磁记录介质、磁记录/再现装置、和磁记录介质盒的制作方法

1.本公开内容涉及一种磁记录介质，以及使用所述磁记录介质的磁记录/再现装置和磁记录介质盒。

背景技术：

2.带状磁记录介质被广泛用于存储电子数据。例如，专利文献1描述了磁性层的表面进行平滑处理以便改善磁记录介质的电磁转换特性。而且，这篇文献描述了将润滑剂添加至磁性层中以便抑制由磁记录介质和磁头之间的接触导致的摩擦力。
3.引用清单
4.专利文献
5.专利文献1：日本专利申请待审公开第2006-65953号

技术实现要素：

6.带状磁记录介质被安置在，例如，磁记录盒中。为了进一步增加每磁记录盒的记录容量，考虑了减少磁记录盒中安置的磁记录介质的总厚度，并增加每磁记录盒的磁记录介质的长度(所谓的带长度)。然而，具有小的总厚度的磁记录介质可具有差的行进稳定性。特别是，在执行了反复的记录和/或再现的情况下，具有小的总厚度的磁记录介质可改变其表面状态(特别是，与摩擦有关的其表面状态)，并可劣化其行进稳定性。
7.因此，甚至在执行反复的记录和再现操作之后，具有小的总厚度和优异的行进稳定性的磁记录介质也是期望的。
8.根据本公开内容实施方式的磁记录介质是带状磁记录介质，并且包括基底、设置在所述基底上的基础层、和设置在所述基础层上的磁性层。所述基底包括聚酯作为主要组分。所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度。所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂。在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6。所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra。在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质的bet比表面积是3.5m2/g以上。垂直方向上的矩形比是65％以上。所述磁性层的平均厚度是90nm以下。所述磁记录介质的平均厚度是5.6μm以下。
9.根据本公开内容实施方式的磁记录/再现装置包括可顺序地供给上述磁记录介质的进给单元、可将从所述进给单元供给的磁记录介质卷起的卷绕单元、和在与从所述进给单元朝向所述卷绕单元行进的磁记录介质接触的同时可将信息写入所述磁记录介质上并可从所述磁记录介质读出信息的磁头。
10.在根据本公开内容实施方式的磁记录介质和磁记录/再现装置中，整个所述磁记录介质的bet比表面积是3.5m2/g以上。因此，所述润滑剂被稳定地供应至所述磁记录介质的表面。而且，由于所述磁性层的表面的峰度是3.0以上且所述润滑剂包括预定组分，因而所述磁性层的表面和所述磁头之间的接触可在行进期间保持良好。
附图说明
11.图1根据本公开内容实施方式的磁记录介质的截面图。
12.图2a是图解图1中示出的磁记录介质中的数据带和伺服带的布局的示意性解释图。
13.图2b是以放大的方式图解图2a中示出的数据带的示意性解释图。
14.图3是示意性图解图1中示出的磁性层中包括的ε-氧化铁的截面结构的示意图。
15.图4是图解图1中示出的磁记录介质的sfd曲线的示例的曲线图。
16.图5是使用图1中示出的磁记录介质的记录/再现装置的示意图。
17.图6是示意性图解作为改进的ε-氧化铁颗粒的截面结构的截面图。
18.图7是作为另一改进的磁记录介质的截面图。
19.图8是图解用于测量动摩擦系数的方法的示意图。
具体实施方式
20.在下文中，将参照附图详细描述本公开内容的实施方式。注意，将按下述顺序做出该描述。
21.1、一个实施方式
22.1-1、磁记录介质的配置
23.1-2、用于制造磁记录介质的方法
24.1-3、记录/再现装置的配置
25.1-4、效果
26.2、改进
27.《1、一个实施方式》
28.[1-1、磁记录介质10的配置]
[0029]
图1图解了根据本公开内容实施方式的磁记录介质10的截面配置示例。如图1中所示，磁记录介质10具有在其中层压有多个层的层压结构。具体而言，磁记录介质10包括长带状基底11、设置在基底11的一个主表面11a上的基础层12、设置在基础层12上的磁性层13、和设置在基底11的另一主表面11b上的背层14。磁性层13的表面13s是磁头在与表面13s接触的同时在其上行进的表面。注意，基础层12和背层14在必要时设置，并且可省略。注意，磁记录介质10的平均厚度优选例如是5.6μm以下。
[0030]
磁记录介质10具有长带状，并且在记录和再现操作期间在其自己的纵向上行进。磁记录介质10优选用于例如包括环型磁头作为记录磁头的记录/再现装置。
[0031]
(基底11)
[0032]
基底11是用于支撑基础层12和磁性层13的非磁性支撑体。基底11具有长膜状。基底11的平均厚度的上限值优选是4.2μm以下、且更优选是4.0μm以下。当基底11的平均厚度的上限值是4.2μm以下时，与通常的磁记录介质相比可增加可在一个数据盒中记录的记录容量。基底11的平均厚度的下限值优选是3μm以上、且更优选是3.2μm以上。当基底11的平均厚度的下限值是3μm以上时，可抑制基底11的强度的降低。
[0033]
按下述测定基底11的平均厚度。首先，制备厚度为1/2英寸的磁记录介质10，并切割成长度为250mm以制造样品。随后，利用诸如甲乙酮(mek)或稀盐酸之类的溶剂移除样品
除基底11以外的层，即，基础层12、磁性层13、和背层14。接下来，使用由mitutoyo corporation制造的激光全息测微计(lgh-110c)作为测量装置，在五个或更多个点处测量作为样品的基底11的厚度。在此之后，将测量值进行简单地平均(算术平均)以计算基底11的平均厚度。注意，从样品中随机选择测量点。
[0034]
基底11包括，例如，聚酯作为主要组分。基底11可包括聚烯烃、纤维素衍生物、乙烯基树脂、和除聚酯之外的另一聚合物树脂中的至少一者。在基底11包括上述材料中的两者或更多者的情况下，这两种或更多种材料可进行混合、共聚、或层压。
[0035]
基底11中包括的聚酯包括，例如，聚对苯二甲酸乙二醇酯(pet)、聚萘二甲酸乙二醇酯(pen)、聚对苯二甲酸丁二醇酯(pbt)、聚萘二甲酸丁二醇酯(pbn)、聚对苯二甲酸环己烷二甲醇酯(pct)、聚对氧苯甲酸乙二醇酯(peb)、和聚双苯氧基羧酸乙二醇酯中的至少一者。
[0036]
基底11中包括的聚烯烃包括，例如，聚乙烯(pe)和聚丙烯(pp)中的至少一者。纤维素衍生物包括，例如，二乙酸纤维素、三乙酸纤维素、乙酸丁酸纤维素(cab)、和乙酸丙酸纤维素(cap)中的至少一者。乙烯基类树脂包括，例如，聚氯乙烯(pvc)和聚偏二氯乙烯(pvdc)中的至少一者。
[0037]
基底11中包括的另一聚合物树脂包括，例如，聚酰胺或尼龙(pa)、芳香族聚酰胺或芳族聚酰胺(芳香族pa)、聚酰亚胺(pi)、芳香族聚酰亚胺(芳香族pi)、聚酰胺酰亚胺(pai)、芳香族聚酰胺酰亚胺(芳香族pai)、诸如zylon(注册商标)之类的聚苯并唑(pbo)、聚醚、聚醚酮(pek)、聚醚酯、聚醚砜(pes)、聚醚酰亚胺(pei)、聚砜(psf)、聚苯硫醚(pps)、聚碳酸酯(pc)、聚芳酯(par)、和聚氨酯(pu)中的至少一者。
[0038]
(磁性层13)
[0039]
磁性层13是用于记录信号的记录层。磁性层13包括，例如，磁性粉末、粘合剂、和润滑剂。磁性层13可在必要时进一步包括诸如到导电颗粒、研磨料、或防锈剂之类的添加剂。
[0040]
磁性层13具有表面13s，其具有大量的孔13a。大量的孔13a存储润滑剂。磁性层13的表面13s的峰度，例如，优选是3.0以上且更优选是3.5以上。大量的孔13a优选在垂直于磁性层13的表面的方向上延伸。这是因为可改善将润滑剂供应至磁性层13的表面13s的性质。注意，大量的孔13a中的一些可在垂直方向上延伸。
[0041]
按如下测量磁性层13的表面13s的峰度。首先，制备宽度为12.65mm的磁记录介质10，并切割成100mm的长度，以制造样品。接下来，将样品放置在载玻片上，待测量样品的表面(磁性层13的表面13s)向上，并将样品的一端用修补胶带固定。使用vert scan(物镜：50倍)作为测量装置测量表面的形状，并在iso 25178标准的基础上从下述数值计算公式1中描述的公式测定峰度sku。
[0042]
装置：利用光学干涉的非接触粗糙度仪
[0043]
(由ryoka systems inc.制造的非接触表面/层横截面形状测量系统vert scan r5500gl-m100-ac)
[0044]
物镜：50倍
[0045]
ccd：1/3英寸
[0046]
测量面积：640
×
480像素(视野：约95μm
×
71μm)
[0047]
测量模式：相位
[0048]
波长滤波器：520nm
[0049]
降噪滤波器平滑3
×3[0050]
表面修正：用二次多项式近似表面修正
[0051]
测量软件：vs-measure version 5.5.2
[0052]
分析软件：vs-viewer version 5.5.5
[0053]
如上所述，在纵向上的五个以上的点处测量峰度，然后采取在五个处的获得值的平均值。
[0054]
[数值计算公式1]
[0055][0056]
在此，公式中的符号表示下述含义。
[0057][0058]
a：样品的数量
[0059]
x：样品的水平方向
[0060]
y：样品的垂直方向
[0061]
z：高度
[0062]
磁性层13的表面13s的算术平均粗糙度ra是2.5nm以下、优选是2.2nm以下、且更优选是1.9nm以下。当算术平均粗糙度ra是2.5nm以下时，可获得优异的电磁转换特性。磁性层13的表面13s的算术平均粗糙度ra的下限值优选是1.0nm以上、且更优选是1.2nm以上、且还更优选是1.4nm以上。当磁性层13的表面13s的算术平均粗糙度ra是1.0nm以上时，可抑制因摩擦力的增加导致的行进性能的降低。
[0063]
按如下测定算术平均粗糙度ra。首先，通过原子力显微镜(afm)观测磁性层13的表面，以获得40μm
×
40μm的afm图像。作为afm，使用由digital instruments制造的nano scope iiia d3100。使用包括硅单晶的悬臂。通过以200hz至400hz作为敲击频率进行调谐来执行测量。作为悬臂，例如，可使用由nano world制造的“spm探针nch常规型point probe l(悬臂长度)＝125μm”。接下来，将afm图像分为512
