老化与冷冻测试操作方法与注意事项

一:老化测试
1. 适用范围
1.1. 所包括的产品及部件
适用于所有玩具或其配件,包括包装物料。
1.2. 定义
室温:其规定温度为:20~25摄氏度及相对湿度为:20~70%。
2. 测试方法
2.1. 仪器装置
2.1.1. 一个能维持内腔温度为:57±3摄氏度的焗炉。
2.3. 操作过程
2.3.1. 测试样办在老化测试之前需作检查外观及功能。
2.3.2. 将测试样办放置在57±3摄氏度的焗炉中作48±1小时处理。
vga连接器2.3.3. 经老化处理后,测试样办須在室温条件下摆放至少2小时。
2.3.4. 重新检查样办的外观及功能。
*经老化测试之后,测试样办出现不同类型的失功能为“不合格”。
模拟断路器
*一些外观问题,可根据“认可签办”进行评估及依严重程度来决定。
3. 文件记录
3.1. 意义
模拟运输或储存时遇到的高温影响。
3.2. 修订原因
3.3参考文献
低温测试程序
幻听的中药
1. 适用范围
1.1. 所包括的产品及部件
适用于所有玩具或其配件,包括包装物料。
1.2. 例外情况
1.3. 定义
室温:其规定温度为:20~25摄氏度及相对湿度为:20~70%。
2. 测试方法
2.1. 测试环境
-18+/-2摄氏度的温度
2.2. 仪器装置
一个能维持内腔温度为:-18+/-2摄氏度的冰柜。
2.3. 操作过程
2.3.1. 测试样办在低温测试之前需作检查外观及功能。
2.3.2. 将测试样办放入-18+/-2摄氏度的冰柜中作48+/-1小时处理。
2.3.3. 经低温处理后,测试样办須在室温条件下摆放至少2小时。
柴草气化炉
2.3.4. 重新检查样办的外观及功能。
*经低温测试之后,测试样办出现不同类型的失功能为“不合格”。
*一些外观问题,可根据“认可签办”进行评估及依严重程度来决定。
3. 文件记录
3.1. 意义模拟运输或储存时遇到的低温影响。
二:冷冻测试
1. 适用范围
1.1. 所包括的产品及部件
适用于14岁以下儿童使用的玩具或其配件,包括包装物料。
1.2. 例外情况
玩具由布料纤维和柔软的泡沫及其化合物或金属件作整体做成,豁免这个要求。
1.3. 定义
室温:其规定温度为:20~25摄氏度及相对湿度为:20~70%。
2. 测试方法
光电脉搏传感器2.1. 仪器装置
2.1.1. 一个能维持内腔温度为:130+/-5°F(54+/-3°C)的焗炉。
2.1.2. 一个能维持0+/-5°F(-18+/-2°C)的雪柜。
2.3. 操作过程
2.3.1. 把玩具样办置于0+/-5°F(-18+/-2°C)的雪柜中至少4小时。
2.3.2. 把玩具样办从雪柜中取出,之后置于室温中条件下至少4小时。
2.3.3. 又将玩具样办置于130+/-5°F(54+/-3°C)的焗炉中至少4小时。
2.3.4. 把玩具样办从焗炉中取出,之后置于室温条件下至少中4小时。
2.3.5. 重复程序3.3.1~3.3.4项作第二个循环。
2.3.6. 玩具样办经冷冻测试条件之后5分钟内幵始进行相应测试。
3. 文件记录
3.1. 意义
建立一个标准程序,以模仿在运输及储存过程中遇到这环境条件情况下之影响。
变压器防盗报警器

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