点击PGS编辑界面中Bin按钮，根据要求对SWBin和HWBin进行设置。
6）当上述操作完成后，点击，保存PGS文件。
7）输入完测试项以及对应测试函数之后，点击工具栏中的人体意术Code 按钮生成测试程序。如果是第一次生成程序，会直接跳到VC窗口，输入工程的名字后，点击“OK”按钮即可。
如果安装了VC6.0版本，那么请在Setting->Open VC Project，选择VC6;若安装了VC2005版本，请选择VC2005，缺省状态默认选择VC2005。
在PGSEditor添加函数或参数时，点击code，由于程序已经存在，会弹出下图所示的窗口。请点击“Update”按钮在原程序的基础上进行升级，请不要点击Overwrite，否则会把之前的测试程序覆盖掉。
在PGSEditor界面修改完数据后，为了把数据传输到TESTUI界面，必须单击工具栏的按钮。在Update时，同样会先检查数据的合法性，当数据有效时会进行数据更新操作，否则将不进行。
8）Code生成后，需要对Code进行编写， 下面介绍test.cpp的结构；
5. 多工位并行测试
5.1 四线Kelvin测试
开尔文（Kelvin）测试就是通常所说的四线测试方式，在V/I源中（不论是浮动源还是非浮动源）通常都采用四线开尔文测试的方法来抵消附加的等效电阻压降，进而保证负载两端电压的驱动和测量精度。
V/I源的输出端分为FORCE和SENSE两根线，FORCE线用于电流的输入和输出，只有FORCE线中会流过负载电流IL，SENSE线用于电压/电流的反馈和测量；SENSE线的输入端接有高阻抗输入的缓冲器，因此SENSE线中不会有电流流过，所以即便有附加电阻也不会产生附加电压降。FORCE线中的附加电阻虽然会在大电流下产生附加电压降，但由于SENSE线独立接到负载两端，可以有效地扣除掉FORCE线中附加电阻和压降的作用，从而保证负载两端电压的驱动和测量精度。V/I源四线开尔文测试的示意图如下：
非浮动源四线开尔文测试示意图 浮动源四线开尔文测试示意图
非浮动V/I源与浮动V/I源的差别在于非浮动V/I源没有FORCE Low 和SENSE Low，但其AGND和DGS（DEVICE GROUND SENSE）所起的作用是完全相同的，只是在同工位中多路V/I源共用了同一组AGND和DGS而已。因此从四线开尔文测试的角度上来说非浮动V/I源与浮动V/I源没有本质的区别，可以同样达到精确驱动和测试的效果。
5.1.1多工位并行测试下的四线开尔文测试
浮动V/I源在多工位并行测试下自然没有问题，但非浮动V/I源在多工位并行测试下必须每个工位要有一个独立的DGS信号，以实现每一工位完整的四线开尔文测试，如果系统只有一个DGS信号就只能保证一个工位的测试精度，其它工位由于不能完整实现四线开尔文测试而会导致测试精度变差（特别是在电流较大的情况下）。
STS8200最大支持16 Site并行测试，由于考虑到实际测试需要，目前STS8200软件最大支持16Site的测试。
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