×
512(＝262,144)个测量点。在每一个测量点处测量高度z(i)(i：测量点数，i＝1至262,144)。将在测量点处测量的高度z(i)进行简单地平均(算术平均)以测定平均高度(平均平面)z
ave
(＝z(1)+z(2)+
…
+z(262,144))/262,144)。随后，测定在每一个测量点处与平均中心线的偏差z“(i)(＝|z(i)-z
ave
|)，并计算算术平均粗糙度ra[nm](＝(z”(1)+z“(2)+
…
+z”(262,144))/262,144)。在这种情况下，作为图像处理，将已由2阶flatten和3阶xy平面拟合进行滤波处理的数据被用作数据。
[0064]
整个磁记录介质10在已从所述磁记录介质移除润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下的bet比表面积的下限值是3.5m2/g以上、优选是4.0m2/g以上、更优选是4.5m2/g以上、且还更优选是5.0m2/g以上。当bet比表面积的下限值是3.5m2/g以上时，即使
在反复地执行了记录或再现之后(即，即使磁记录介质10在磁头与磁记录介质10的表面接触的同时反复地行进之后)，也可抑制供应至磁性层13的表面13s和磁头之间的空间的润滑剂的量的降低。因此，可抑制动摩擦系数的增加。
[0065]
整个磁记录介质10在已从所述磁记录介质移除润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下的bet比表面积的上限值优选是7.0m2/g以下、更优选是6.0m2/g以下、且还更优选是5.5m2/g以下。当bet比表面积的上限值是7.0m2/g以下时，即使在行进多次之后也可在没有耗尽的情况下充分地供应润滑剂。因此，可抑制动摩擦系数的增加。
[0066]
在已从磁记录介质10移除润滑剂并且磁记录介质10已进行干燥的状态下的磁记录介质10是指通过在室温下将磁记录介质10浸没在己烷中24小时、然后将磁记录介质10从己烷中取出、并自然地干燥磁记录介质10而获得的磁记录介质10。
[0067]
通过bjh法测定的整个磁记录介质10的平均孔径是6nm以上且12nm以下、优选是7nm以上且11nm以下、且更优选是7.5nm以上且11nm以下。当平均孔径是6nm以上且12nm以下时，可进一步改善上述的抑制动摩擦系数增加的效果。
[0068]
按下述测定bet比表面积和孔分布(孔体积和最大孔体积的孔径)。首先，将尺寸比0.1265m2面积大了约10％的磁记录介质10浸没在己烷(可充分浸没磁带的量，例如150ml)中24小时，然后自然干燥，并进行切割以具有0.1265m2的面积(例如，在干燥的磁带的每一端切除50cm以制备宽度为10m的磁带)，从而制造测量样品。接下来，使用比表面积/细孔分布测量装置，通过bjh法来测定孔分布(孔体积和平均孔径)。测量装置和测量条件按以下所示。以这种方式测量了孔的平均直径。
[0069]
测量环境：室温
[0070]
测量装置：由micromeritics instrument corp.制造的3flex
[0071]
测量吸附质：n2气体
[0072]
测量压力范围(p/p0)：0至0.995
[0073]
对于测量压力范围，如下表1中所示改变压力。在下表中的压力值是相对压力p/p0。在下表1中，例如，在步骤1中，改变压力以便从起始压力0.000至最终压力0.010每10秒改变0.001。当压力达到最终压力时，执行下一步骤中的压力变化。这也适用于步骤2至10。然而，在每一步骤中，在压力未达到平衡的情况下，装置静待压力达到平衡，然后进行下一步骤。
[0074]
[表1]
[0075]
步骤起始压力压力变化最终压力10.0000.001/10sec0.01020.0100.02/10sec0.10030.1000.05/10sec0.60040.6000.05/10sec0.95050.9500.05/10sec0.99060.9900.05/10sec0.99570.9950.01/10sec0.99080.9900.01/10sec0.95090.9500.05/10sec0.600
100.6000.05/10sec0.300
[0076]
例如，如图2a中所示，磁性层13优选预先具有多个伺服带sb和多个数据带db。图2a是图解磁记录介质10中的数据带db和伺服带sb的布局的示意性解释图，并图解了在与具有层压结构的磁记录介质10的层压方向正交的平面中的布局。如图2a中所示，多个伺服带sb以等间隔设置在磁记录介质10的宽度方向上。磁记录介质10的宽度方向是与磁记录介质的纵向及其层压方向两者均正交的方向。数据带db设置在宽度方向上的相邻伺服带sb之间。在伺服带sb中，预先写入用于执行磁头的寻道控制的伺服信号。用户数据被记录在数据带db中。
[0077]
从确保高记录容量的角度来看，伺服带sb的总面积s
sb
相对于磁性层13的表面13s的面积s的比例rs(＝(s
sb
/s)
×
100)的上限值优选是4.0％以下、更优选是3.0％以下、且还更优选是2.0％以下。同时，从确保5个或者更多个伺服磁道的角度来看，伺服带sb的总面积s
sb
相对于磁性层13的表面13s的面积s的比例rs的下限值优选是0.8％以上。
[0078]
例如，可通过使用铁素体显影剂(由sigma hi-chemical inc.制造的sigmarker q)对磁记录介质10进行显影、然后用光学显微镜观测显影的磁记录介质10来测量伺服带sb的总面积s
sb
相对于磁性层13的表面的面积s的比例rs。从光学显微镜的观测图像测量伺服带宽w
sb
和伺服带sb的数量。接下来，从以下公式测定比例rs。
[0079]
比例rs[％]＝(((伺服带宽w
sb
)
×
(伺服带的数量))/(磁记录介质10的宽度))
×
100
[0080]
伺服带sb的数量优选是5个以上、且更优选是5+4n(n是正整数)个以上。当伺服带sb的数量是5个以上时，可抑制因磁记录介质10在其宽度方向上的尺寸变化导致的对伺服信号的影响，并且可确保具有更少磁道偏离的稳定记录/再现特性。
[0081]
从确保高记录容量的角度来看，伺服带宽w
sb
的上限值优选是95μm以下、更优选是60μm以下、且还更优选是30μm以下。从制造记录磁头的角度来看，伺服带宽w
sb
的下限值优选是10μm以上。可按如下测定伺服带宽w
sb
的宽度。首先，使用铁素体显影剂(由sigma hi-chemical inc.制造的sigmarker q)对磁记录介质10进行显影。接下来，用光学显微镜观测显影的磁记录介质10，并由此可测量伺服带宽w
sb
的宽度。
[0082]
如图2b中所示，磁性层13可在数据带db中形成多个数据磁道tk。在这种情况下，从确保高记录容量的角度来看，数据磁道宽度w
tk
的上限值优选是2.0μm以下、更优选是1.5μm以下、且还更优选是1.0μm以下。从磁性颗粒尺寸的角度来看，数据磁道宽度w
tk
的下限值优选是0.02μm以上。
[0083]
磁性层13可记录数据，使得从确保高记录容量的角度来看，磁化反转之间的距离l的最小值优选是48nm以下、更优选是44nm以下、且还更优选是40nm以下。从磁性颗粒尺寸的角度考虑了磁化反转之间的距离l的最小值的下限值。
[0084]
磁性层13的平均厚度的上限值优选是90nm以下、特别优选是80nm以下、更优选是70nm以下、且还更优选是50nm以下。当磁性层13的平均厚度的上限值是90nm以下时，在环型磁头被用作记录磁头的情况下，可在磁性层13的厚度方向上均匀地记录磁化，并因此可改善电磁转换特性。
[0085]
磁性层13的平均厚度的下限值优选是35nm以上。当磁性层13的平均厚度的上限值是35nm以上时，可在mr型磁头被用作再现磁头的情况下确保输出，并因此可改善电磁转换
特性。
[0086]
可按下述测定磁性层13的平均厚度。首先通过气相沉积法在磁记录介质10的磁性层13的表面13s和磁记录介质10的背层14的表面14s上形成碳膜。在此之后，通过气相沉积法在覆盖磁性层13的表面13s的碳膜上进一步形成钨薄膜。碳膜和钨膜在随后描述的薄化工序中保护样品。
[0087]
接下来，通过聚焦离子束(fib)法和类似者来加工磁记录介质10以进行薄化。在使用fib法的情况下，作为随后描述的用于观测横截面的tem图像的预处理，将碳膜和钨薄膜形成为保护膜。通过气相沉积法在磁记录介质10的磁性层一侧的表面上和其背层一侧的表面上形成碳膜，并通过气相沉积法或者溅射法在磁性层一侧的表面上进一步形成钨薄膜。在磁记录介质10的长度方向(纵向)上执行薄化。这就是说，通过薄化，形成了平行于磁记录介质10的纵向和其厚度方向两者的横截面。在下述条件下用透射电子显微镜(tem)观测获得的薄化样品的横截面。注意，可根据装置的类型适当地调整放大倍数和加速电压。
[0088]
装置：tem(由hitachi，ltd.制造的h9000nar)
[0089]
加速电压：300kv
[0090]
放大倍数：100,000倍
[0091]
接下来，使用获得的tem图像，在磁记录介质10的纵向上的10个或者更多个点处测量磁性层13的厚度。通过简单平均(算术平均)获得的测量值得到的平均值被采取为磁性层13的平均厚度。注意，从试样中随机选择执行测量的点。
[0092]
(磁性粉末)
[0093]
磁性粉末包括，例如，含ε氧化铁(在下文中被称为ε氧化铁颗粒)的纳米颗粒的粉末。即使ε氧化铁颗粒是细微颗粒，ε氧化铁颗粒也可获得高矫顽力。ε氧化铁颗粒中包含的ε氧化铁优选在磁记录介质10的厚度方向(垂直方向)上择优地晶体定向。
[0094]
图3是示意性图解磁性层13中包括的ε氧化铁颗粒20的截面结构的示例的截面图。如图3中所示，ε氧化铁颗粒20具有球形形状或实质上球形的形状、或者具有立方体形状或实质上立方体的形状。由于ε氧化铁颗粒20具有如上所述的形状，因而在ε氧化铁颗粒被用作磁性颗粒的情况下，可减小在磁记录介质10的厚度方向上的颗粒之间的接触区域，并且与六方板状钡铁氧体颗粒被用作磁性颗粒的情形相比可抑制颗粒的聚集。因此，可增强磁性粉末的分散度，并且可获得更好的信号相对于噪声的比例(snr)。
[0095]
