一、实验目的：
1、验证常用集成门电路的逻辑功能；
2、熟悉各种逻辑门电路的逻辑符号；
3、熟悉TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件：
1、数字电路实验箱
2、74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片 74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入异或门 1片 74LS04反相器 1片 三、实验原理：
集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点而广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较适合，因此这里使用了74LS系列的TTL电路，它的电源电压为5V+10%，逻辑电平“1”时>2.4V，低电平“0”时<0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，右下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。 四、实验步骤：
（一）、根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能
1、与门逻辑功能测试
被测试器件为74LS11三3输入与门，其引脚图见实验教材P6。
（1）按图1-1（见实验教材P6）接线，门的三输入端节逻辑开关输出插口，以供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，先下输出逻辑“0”。门的输入端接LED发光
二极管。（实验时，利用DSWPK开关其电路图如下）
（2）按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C的状态，借助指示灯观测个相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为“1”，灭时记为“0”，把测试结果填入表1-1中。 表1-1 74LS11逻辑功能表
磁卡复制输入状态 | 输出状态 |
A | B | C | Y |
0 | 0 | 0 | 0 |
0 | 0 | 1 | 0 |
0 | 光学检测技术1 | 0 | 0 |
0 | 1 | 1 | 0 |
1 | 0 | 0 | |
1 | 0 | 1 | 0 |
1 | 1 | 0 | 0 |
1 | 1 | 1 | 1 |
悬空 | 1 | 1 | 1 |
悬空 | 0 | 0 | 0 |
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2、或门逻辑功能测试
（1）按图1-2接线(见实验教材P6)，按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-2中。（其实验电路图如下）
表 1-2 74LS32逻辑功能表
输入状态 | 输出状态 |
A | B | Y |
0 | 0 | 0 |
0 | 1 | 1 |
1 | 0 | 1 |
1 | 1 | 1 |
0 | 1 | 1 |
1 | 悬空 | 1 |
悬空 | 0 | 1 |
悬空 | 1 | 1 |
悬空 | 悬空 | 0 |
| | |
3、非门逻辑功能测试
（1）按图1-3接线（见实验教材P7），按表1-3要求用开关改变输入端A的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-3中。
表1-3 74LS04逻辑表
（二）、根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能
1、与非门逻辑测试74LS00四2输入与非门管脚功能如图1-4所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下）
表1-4 74LS00逻辑功能表
输入状态 | 输出状态 |
UA | UB | Y |
0 | 0 | 1 |
0 | 1 | 1 |
1 | 0 | 1 |
1 | 1 | 蜗轮滚刀0 |
0 | 1 | 1 |
1 | 悬空 | 0 |
悬空 | 0 | 1 |
悬空 | 1 | 0 |
悬空 | 悬空 | 0 |
| | |
2、用74LS86检测异或门的逻辑功
74LS86四2输入异或门管脚功能如图1-5所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下）
图 1-4 图 1-5
表1-5 74LS86逻辑功能
五、实验结论与心得：
1、实验器材的使用应在可行状态下越精简越好，在与门试验中，发现利用一下方法布线复杂，并且输出端没有接地。
2、在与门、或门、非门与非门中当输入端接地时相当于高电平输入。
3、发现74LS1914（记储器）的功能与与门利用一组输入端时的功能完全符合。
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