ε氧化铁颗粒20具有，例如，核-壳型结构。具体而言，如图3中所示，ε氧化铁颗粒20具有核部分21和围绕核部分21设置的两层的壳部分22。两层的壳部分22包括设置在核部分21上的第一壳部分22a和设置在第一壳部分22a上的第二壳部分22b。
[0096]
ε氧化铁颗粒20中的核部分21包括ε氧化铁。核部分21中包括的ε氧化铁优选包括ε-fe2o3晶体作为主相，且更优选包括ε-fe2o3作为单一相。
[0097]
第一壳部分22a覆盖核部分21周围的至少一部分。具体而言，第一壳部分22a可部分地覆盖核部分21的周围，或者可覆盖核部分21的全部周围。从使核部分21和第一壳部分22a之间的交换偶联充分以及改善磁特性的角度来看，第一壳部分22a优选覆盖核部分21的全部表面。
[0098]
第一壳部分22a是所谓的软磁性层，并且包括，例如，诸如α-fe、ni-fe合金、或者fe-si-al合金之类的软磁性材料。可通过还原核部分21中包含的ε氧化铁来获得α-fe。
[0099]
第二壳部分22b是作为抗氧化剂层的氧化物膜。第二壳部分22b包括α氧化铁、氧化铝、或者氧化硅。α-氧化铁包括，例如，fe3o4、fe2o3、和feo中的至少一种氧化铁。在第一壳部分22a包括α-fe(软磁性材料)的情况下，可通过氧化第一壳部分22a中包括的α-fe来获得α-氧化铁。
[0100]
通过如上所述在ε氧化铁颗粒20中包括第一壳部分22a，可将全部ε氧化铁颗粒(核-壳颗粒)20的矫顽力hc调整至适合于记录的矫顽力hc，同时只将核部分21的矫顽力hc保持在较大值以便确保热稳定性。而且，通过如上所述在ε氧化铁颗粒中包括第二壳部分22b，可抑制因在制造磁记录介质10的步骤期间和在该步骤之前ε氧化铁颗粒20暴露于空气而在颗粒的表面上产生锈迹或类似物导致的ε氧化铁颗粒20特性的劣化。因此，可通过用第二壳部分22b覆盖第一壳部分22a来抑制磁记录介质10的特性劣化。
[0101]
磁性粉末的平均粒径(平均最大粒径)优选是25nm以下、更优选是8nm以上且22nm以下、且还更优选是12nm以上且22nm以下。在磁记录介质10中，具有记录波长一半尺寸的区域是真实的磁化区域。因此，通过将磁性粉末的平均粒径设定为最短记录波长的一半以下，可获得良好的s/n。因此，当磁性粉末的平均粒径是22nm以下时，在具有高记录密度的磁记录介质10(例如，可以50nm以下的最短记录波长记录信号的磁记录介质10)中，可获得良好的电磁转换特性(例如，snr)。同时，当磁性粉末的平均粒径是8nm以上时，进一步改善了磁性粉末的分散度，并可获得更好的电磁转换特性(例如，snr)。
[0102]
磁性粉末的平均纵横比优选是1.0以上且3.0以下、更优选是1以上且2.8以下、还更优选是1以上且1.8以下。当磁性粉末的平均纵横比在1以上且3.0以下的范围内时，可抑制磁性粉末的聚集，并且当磁性粉末在形成磁性层13的步骤中进行垂直定向时，可抑制施加至磁性粉末的阻力。因此，可改善磁性粉末的垂直定向。
[0103]
可按下述测定上述的磁性粉末的平均粒径和平均纵横比。首先，通过聚焦离子束(fib)法和类似者来加工待测量的磁记录介质10以进行薄化。在磁带的长度方向(纵向)上执行薄化。这就是说，这种薄化形成了平行于磁记录介质10的纵向和其厚度方向两者的横截面。对获得的薄化样品执行横截面观测，使得利用加速电压为200kv和整体放大倍数为500,000倍的透射电子显微镜(由hitachi high-technologies制造的h-9500)而相对于磁性层13的厚度方向包括全部磁性层13，并成像tem照片。接下来，从成像的tem照片中随机选择50个颗粒，并测量每一个颗粒的长轴长度dl和短轴长度ds。在此，长轴长度dl意指从所有角度拉伸出以便与每一个颗粒的轮廓接触的两条平行直线之间的距离中的最大距离(所谓的最大feret直径)。同时，短轴长度ds意指在与颗粒的长轴(dl)正交的方向上的颗粒的长度中的最大长度。
[0104]
随后，测量的50个颗粒的长轴长度dl进行简单地平均(算术平均)以测定平均长轴长度dl
ave
。以这种方式测定的平均长轴长度dl
ave
被采取为磁性粉末的平均粒径。而且，测量的50个颗粒的短轴长度ds进行简单地平均(算术平均)以测定平均短轴长度ds
ave
。然后，从平均长轴长度dl
ave
和平均短轴长度ds
ave
中测定颗粒的平均纵横比(dl
ave
/ds
ave
)。
[0105]
磁性粉末的平均颗粒体积优选是5500nm3以下、更优选是270nm3以上且5500nm3以下、且还更优选是900nm3以上且5500nm3以下。当磁性粉末的平均颗粒体积是5500nm3以下时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是22nm以下的情况下类似的效果。同时，当磁性粉末的平均颗粒体积是270nm3以上时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是8nm以上的情况下类似
的效果。
[0106]
在ε氧化铁颗粒20具有球形形状或者大体球形形状的情况下，按下述测定磁性粉末的平均颗粒体积。首先，以与上述计算磁性粉末的平均粒径的方法类似的方式测定平均长轴长度dl
ave
。接下来，通过以下公式测定磁性粉末的平均体积v。
[0107]
v＝(π/6)
×
(dl
ave
)3[0108]
(粘合剂)
[0109]
作为粘合剂，优选具有在其中将交联反应赋予聚氨酯基树脂、氯乙烯基树脂、和类似者的结构的树脂。然而，粘合剂不限于这些树脂，并且可根据磁记录介质10所需的物理性质以及类似者而适当地共混其他树脂。通常，待共混的树脂没有特别的限制，只要通常用于应用型磁记录介质10中即可。
[0110]
待共混的树脂的示例包括聚氯乙烯、聚乙酸乙烯酯、氯乙烯-乙酸乙烯酯共聚物、氯乙烯-偏二氯乙烯共聚物、氯乙烯-丙烯腈共聚物、丙烯酸酯-丙烯腈共聚物、丙烯酸酯-氯乙烯-偏二氯乙烯共聚物、丙烯酸酯-偏二氯乙烯共聚物、甲基丙烯酸酯-偏二氯乙烯共聚物、甲基丙烯酸酯-氯乙烯共聚物、甲基丙烯酸酯-乙烯共聚物、聚氟乙烯、偏二氯乙烯-丙烯腈共聚物、丙烯腈-丁二烯共聚物、聚酰胺树脂、聚乙烯醇缩丁醛、纤维素衍生物(乙酸丁酸纤维素、二乙酸纤维素、三乙酸纤维素、丙酸纤维素、和硝基纤维素)、苯乙烯-丁二烯共聚物、聚酯树脂、氨基树脂、合成橡胶、和类似者。
[0111]
而且，热固性树脂或者反应性树脂的示例包括酚醛树脂、环氧树脂、尿素树脂、三聚氰胺树脂、醇酸树脂、硅酮树脂、聚胺树脂和脲醛树脂。
[0112]
而且，为了改善磁性粉末的分散度，诸如-so3m、-oso3m、-coom、或者p＝o(om)2之类的极性官能团可被引入至上述粘合剂中的每一者中。在此，在上述的化学式中，m表示氢原子或者诸如锂、钾、或者钠之类的碱金属。
[0113]
而且，极性官能团的示例包括具有-nr1r2或者-nr1r2r3
+
x-的端基的侧链型基团和＞nr1r2
+
x-的主链型基团。在此，在上述式中，r1、r2、和r3各自表示氢原子或者烃基，且x-表示诸如氟、氯、溴、或者碘之类的卤族元素离子、或者无机或有机离子。而且，极性官能团的示例包括-oh、-sh、-cn、和环氧基。
[0114]
(润滑剂)
[0115]
磁性层13中包括的润滑剂包括，例如，脂肪酸和脂肪酸酯。润滑剂中包括的脂肪酸优选包括，例如，由下述通式《1》表示的化合物和由下述通式《2》表示的化合物中的至少一者。而且，润滑剂中包括的脂肪酸酯优选包括，例如，由下述通式《3》表示的化合物和由下述通式《4》表示的化合物中的至少一者。通过在润滑剂中包括由通式《1》表示的化合物和由通式《3》表示的化合物的两种化合物、包括由通式《2》表示的化合物和由通式《3》表示的化合物的两种化合物、包括由通式《1》表示的化合物和由通式《4》表示的化合物的两种化合物、包括由通式《2》表示的化合物和由通式《4》表示的化合物的两种化合物、包括由通式《1》表示的化合物、由通式《2》表示的化合物、和由通式《3》表示的化合物的三种化合物、包括由通式《1》表示的化合物、由通式《2》表示的化合物、和由通式《4》表示的化合物的三种化合物、包括由通式《1》表示的化合物、由通式《3》表示的化合物、和由通式《4》表示的化合物的三种化合物、包括由通式《2》表示的化合物、由通式《3》表示的化合物、和由通式《4》表示的化合物的三种化合物、或者包括由通式《1》表示的化合物、由通式《2》表示的化合物、由通式《3》
表示的化合物、和由通式《4》表示的化合物的四种化合物，可抑制因在磁记录介质10中反复记录或者再现而导致的动摩擦系数增加。结果，可进一步改善磁记录介质10的行进性能。
[0116]
ch3(ch2)kcooh...《1》
[0117]
(条件是，在通式《1》中，k是选自14以上且22以下的范围、更优选14以上且18以下的范围的整数)
[0118]
ch3(ch2)nch＝ch(ch2)mcooh...《2》
[0119]
(条件是，在通式《2》中，n和m的加和是选自12以上且20以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数)
[0120]
ch3(ch2)
p
coo(ch2)qch3...《3》
[0121]
(条件是，在通式《3》中，p是选自14以上且22以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数，并且q是选自2以上且5以下的范围、更优选地2以上且4以下的范围的整数)
[0122]
ch3(ch2)
p
coo-(ch2)qch(ch3)2...《4》
[0123]
(条件是，在通式《2》中，p是选自14以上且22以下的范围的整数，并且q是选自1以上且3以下的范围的整数)。
[0124]
通过己烷从磁记录介质10中萃取的脂肪酸和脂肪酸酯的质量比，即，润滑剂中包括的脂肪酸的含量相对于润滑剂中包括的脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)，例如，优选小于0.6、且更优选满足脂肪酸/脂肪酸酯≤0.55。当质量比在这一数字范围内时，可抑制在反复地执行记录或再现之后动摩擦系数的增加。而且，这是因为通过在以相对高的速度行进期间减少磁性层13的表面13s和磁头之间的摩擦力的脂肪酸酯的含量大于在以相对低的速度行进期间减少磁性层13的表面13s和磁头之间的摩擦力的脂肪酸的含量而改善了高速度的行进稳定性。比例(脂肪酸/脂肪酸酯)更优选是0.35以下、且还更优选是0.20以下。这是因为进一步改善了高速度稳定性。
[0125]
可按下述测量上述的质量比。首先，将描述制备与待测量的磁记录介质中使用的润滑剂中相同的脂肪酸和脂肪酸酯的校正曲线和制备用于校正曲线的样品。取大约1mg、2mg、和3mg的脂肪酸，并用天平测量大量的三种脂肪酸样品。将三种脂肪酸样品中的每一者溶解在100ml乙腈/水＝100/3(质量比)的溶剂中，以制备三种类型校正曲线样品。类似地，取5mg、10mg、和15mg脂肪酸酯，并用天平测量大量的三种脂肪酸酯样品。将三种脂肪酸酯样品中的每一者溶解在100ml乙腈/水＝100/3(质量比)的溶剂中，以制备三种类型的校正曲线样品。利用谱测定每一种校正曲线样品的脂肪酸或者脂肪酸酯的峰高，并在大量的每一种校正曲线样品的脂肪酸或脂肪酸酯以及峰高的基础上制备校正曲线。
[0126]
接下来，制备长度为10m且宽度为12.65mm的测量靶磁记录介质，浸没在120ml的己烷溶液中，并搅拌五分钟以萃取润滑剂。用量筒测量并量取已从中萃取润滑剂的100ml己烷溶液。在此之后，己烷用蒸发器进行蒸发(可在通风橱中挥发)。接下来，将萃出的润滑剂溶解在5ml乙腈/水＝100/3(质量比)的溶剂中，并利用谱测定脂肪酸和脂肪酸酯的峰高。从峰高和预先制备的校正曲线中测定脂肪酸和脂肪酸酯的质量，并计算脂肪酸和脂肪酸酯之间的质量比。
[0127]
谱测量条件如下所示：
[0128]
谱类型：反相谱
[0129]
检测器：shodex ri-101(由shodex制造的ri检测器)
[0130]
使用的谱柱：intersil ods-2(gl science)ods 2.5μm 4.6
×
150mm(w)
[0131]
分析软件：sic-480ii xp(由system instruments制造的谱数据分析软件)
[0132]
载体：乙腈/水＝100/3(质量比)
[0133]
(添加剂)
[0134]
作为非磁性增强颗粒，磁性层13可进一步包括氧化铝(α、β、或者γ氧化铝)、氧化铬、氧化硅、金刚石、石榴石、刚玉粉、氮化硼、碳化钛、碳化硅、碳化钛、氧化钛(金红石型或者锐钛矿型氧化钛)、和类似者。
[0135]
(基础层12)
[0136]
基础层12是包含非磁性粉末和粘合剂的非磁性层。基础层12可在必要时进一步包括选自润滑剂、导电颗粒、固化剂、防锈剂、以及类似者中的至少一种添加剂。而且，基础层12可具有通过层压多个层而形成的多层结构。基础层12的平均厚度优选是0.5μm以上且0.9μm以下、且更优选是0.6μm以上且0.7μm以下。通过将基础层12的平均厚度减少至0.9μm以下，与在减少基底11的厚度的情况下相比，更有效地减少了整个磁记录介质10的杨氏模量。出于这一原因，相对于磁记录介质10的拉力控制是容易的。而且，通过将基础层12的平均厚度设定为0.5μm以上，确保了基底11和基础层12之间的粘合力。除此之外，可抑制基础层12的厚度的变化，并且可防止磁性层13的表面13s的粗糙度的增加。
[0137]
注意，例如按下述获得基础层12的平均厚度。首先，制备宽度为1/2英寸的磁记录介质10并切割成250mm的长度以制造样品。随后，在作为样品的磁记录介质10中，从基底11剥离基础层12和磁性层13。接下来，使用由mitutoyo corporation制造的激光全息测微计(lgh-110c)作为测量装置，在五个以上的点处测量从基底11剥离的基础层12和磁性层13的层压体的厚度。在此之后，将测量值进行简单地平均(算术平均)以计算基础层12和磁性层13的层压体的平均厚度。注意，从样品中随机选择测量点。最终，通过从层压体的厚度减去如上所述利用tem测量的磁性层13的平均厚度来测定基础层12的平均厚度。
[0138]
基础层12可具有孔，这就是说，基础层12可具有大量的孔。基础层12的孔可例如与磁性层13中的孔(孔13a)的形成一起形成，并且特别是，可通过对抗磁性层一侧的表面压制磁记录介质10的背层14一侧的表面14s上形成的大量凸起来形成。这就是说，通过形成与在磁性层13的表面13s上的凸起形状相对应的凹部，可在磁性层13和基础层12中形成孔。而且，孔可随着溶剂在干燥磁性层形成涂料的步骤中挥发而形成。而且，当将磁性层形成涂料施加至基础层12的表面以便形成磁性层13时，磁性层形成涂料中的溶剂穿过在施加并干燥底层时形成的基础层12的孔，并可渗入基础层12。在此之后，当已渗入基础层12的溶剂在干燥磁性层13的步骤中挥发时，已渗入基础层12的溶剂从基础层12移动至磁性层13的表面13s，由此可形成孔。以这种方式形成的孔例如可使磁性层13与基础层12相通。孔的平均直径可通过调整磁性层形成涂料的固成分或者其溶剂类型和/或磁性层形成涂料的干燥条件来进行调整。通过在磁性层13和基础层12两者中形成孔，在磁性层一侧的表面上出现对于良好的行进稳定性来说特别合适量的润滑剂，并且可进一步抑制因反复记录或再现导致的动摩擦系数的增加。
[0139]
从抑制反复的记录或再现之后动摩擦系数降低的角度来看，基础层12的孔优选连接至磁性层13的孔13a。在此，基础层12的孔连接至磁性层13的孔13a的状态包括基础层12
的大量的孔中的一些连接至磁性层13的大量的孔13a中的一些的状态。
[0140]
从改善将润滑剂供应至磁性层13的表面13s的性质的角度来看，大量的孔优选包括在垂直于磁性层13的表面13s的方向上延伸的那些。而且，从改善将润滑剂供应至磁性层13的表面13s的性质的角度来看，在垂直于磁性层13的表面13s的方向上延伸的基础层12的孔优选连接至在垂直于磁性层13的表面13s的方向上延伸的磁性层13的孔13a。
[0141]
(基础层12的非磁性粉末)
[0142]
非磁性粉末包括，例如，无机颗粒粉末和有机颗粒粉末中的至少一者。而且，非磁性粉末可包括诸如炭黑之类的碳粉末。注意，可单一地使用一种非磁性粉末，或者可组合使用两种或更多种非磁性粉末。无机粉末的示例包括金属、金属氧化物、金属碳酸盐、金属硫酸盐、金属氮化物、金属碳化物、金属硫化物、和类似者。非磁性粉末的形状的示例包括诸如针状、球状、立方体状、和板状之类的各种形状，但不限于此。
[0143]
(基础层12中的粘合剂)
[0144]
基础层12中的粘合剂类似于上述的磁性层13中的粘合剂。
[0145]
(背层14)
[0146]
背层14包括，例如，粘合剂和非磁性粉末。背层14在必要时可进一步包括选自润滑剂、固化剂、抗静电剂、和类似者的至少一种添加剂。背层14中的粘合剂和非磁性粉末类似于上述的基础层12中的那些。
[0147]
背层14中的非磁性粉末具有优选10nm以上且150nm以下、更优选15nm以上且110nm以下的平均粒径。以与上述的磁性层13中的磁性粉末的平均粒径类似的方式测定背层14的非磁性粉末的平均粒径。非磁性粉末可包括孔径分布为2以上的那些。
[0148]
背层14的平均厚度的上限值优选是0.6μm以下、且更优选是0.5μm以下。当背层14的平均厚度的上限值是0.6μm以下时，即使在磁记录介质10的平均厚度是5.6μm以下的情况下，也可将基础层12和基底11的厚度保持得厚。因此，可保持记录/再现装置中的记录介质10的行进稳定性。背层14的平均厚度的下限值没有特别的限制，但例如是0.2μm以上、且特别优选是0.3μm以上。
[0149]
按下述测定背层14的平均厚度。首先，制备宽度为1/2英寸的磁记录介质10并切割成250mm的长度以制造样品。接下来，使用由mitutoyo corporation制造的激光全息测微计(lgh-110c)作为测量装置在五个以上的点处测量作为样品的磁记录介质10的厚度，并将测量值进行简单地平均(算术平均)以计算磁记录介质10的平均厚度t
t
[μm]。注意，从样品中随机选择测量点。随后，用诸如甲乙酮(mek)或者稀盐酸之类的溶剂从作为样品的磁记录介质10取出背层14。在此之后，再次使用上述的激光全息测微计，在五个以上的点处测量通过从磁记录介质10除去背层14而获得的样品的厚度，并将这些测量值进行简单地平均(算术平均)以计算已从中除去背层14的磁记录介质10的平均厚度tb[μm]。注意，从样品中随机选择测量点。最后，通过下式来测定背层14的平均厚度tb[μm]。
[0150]
tb[μm]＝t
t
[μm]-tb[μm]
[0151]
如图1中所示，背层14的表面具有大量凸起14a。大量凸起14a用于在已将磁记录介质10卷绕成卷状的状态下在磁性层13的表面13s上形成大量的孔13a。大量的孔13a通过，例如，从背层13的表面凸出的大量非磁性颗粒来形成。
[0152]
(磁记录介质10的平均厚度)
[0153]
磁记录介质10的平均厚度(平均总厚度)的上限值优选是5.6μm以下、更优选是5.0μm以下、特别优选是4.6μm以下、且还更优选是4.4μm以下。当磁记录介质10的平均厚度是5.6μm以下时，与通常的磁记录介质相比，可增加在一个数据盒中可记录的记录容量。磁记录介质10的平均厚度的下限值没有特别的限制，但例如是3.5μm以上。
[0154]
按如下获得磁记录介质10的平均厚度tt。首先，制备厚度为1/2英寸的磁记录介质10，并切割成长度为250mm以制造样品。接下来，使用由mitutoyo corporation制造的激光全息测微计(lgh-110c)作为测量装置，在五个或更多个点处测量样品的厚度，并将测量值进行简单地平均(算术平均)以计算平均厚度tt[μm]。注意，从样品中随机选择测量点。
[0155]
(矫顽力hc)
[0156]
磁记录介质10在其纵向上的矫顽力hc的上限值优选是2000oe以下、更优选是1900oe以下、且还更优选是1800oe以下。当纵向上的矫顽力hc2是2000oe以下时，磁化因来自于记录磁头的垂直方向上的磁场而以高灵敏度反应。因此，可形成良好的记录图案。
[0157]
磁记录介质10的纵向上测量的矫顽力hc的下限值优选是1000oe以上。当纵向上的矫顽力hc的下限值是1000oe以上时，可抑制因来自于记录磁头的磁通量泄露导致的退磁。
[0158]
按如下测定上述的矫顽力hc。首先，将3个磁记录介质10进行交叠并用双面胶粘合，然后用打孔器进行打孔以制造测量样品。此时，用任意无磁性的墨水执行标记，以识别磁记录介质10的纵向(行进方向)。然后使用振动样品磁强计(vsm)测量对应磁记录介质10纵向(行进方向)的测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线。接下来，使用丙酮、乙醇、以及类似者擦除涂膜(基础层12、磁性层13、背层14、以及类似者)，仅留下基底11。然后，将如此获得的3个基底11进行交叠并用双面胶粘合，然后用打孔器进行打孔以制造背景修正样品(下文中简称为“修正样品”)。在此之后，使用vsm测量对应基底11的纵向(磁记录介质10的行进方向)相的修正样品(基底11)的磁滞曲线。
[0159]
在测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线和修正样品(基底11)的磁滞曲线的测量中，例如，使用了由toei industry co.，ltd.制造的高敏感振动样品磁强计“vsm-p7-15 type”。将测量条件设定为测量模式：完整一圈，最大磁场强度：15koe，磁场步进：40bits，锁定放大器的时间常数：0.3sec，等待时间：1sec，mh平均数：20。
[0160]
在获得两个磁滞曲线之后，从测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线中减去修正样品(基底11)的磁滞曲线以执行背景修正，并获得背景修正后的磁滞曲线。对于背景修正的计算，使用了“vsm-p7-15 type”附带的测量/分析程序。
[0161]
从背景修正后获得的磁滞曲线中测定矫顽力hc。注意，对于这一计算，使用了“vsm-p7-15 type”附带的测量/分析程序。注意，在25℃下执行每个磁滞曲线的以上测量。而且，当在磁记录介质10的纵向上测量磁滞曲线时，未执行“退磁场修正”。
[0162]
(矩形比)
[0163]
磁记录介质10在磁记录介质10的垂直方向(厚度方向)上具有例如65％以上、优选70％以上、更优选75％以上、还更优选80％以上、特别优选85％以上的矩形比s1。当矩形比s1是65％以上时，磁性粉末的垂直定向充分高。因此，可获得更好的snr。
[0164]
按如下测定矩形比s1。将3个磁记录介质10进行交叠并用双面胶粘合，然后用打孔器进行打孔以制造测量样品。此时，用任意无磁性的墨水执行标记，以便可识别磁记录介质的纵向(行进方向)。然后，使用振动样品磁强计(vsm)，测量对应磁记录介质
10的纵向(行进方向)的测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线。接下来，使用丙酮、乙醇、以及类似者擦除涂膜(基础层12、磁性层13、背层14、以及类似者)，仅留下基底11。然后，将如此获得的3个基底11进行交叠并用双面胶粘合，然后用打孔器进行打孔以获得背景修正样品(下文中简称为“修正样品”)。在此之后，使用vsm测量对应基底11的纵向(磁记录介质10的行进方向)的修正样品(基底11)的磁滞曲线。
[0165]
在测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线和修正样品(基底11)的磁滞曲线的测量中，例如，使用了由toei industry co.，ltd.制造的高敏感振动样品磁强计“vsm-p7-15 type”。将测量条件设定为测量模式：完整一圈，最大磁场强度：15koe，磁场步进：40bits，锁定放大器的时间常数：0.3sec，等待时间：1sec，mh平均数：20。
[0166]
在获得两个磁滞曲线之后，从测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线中减去修正样品(基底11)的磁滞曲线以执行背景修正，并获得背景修正后的磁滞曲线。对于背景修正的计算，使用了“vsm-p7-15 type”附带的测量/分析程序。
[0167]
通过将背景修正后获得的磁滞曲线的饱和磁化强度ms(emu)和剩余磁化强度mr(emu)放入下式中来计算矩形比s1(％)。
[0168]
矩形比s1(％)＝(mr/ms)
×
100
[0169]
注意，在25℃下执行每个磁滞曲线的以上测量。而且，当在磁记录介质10的垂直方向上测量磁滞曲线时，未执行“退磁场修正”。
[0170]
磁记录介质10在磁记录介质10的纵向(行进方向)上具有优选35％以下、更优选30％以下、还更优选25％以下、特别优选20％以下、最优选15％以下的矩形比s2。当矩形比s2是35％以下时，磁性粉末的垂直定向充分高。因此，可获得更好的snr。
[0171]
以与矩形比s1类似的方式测定矩形比s2，区别之处在于：在磁记录介质10和基底11的纵向(行进方向)上测量磁滞曲线。
[0172]
(sfd)
[0173]
在磁记录介质10的切换场分布(sfd)曲线中，近零磁场的主峰的高度x和子峰的高度y之间的峰比x/y优选是3.0以上、更优选是5.0以上、还更优选是7.0以上、特别优选是10.0以上、且最优选是20.0以上(参照图4)。当峰比x/y是3.0以上时，可抑制在磁性粉末中除了有助于实际记录的ε氧化铁颗粒20之外包括大量的ε氧化铁所特有的低矫顽力组分(例如，软磁性颗粒、超顺磁性颗粒、或类似者)。因此，可抑制因来自于记录磁头的泄漏磁场导致的相邻磁道中记录的磁化信号的劣化。因此，可获得更好的snr。峰比x/y的上限值没有特别的限制，但例如是100以下。
[0174]
按下述测定上述的峰比x/y。首先，以类似于测量矫顽力hc的以上方法的方式，获得背景修正后的磁滞曲线。接下来，从获得的磁滞曲线计算sfd曲线。为了计算sfd曲线，可使用附属于测量机器的程序，或者可使用另一程序。通过将计算的sfd曲线跨越y轴(dm/dh)的点的绝对值作为“y”并将在磁滞曲线中的矫顽力hc附近看到的主峰的高度作为“x”，计算了峰比x/y。注意，以类似于测量矫顽力hc的以上方法的方式在25℃下测量了磁滞曲线。而且，当在磁记录介质10的厚度方向(垂直方向)上测量磁滞曲线时，未执行“退磁场修正”。而且，根据使用的vsm的灵敏度，可将待测量的多个样品彼此堆叠其上以测量磁滞曲线。
[0175]
(活化体积vact)
[0176]
活化体积vact优选是8000nm3以下、更优选是6000nm3以下、还更优选是5000nm3以
下、特别优选是4000nm3以下、且最优选是3000nm3以下。当活化体积vact是8000nm3以下时，磁性粉末的分散态良好。因此，数位翻转区域可变得陡峭，并且可抑制因来自于记录磁头的泄漏磁场导致的相邻磁道中记录的磁化信号的劣化。因此，可获得更好的snr。
[0177]
通过由street&woolley衍生的下式来测定上述的活化体积vact。
[0178]
vact(nm3)＝kb
×
t
×
xirr/(μ0
×
ms
×
s)
[0179]
(在其中kb：玻尔兹曼常数(1.38
×
10-23
j/k)、t：温度(k)、xirr：不可逆磁化率，μ0：真空渗透性，s：磁粘度系数，ms：饱和磁化强度(emu/cm3))
[0180]
按下述使用vsm测定待放入上式中的不可逆磁化率xirr、饱和磁化强度ms、和磁粘度系数s。通过用打孔器对用双面胶将3个磁记录介质10交叠获得的产品进行打孔来制造用于vsm的测量样品。此时，用任意无磁性的墨水执行标记，以便可识别磁记录介质10的纵向(行进方向)。注意，使用vsm的测量方向是磁记录介质10的厚度方向(垂直方向)。而且，在25℃下对从长磁记录介质10切割的测量样品执行使用vsm的测量。而且，当在磁记录介质10的厚度方向(垂直方向)上测量磁滞曲线时，未执行“退磁场修正”。而且，在测量样品(整个磁记录介质10)的磁滞曲线和修正样品(基底11)的磁滞曲线的测量中，使用了由toei industry co.，ltd.制造的高敏感振动样品磁强计“vsm-p7-15 type”。将测量条件设定为测量模式：完整一圈，最大磁场强度：15koe，磁场步进：40bits，锁定放大器的时间常数：0.3sec，等待时间：1sec，mh平均数：20。
[0181]
(不可逆磁化率xirr)
[0182]
不可逆磁化率xirr被定义为在剩余磁化曲线(dcd曲线)的倾斜度中靠近剩余矫顽力hr的倾斜度。首先，将-1193ka/m(15koe)的磁场施加至整个磁记录介质10，并将磁场返回至零以获得剩余磁化态。在此之后，在相反的方向上施加约15.9ka/m(200oe)的磁场以将磁场再次返回至零，并测量剩余磁化量。在此之后，类似地，重复进行施加比之前施加的磁场大了15.9ka/m的磁场以将磁场返回至零的测量，并相对于施加的磁场绘制剩余磁化量以形成dcd曲线。从获得的dcd曲线中，将磁化量为零的点作为剩余矫顽力hr，将dcd曲线进行微分，并测定在每一个磁场下的dcd曲线的倾斜度。在这一dcd曲线的倾斜度中，靠近剩余矫顽力hr的倾斜度是xirr。
[0183]
(饱和磁化强度ms)
[0184]
首先，以类似于用于测量矫顽力hc的以上方法的方式，获得背景修正后的磁滞曲线。接下来，从获得的磁滞曲线的饱和磁化强度ms(emu)和测量样品中磁性层13的体积(cm3)的值来计算ms(emu/cm3)。注意，通过将测量样品的面积乘以磁性层13的平均厚度来测定磁性层13的体积。对于计算磁性层13的体积所必须的用于计算磁性层13的平均厚度的方法如上所述。
[0185]
(磁粘度系数s)
[0186]
首先，将-1193ka/m(15koe)的磁场施加至整个磁记录介质10(测量样品)，并将磁场返回至零以获得剩余磁化态。在此之后，在相反方向上施加将等价于从dcd曲线中获得的剩余矫顽力hr的值的磁场。在施加有磁场的状态下以恒定的时间间隔持续地测量磁化量1000秒。通过用下式比较以这种方式获得的时间t和磁化量m(t)之间的关系来计算磁粘度系数s。
[0187]
m(t)＝m0+s
×
ln(t)
[0188]
(在其中m(t)：在时间t时的磁化量；m0：初始磁化量，s：磁粘度系数，ln(t)：时间的自然对数)
[0189]
(摩擦系数比(μb/μa))
[0190]
磁记录介质10具有优选1.0以上且2.0以下、更优选1.0以上且1.8以下、还更优选1.0以上且1.6以下的摩擦系数比(μb/μa)，其中，μa表示在磁记录介质10的纵向上将0.4n的拉力施加至磁记录介质10的状态下磁记录介质10的磁性层13的表面13s和磁头之间的动摩擦系数，而μb表示在纵向上将1.2n的拉力施加至磁记录介质10的状态下磁记录介质100的磁性层13的表面13s和磁头之间的动摩擦系数。在以上数字范围内的摩擦系数比(μb/μa)可减少在行进期间因拉力的波动导致的动摩擦系数的变化，并因此可稳定化磁记录介质10的行进。
[0191]
按下述测定用于计算摩擦系数比(μb/μa)的动摩擦系数μa和动摩擦系数μb。首先，如图8中所示，将宽度为1/2英寸的磁记录介质10放置在两个圆柱形导辊91和92上，每一个圆柱形导辊具有1英寸的直径且彼此平行设置并彼此间隔开，使得磁性层13的表面13s与导辊91和92接触。两个导辊91和92具有彼此固定的位置关系。
[0192]
随后，使磁记录介质10与lto5驱动器上安装的(用于记录/再现的)磁头块93接触，从而磁性层13的表面13s与磁头块93接触并且保持角θ1(
°
)是5.6
°
。磁记录介质10的一端被夹紧夹具94所夹持，并连接至可移动的应变计95，砝码96从磁记录介质10的另一端挂起以施加0.4n的拉力t0。注意，磁头块93固定在保持角θ1[
°
]是5.6
°
的位置处。结果，也固定了导辊91和92与磁头块93之间的位置关系。
[0193]
随后，通过可移动的应变计95，磁记录介质10以相对于磁头块93的10mm/s的速度朝向可移动的应变计95滑动60mm。将在滑动时可移动的应变计95的输出值(电压)基于预先获取的输出值和载荷之间的线性关系(随后将述)转换为t[n]。针对上述的60mm滑动，从滑动开始到滑动结束获取13次t[n]，并将排除第一次和最后一次总计2次的11个t[n]的值进行简单地平均以获得t
ave
[n]。
[0194]
在此之后，通过下式测定动摩擦系数μa。
[0195]
[数学式2]
[0196][0197]
按下述获得上述的线性关系。即，针对每一种将0.4n的载荷施加至可移动的应变计95并向其施加1.5n的载荷的情形获得了可移动的应变计95的输出值(电压)。从获得的两个输出值和两个载荷，获得了输出值和载荷之间的线性关系。利用该线性关系，如上所述，将在滑动期间来自于可移动的应变计95的输出值(电压)转换为t[n]。
[0198]
以与用于测量动摩擦系数μa的方法相同的方法测量动摩擦系数μb，不同之处在于将施加至另一端的拉力t0[n]设定为1.2n。
[0199]
从如上所述测量的动摩擦系数μa和动摩擦系数μb计算摩擦系数比(μb/μa)。
[0200]
在当将0.6n的拉力施加至磁记录介质10时磁性层13的表面13s和磁头之间的动摩擦系数由μc表示的情况下，从开始行进起的第5次动摩擦系数μc(5)和从开始行进起的第1000次动摩擦系数μc(1000)之间的摩擦系数比((μc(1000)/μc(5))优选是1.0以上且1.9以
下、且更优选是1.2以上且1.8以下。当摩擦系数比(μc(1000)/μc(5))是1.0以上且1.9以下时，可减少因行进多次导致的动摩擦系数的变化，并因此可稳定化磁记录介质10的行进。在此，具有对应磁记录介质10的驱动器的磁头被用作为磁头。
[0201]
(摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
))
[0202]
按下述测定用于计算摩擦系数比(μc(1000)/μc(5))的动摩擦系数μc(5)和动摩擦系数μc(1000)。
[0203]
磁记录介质10具有优选1.0以上且2.0以下、更优选1.0以上且1.8以下、还更优选1.0以上且1.6以下的摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)，其中摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)表示在磁记录介质10的纵向上将0.6n的拉力施加至磁记录介质10的状态下的磁记录介质在磁头上往复滑动5次的情况下第5次往复运动时的动摩擦系数μ
c(5)
和在磁记录介质10在磁头上往复运动1000次的情况下第1000次往复运动时的动摩擦系数μ
c(1000)
之间的摩擦系数比。在以上数值范围内的摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)可减小因行进多次导致的动摩擦系数的变化，并因此可稳定化磁记录介质10的行进。
[0204]
按下述测定用于计算摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)的动摩擦系数μ
c(5)
和动摩擦系数μ
c(1000)
。
[0205]
以与用于测量动摩擦系数μa的方法相同的方式将磁记录介质10连接至可移动的应变计71，不同之处在于将施加至磁记录介质10的另一端的拉力t0[n]设定为0.6n。然后，磁记录介质10以相对于磁头块74的10mm/s朝向可移动的应变计滑动60mm(前进路径)，并远离可移动的应变计滑动60mm(返回路径)。重复这种往复操作1000次。在1000次的往复操作中，对于第5次前进路径中的60mm滑动，从滑动开始到滑动结束为止，获取13次应变计输出值(电压)，并基于测定动摩擦系数μa的输出值和载荷之间的线性关系(随后将述)将输出值转换为t[n]。排除第一次和最后一次总计2次的11个t[n]的值进行简单地平均以测定t
ave
[n]。通过下式测定动摩擦系数μ
c(5)
。
[0206]
[数学式3]
[0207][0208]
而且，以与动摩擦系数μ
c(5)
类似的方式测定动摩擦系数μ
c(1000)
，不同之处在于对第1000次前进路径执行测量。
[0209]
从如上所述测量的动摩擦系数μ
c(5)
和动摩擦系数μ
c(1000)
计算摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)。
[0210]
[1-2、用于制造磁记录介质10的方法]
[0211]
接下来，将描述制造具有上述配置的磁记录介质10的方法。首先，通过在溶剂中捏合和分散非磁性粉末、粘合剂、润滑剂、和类似者，制备形成基础层的涂料。接下来，通过在溶剂中捏合和分散磁性粉末、粘合剂、润滑剂、和类似者，制备形成磁性层的涂料。接下来，通过在溶剂中捏合和分散粘合剂、非磁性粉末、和类似者，制备形成背层的涂料。对于制备形成磁性层的涂料、形成基础层的涂料、和形成背层的涂料而言，例如，可使用下述的溶剂、分散装置、和捏合装置。
[0212]
用于制备上述涂料的溶剂的示例包括：诸如丙酮、甲乙酮、甲基异丁基酮、或者环
己酮之类酮类溶剂；诸如甲醇、乙醇、或者丙醇之类的醇类溶剂；诸如乙酸甲酯、乙酸乙酯、乙酸丁酯、乙酸丙酯、乳酸乙酯、或者乙酸乙二醇酯之类的酯类溶剂；诸如二乙二醇二甲醚、2-乙氧基乙醇、四氢呋喃、或者二氧六环之类的醚类溶剂；诸如苯、甲苯、或者二甲苯之类的芳香烃类溶剂；和诸如二氯甲烷、二氯乙烷、四氯化碳、氯仿、或者氯苯之类的卤代烃类溶剂；和类似者。这些溶剂可单独地使用，或者适当地以其混合物进行使用。
[0213]
用于制备上述涂料的捏合装置的示例包括连续双螺杆捏合机、能够在多个阶段执行稀释的连续双螺杆捏合机、混捏机、压力混捏机、辊式混捏机、和类似者，但不特别限于这些装置。而且，用于制备上述涂料的分散装置的示例包括辊磨机、球磨机、卧式砂磨机、立式砂磨机、钉磨机、针磨机、塔磨机、珠磨机(例如，由eirich co.，ltd.制造的“dcp磨机”和类似者)、均质器、超声波分散机、和类似者，但不特别限于这些装置。
[0214]
接下来，将形成基础层的涂料施加至基底11的一个主表面11a并进行干燥以形成基础层12。随后，通过将形成磁性层的涂料施加至基础层12上并干燥形成磁性层的涂料，磁性层13形成在形成基础层12上。注意，在干燥期间，磁性粉末通过例如螺线管线圈而在基底11的厚度方向上经历磁场定向。而且，在干燥期间，磁性粉末可通过例如螺线管线圈而在基底11的行进方向(纵向)上经历磁场定向，然后可在基底11的厚度方向上经历磁场定向。通过执行这种磁场定向处理，可改善磁性粉末的垂直定向度(即，矩形比s1)。在形成磁性层13之后，将形成背层的涂料施加至基底11的另一个主表面11b并进行干燥以形成背层14。结果，获得了磁记录介质10。
[0215]
例如，可通过调整施加至形成磁性层的涂料的涂膜的磁场强度、形成磁性层的涂料中的固成分浓度、和形成磁性层的涂料的涂膜的干燥条件(干燥温度和干燥施加)而将矩形比s1和s2设定至期望值。施加至涂膜的磁场强度优选是磁性粉末的矫顽力的至少2倍。为了进一步增加矩形比s1(即，进一步减小矩形比s2)，优选改善形成磁性层的涂料中磁性粉末的分散状态。而且，为了进一步增加矩形比s1，在将形成磁性层的涂料放入用于磁性粉末的磁场定向的定向装置中之前对磁性粉末进行磁化也是有效的。注意，以上调整矩形比s1和s2的方法可单独使用、或者以它们中两者或更多者的组合使用。
[0216]
在此之后，将获得的磁记录介质10进行压延以使磁性层13的表面13s平滑。接下来，将已进行压延的磁记录介质10卷绕成卷状。在此之后，在这一状态下对磁记录介质10进行加热，并由此将背层14的表面14s上的大量凸起14a转移至磁性层13的表面13s上。结果，大量的孔13a形成在磁性层13的表面13s上。
[0217]
加热处理的温度优选是50℃或更高且80℃或更低。当加热处理的温度是50℃或更高时，可获得良好的可转移性。同时，当加热处理的温度是80℃或更低时，可过量地增加孔的量，并且磁性层13的表面13s上的润滑剂可能过量。在此，加热处理的温度是保持磁记录介质10的气氛的温度。
[0218]
加热处理的时间优选是15小时或更长且40小时或更短。当当加热处理的时间是15小时或更长时，可获得良好的可转移性。同时，当加热处理的时间是40小时或更短时，可抑制生产率的下降。
[0219]
而且，在加热处理期间施加至磁记录介质10的压力的范围优选是150kg/cm以上且400kg/cm以下。
[0220]
最终，将磁记录介质10切割成预定宽度(例如，1/2英寸的宽度)。结果，获得了目标
磁记录介质10。
[0221]
在以上的制造方法中，背层14的表面14s上形成的大量凸起14a被转移至磁性层13的表面13s上，并由此孔(孔13a)形成在磁性层13的表面上。然而，形成孔的方法不限于此。例如，可通过调整形成磁性层的涂料中包括的溶剂的类型和/或调整形成磁性层的涂料的干燥条件而将孔形成在磁性层13的表面13s上。而且，例如，在干燥形成磁性层的涂料的溶剂的工序中，可通过形成磁性层的涂料中包括的固体和溶剂的不均匀分布来形成孔。而且，在施加形成磁性层的涂料的工序中，形成磁性层的涂料中包括的溶剂也可通过在施加并干燥底层时形成的基础层12的孔而被基础层12吸附。在施加之后的干燥步骤中，溶剂从基础层12移动穿过磁性层13，并且可由此形成将磁性层13连接至基础层12的孔。
[0222]
[1-3、记录/再现装置30的配置]
[0223]
接下来，将参照图5描述用于将信息记录在上述的磁记录介质10上和从上述的磁记录介质10再现信息的记录/再现装置30的配置。
[0224]
记录/再现装置30可在磁记录介质10的纵向上调整施加至磁记录介质10的拉力。而且，记录/再现装置30可将磁记录介质盒10a装载于其上。在此，为了易于解释，将描述记录/再现装置30可将一个磁记录介质盒10a装载于其上的情形。然而，记录/再现装置30可将多个磁记录介质盒10a装载于其上。如上所述，磁记录介质10具有带状，并且可以是，例如，长磁记录带。磁记录介质10例如可在围绕磁记录介质盒10a内部的卷轴进行卷绕的状态下被安置在壳体中。磁记录介质10在记录和再现期间在纵向上行进。而且，磁记录介质10可以优选100nm以下、更优选75nm以下、还更优选60nm以下、特别优选50nm以下的最短记录波长记录信号，并且可例如用于具有在以上范围内的最短记录波长的记录/再现装置30。记录磁道宽度可以例如是2μm以下。
[0225]
记录/再现装置30例如通过网络43连接至诸如服务器41和个人计算机(下文中被称为“pc”)42之类的信息处理装置，并且从这些信息处理装置中供应的数据可被记录在磁记录介质盒10a中。
[0226]
如图5中所示，记录/再现装置30包括主轴31、卷轴32、驱动装置33、驱动装置34、多个导辊35、磁头单元36、通信接口(下文中称为i/f)37、和控制装置38。
[0227]
主轴31可将磁记录介质盒10a安装于其上。磁记录介质盒10a符合线性磁带开放(lto)标准，并且可旋转地将在其中卷绕磁记录介质10的单个卷轴10c安置在盒壳体10b中。v形伺服图案作为伺服信号被预先记录在磁记录介质10上。卷轴32可固定从磁记录介质盒10a中拉出的磁记录介质10的一端。
[0228]
驱动装置33旋转地驱动主轴31。驱动装置34旋转地驱动卷轴32。当在磁记录介质10上记录或者再现数据时，驱动装置33和驱动装置34旋转地驱动主轴31和卷轴32，以使磁记录介质10行进。导辊35是用于导引磁记录介质10行进的辊。
[0229]
磁头单元36包括多个用于将数据信号记录在磁记录介质10上的记录磁头、多个用于再现磁记录介质10上记录的数据信号的再现磁头、和多个用于再现磁记录介质10上记录的伺服信号的伺服磁头。作为记录磁头，例如，可使用环型磁头，并且作为再现磁头，例如，可使用磁阻效应型磁头。然而，记录磁头和再现磁头的类型不限于此。
[0230]
i/f 37用于与诸如服务器41或者pc 42之类的信息处理装置进行通信，并连接至网络43。
[0231]
控制装置38控制整个记录/再现装置30。例如，控制装置38响应于来自诸如服务器41或者pc 42之类的信息处理装置的请求，使磁头单元36将从信息处理装置供应的数据信号记录在磁记录介质10上。而且，控制装置38响应于来自诸如服务器41或者pc 42之类的信息处理装置的请求，使磁头单元36再现磁记录介质10上记录的数据信号，并将数据信号供应至信息处理装置。
[0232]
[1-4、效果]
[0233]
如上所述，本实施方式的磁记录介质10是在其中顺序层压有基底11、基础层12、和磁性层13的带状元件，并满足下述构成要求(1)至(9)。
[0234]
(1)基底11包括聚酯作为主要组分。
[0235]
(2)磁性层3与基础层12相对的表面13s的峰度(sku)是3.0以上。
[0236]
(3)基础层12和磁性层13各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂。
[0237]
(4)在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6。
[0238]
(5)磁性层13的表面13s的算术平均粗糙度ra是2.5nm以下。
[0239]
(6)在已从磁记录介质10移除所述润滑剂并且磁记录介质10已进行干燥的状态下，整个磁记录介质10的bet比表面积是3.5m2/g以上。
[0240]
(7)垂直方向上的矩形比是65％以上。
[0241]
(8)磁性层13的平均厚度是90nm以下。
[0242]
(9)磁记录介质10的平均厚度是5.6μm以下。
[0243]
由于具有这种配置，即使在减小了总厚度并且执行反复的记录或者反复的再现之后，本实施方式的磁记录介质10也可抑制动摩擦系数的增加。而且，磁性层13的表面13s的峰度是3.0以上，并且脂肪酸的含量相对于脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6。因此，在应用于记录/再现装置30的情况下，在低速行进和高速行进两者中，稳定的行进是可行的，同时保持了磁性层13的表面13s与磁头之间的良好接触。具体而言，在磁记录介质10的行进期间，与磁记录介质10的行进方向正交的宽度方向上的波动量小，并且可避免磁性层13的表面13s与磁头之间的卡住。
[0244]
《2、改进》
[0245]
(改进1)
[0246]
在上述的实施方式中，已图示并描述了具有两层的壳部分22的ε氧化铁颗粒20(图3)，但本技术的磁记录介质可包括，例如，如图6中所示，具有单层的壳部分23的ε氧化铁颗粒20a。ε氧化铁颗粒20a中的壳部分23具有例如类似于第一壳部分22a的配置。然而，从抑制特性劣化的角度来看，在上述的实施方式中描述的具有两层的壳部分22的ε氧化铁颗粒20比改进1的ε氧化铁颗粒20a更加优选。
[0247]
(改进2)
[0248]
在根据上述实施方式的磁记录介质10中，已图示并描述了具有核-壳结构的ε氧化铁颗粒20的情形。然而，ε氧化铁颗粒可包括代替核-壳结构的添加剂，或者可具有核-壳结构并包括添加剂。在这种情况下，ε氧化铁颗粒20中的一些fe原子被添加剂取代。即使通过在ε氧化铁颗粒中包括添加剂，也可将整个ε氧化铁颗粒的矫顽力hc调整至适于记录的矫顽力hc。因此，可改善可记录性。添加剂是除铁以外的金属元素，优选是三价金属元素、更优选
是铝(al)、镓(ga)、和铟(in)中的至少一者、且还更优选是al和ga中的至少一者。
[0249]
具体而言，包括添加剂的ε氧化铁是ε-fe
2-xmx
o3晶体(其中m表示除铁以外的金属元素，优选是三价金属元素、更优选是al、ga、和in中的至少一者、且还更优选是al和ga中的至少一者，并且x满足例如0＜x＜1)。
[0250]
(改进3)
[0251]
本公开内容的磁性粉末可包括代替ε氧化铁颗粒的粉末的含六方晶系铁氧体的纳米颗粒(下文中被称为“六方晶系铁氧体颗粒”)。六方晶系铁氧体颗粒具有例如六方板形状或者实质上六方板形状。六方晶系铁氧体优选包括钡(ba)、锶(sr)、铅(pb)、和钙(ca)中的至少一者、更优选包括ba和sr中的至少一者。具体而言，六方晶系铁氧体可以例如为钡铁氧体或者锶铁氧体。除ba以外，钡铁氧体可进一步包括sr、pb、和ca中的至少一者。除sr以外，锶铁氧体可进一步包括ba、pb、和ca中的至少一者。
[0252]
更具体而言，六方晶系铁氧体具有由通式mfe
12o19
表示的平均组成。然而，m例如表示ba、sr、pb、和ca中的至少一种金属、优选ba和sr中的至少一种金属。m可表示ba和选自由包括sr、pb、和ca构成的组中的一种或者多种金属的组合。而且，m可表示sr和选自由包括ba、pb、和ca构成的组中的一种或者多种金属的组合。在以上通式中，fe原子中的一些可被其他金属元素取代。
[0253]
在磁性粉末包含六方晶系铁氧体颗粒粉末的情况下，磁性粉末的平均粒径优选是50nm以下、更优选是40nm以下、且还更优选是30nm以下。而且，磁性粉末的平均粒径例如是10nm以上、优选是12nm以上、且更优选是15nm以上。因此，包含六方晶系铁氧体颗粒粉末的磁性粉末的平均粒径例如可以是10nm以上且50nm以下、10nm以上且40nm以下、12nm以上且30nm以下、12nm以上且25nm以下、或者15nm以上且22nm以下。在磁性粉末的平均粒径是以上的上限值或者更小(例如，50nm以下、特别是30nm以下)的情况下，在具有高记录密度的磁记录介质10中，可获得良好的电磁转换特性(例如，snr)。在磁性粉末的平均粒径是以上的下限值或者更大(例如，10nm以上、特别是12nm以上)的情况下，进一步改善了磁性粉末的分散度，并可获得更好的电磁转换特性(snr)。
[0254]
在磁性粉末包括六方晶系铁氧体颗粒的情况下，磁性粉末的平均纵横比可以优选是1以上且3.5以下、更优选是1以上且3.1以下、或者2以上且3.1以下、且还更优选是2以上且3以下。当磁性粉末的平均纵横比在以上数值范围内时，可抑制磁性粉末的聚集，而且当磁性粉末在形成磁性层13的步骤中进行垂直定向时，可抑制施加至磁性粉末的阻力。这可改善磁性粉末的垂直定向。
[0255]
注意，按下述测定包括六方晶系铁氧体颗粒粉末的磁性粉末的平均粒径和平均纵横比。首先，通过聚焦离子束(fib)法和类似者来加工待测量的磁记录介质10以进行薄化。在磁带的长度方向(纵向)上执行薄化。对获得的薄化样品执行横截面观测，使得利用加速电压为200kv和整体放大倍数为500,000倍的透射电子显微镜(由hitachi high-technologies制造的h-9500)而相对于记录层的厚度方向包括整个记录层。接下来，从成像的tem照片中，选择各自的侧表面朝向观测表面的50个颗粒，并测量这些颗粒的最大板厚度da。这样测定的最大板厚度da进行简单地平均(算术平均)以测定平均最大板厚度da
ave
。随后，测量磁性粉末的颗粒的板直径db。在此，板直径db是指从所有角度拉伸出以便与磁性粉末的每一个颗粒的轮廓接触的两条平行直线之间的距离中的最大距离(所谓的最大feret
直径)。随后，测量的板直径db进行简单地平均(算术平均)以测定平均板直径db
ave
。然后，从平均最大板厚度da
ave
和平均板直径db
ave
测定颗粒的平均纵横比(db
ave
/da
ave
)。
[0256]
在磁性粉末包括六方晶系铁氧体颗粒粉末的情况下，磁性粉末的平均颗粒体积优选是5900nm3以下、更优选是500nm3以上且3400nm3以下、且还更优选是1000nm3以上且2500nm3以下。当磁性粉末的平均颗粒体积是5900nm3以下时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是30nm以下的情况下类似的效果。同时，当磁性粉末的平均颗粒体积是500nm3以上时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是12nm以上的情况下类似的效果。
[0257]
注意，按照下述测定磁性粉末的平均颗粒体积。首先，通过用于计算磁性粉末的平均粒径的上述方法测定平均最大板厚度da
ave
和平均板直径db
ave
。接下来，通过下式测定ε氧化铁颗粒的平均体积v。
[0258]
根据本技术的特别优选的实施方式，磁性粉末可以是钡铁氧体磁性粉末或锶铁氧体磁性粉末、且更优选是钡铁氧体磁性粉末。钡铁氧体磁性粉末包括具有钡铁氧体作为主相的氧化铁磁性颗粒(下文中被称为“钡铁氧体颗粒”)。钡铁氧体磁性粉末具有高数据记录可靠性。例如，钡铁氧体磁性粉末即使在高温和高湿环境中也保持矫顽力。从这种角度来看，钡铁氧体磁性粉末优选作为磁性粉末。
[0259]
钡铁氧体磁性粉末的平均粒径是50nm以下、更优选是10nm以上且40nm以下、且还更优选是12nm以上且25nm以下。
[0260]
在磁性层13包括钡铁氧体磁性粉末作为磁性粉末的情况下，磁性层13的平均厚度tm[nm]优选满足35nm≤tm≤100nm，并且特别优选是80nm以下。而且，当在磁记录介质10的厚度方向(垂直方向)上测量矫顽力hc时，磁记录介质10具有优选是160ka/m以上且280ka/m以下、更优选是165ka/m以上且275ka/m以下、且还更优选是170ka/m以上且270ka/m以下的矫顽力hc。
[0261]
(改进4)
[0262]
磁性粉末可包括代替ε氧化铁颗粒粉末的含co的尖晶石铁氧体的纳米颗粒的粉末(下文中被称为“钴铁氧体颗粒”)。钴铁氧体颗粒优选具有单轴晶体各向异性。钴铁氧体具有例如立方体形状或者实质上立方体的形状。除co以外，含co的尖晶石铁氧体可进一步包括ni、mn、al、cu、和zn中的至少一者。
[0263]
含co的尖晶石铁氧体具有例如由下式表示的平均组成。
[0264]
co
xmy
fe2oz[0265]
(条件是，式(1)中，m例如表示ni、mn、al、cu、和zn中的至少一种金属。x表示在0.4≤x≤1.0的范围内的值。y表示在0≤y≤0.3的范围内的值。条件是，x和y满足(x+y)≤1.0的关系。z表示在3≤z≤4的范围内的值。fe原子中的一些可被另一种金属元素取代。)
[0266]
在磁性粉末包括钴铁氧体颗粒粉末的情况下，磁性粉末的平均粒径优选是25nm以下、且更优选是10nm以上且23nm以下。当磁性粉末的平均粒径是25nm以下时，可在具有高记录密度的磁记录介质10中获得良好的电磁转换特性(例如，snr)。同时，当磁性粉末的平均粒径是10nm以上时，进一步改善了磁性粉末的分散度，并可获得更好的电磁转换特性(例如，snr)。在磁性粉末包括钴铁氧体颗粒粉末的情况下，磁性粉末的平均纵横比类似于上述实施方式的磁性粉末的平均纵横比。而且，以类似于上述实施方式类似的方式测定用于计算磁性粉末的平均粒径和平均纵横比的方法。
[0267]
磁性粉末的平均颗粒体积优选是15000nm3以下、且更优选是1000nm3以上且12000nm3以下。当磁性粉末的平均颗粒体积是15000nm3以下时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是25nm以下的情况下类似的效果。同时，当磁性粉末的平均颗粒体积是1000nm3以上时，可获得与在磁性粉末的平均粒径是10nm以上的情况下类似的效果。注意，用于计算磁性粉末的平均颗粒体积的方法类似于上述实施方式中用于计算磁性粉末的平均颗粒体积的方法(在ε氧化铁颗粒具有立方体形状或实质上立方体的形状的情况下用于计算平均颗粒体积的方法)。
[0268]
钴铁氧体磁性粉末的矫顽力hc优选是2500oe以上、且更优选是2600oe以上且3500oe以下。
[0269]
(改进5)
[0270]
磁记录介质10可进一步包括设置在基底11的至少一个表面上的阻挡层15，例如，如图7中所示。阻挡层15是用于抑制根据基底11的环境而尺寸变化的层。导致尺寸变化的示例包括基底11的吸湿性。然而，通过设置阻挡层15，可降低水汽进入基底11中的渗透率。阻挡层15包括，例如，金属或者金属氧化物。作为本文中的金属，例如，可使用al、cu、co、mg、si、ti、v、cr、mn、fe、ni、zn、ga、ge、y、zr、mo、ru、pd、ag、ba、pt、au、和ta中的至少一者。作为金属氧化物，例如，可使用包括以上金属中的一者或多者的金属氧化物。更具体而言，例如，可使用al2o3、cuo、coo、sio2、cr2o3、tio2、ta2o5、和zro2中的至少一者。而且，阻挡层15可包括类钻碳(dlc)、金刚石、以及类似者。
[0271]
阻挡层15的平均厚度优选是20nm以上且1000nm以下、且更优选是50nm以上且1000nm以下。以与磁性层13的平均厚度类似的方式测定阻挡层15的平均厚度。然而，根据阻挡层15的厚度适当地调整tem图像的放大倍数。
[0272]
(改进6)
[0273]
在上述实施方式中，已描述了通过将在背层14的表面14s上形成的大量凸起14a转移至磁性层13的表面13s上而在磁性层13的表面13s上形成大量的孔13a的情形。然而，用于形成大量的孔13a的方法不限于此。例如，可通过调整形成磁性层的涂料中包括的溶剂的类型、形成磁性层的涂料的干燥条件、和类似者而在磁性层13的表面13s上形成大量的孔13a。
[0274]
(改进7)
[0275]
根据上述实施方式的磁记录介质10可用于图书馆装置。在这种情况下，图书馆装置可包括多个上述实施方式中的记录/再现装置30。
[0276]
[实施例]
[0277]
下文中，将用实施例具体地描述本公开内容，但本公开内容并非仅限于这些实施例。
[0278]
在下述实施例和比较例中，垂直方向上的矩形比s1、纵向上的矩形比s2、孔分布(孔体积和在脱附期间最大孔体积的孔径)、bet比表面积、平均纵横比、磁性粉末的平均粒径、磁性粉末的平均颗粒体积、磁性层的平均厚度、整个磁记录介质的平均厚度、磁性层的表面的算数平均粗糙度、和磁性层的表面的峰度是通过上述实施方式中描述的测量方法测定的值。
[0279]
[实施例1]
[0280]
按下述获得作为实施例1的磁记录介质。
[0281]
《制备形成磁性层的涂料的步骤》
[0282]
按下述制备形成磁性层的涂料。首先，用挤出机捏合具有下述配方的第一组合物。接下来，将捏合的第一组合物和具有下述配方的第二组合物加入至装配有分散剂的搅拌罐，并进行预混合。随后，使该混合物进一步进行砂磨机混合，并进行过滤处理，以制备形成磁性层的涂料。
[0283]
(第一组合物)
[0284]
第一组合物中的每种组分和重量如下所示。
[0285]
钡铁氧体(bafe
12o19
)颗粒粉末(六方板状，平均纵横比2.8，平均颗粒体积1950nm3)：100质量份
[0286]
氯乙烯基树脂(树脂溶液：树脂含量30质量％，环己酮70质量％)：42质量份(包括溶剂)
[0287]
(聚合度：300，mn＝10000，包含oso3k＝0.07mmol/g和二级oh＝0.3mmol/g作为极性基团))
[0288]
氧化铝粉末：5质量份
[0289]
(α-al2o3，平均粒径：0.1μm)
[0290]
炭黑(由tokai carbon co.，ltd.，制造，商品名：seast ta)：2质量份
[0291]
(第二组合物)
[0292]
第二组合物中的每种组分和重量如下所示。
[0293]
氯乙烯基树脂：3质量份(包括溶剂)
[0294]
(树脂溶液：树脂含量30质量％，环己酮70质量％)
[0295]
作为脂肪酸酯的硬脂酸正丁酯：2质量份
[0296]
甲乙酮：121.3质量份
[0297]
甲苯：121.3质量份
[0298]
环己酮：60.7质量份
[0299]
将4质量份作为固化剂的聚异氰酸酯(商品名：coronate l，由tosoh corporation制造)和2质量份作为脂肪酸的硬脂酸加入至如上所述制备的形成磁性层的涂料。
[0300]
《制备形成基础层的涂料的步骤》
[0301]
按下述制备形成基础层的涂料。首先，用挤出机捏合具有下述配方的第三组合物。接下来，将捏合的第三组合物和具有下述配方的第四组合物加入至装配有分散剂的搅拌罐，并进行预混合。随后，使该混合物进一步进行砂磨机混合，并进行过滤处理，以制备形成基础层的涂料。
[0302]
(第三组合物)
[0303]
第三组合物中的每种组分和重量如下所示。
[0304]
针状氧化铁粉末(α-fe2o3，平均主轴长度：0.15μm)：100质量份
[0305]
氯乙烯基树脂：44.4质量份(包括溶剂)
[0306]
(树脂溶液：树脂含量30质量％，环己酮70质量％)
[0307]
炭黑(平均粒径20nm)：10质量份
[0308]
(第四组合物)
[0309]
第四组合物中的每种组分和重量如下所示。
[0310]
聚氨酯基树脂ur8200(由toyobo co.，ltd.制造)：18.5质量份
[0311]
作为脂肪酸酯的硬脂酸正丁酯：2质量份
[0312]
甲乙酮：108.2质量份
[0313]
甲苯：108.2质量份
[0314]
环己酮：18.5质量份
[0315]
将4质量份作为固化剂的聚异氰酸酯(商品名：coronate l，由tosoh corporation制造)和2质量份作为脂肪酸的硬脂酸加入至如上所述制备的形成基础层的涂料。
[0316]
《制备形成背层的涂料的步骤》
[0317]
按下述制备形成背层的涂料。将下述原材料在装配有分散剂的搅拌罐中进行混合，并进行过滤处理，以制备形成背层的涂料。
[0318]
具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)20nm)：90质量份
[0319]
具有大粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)270nm)：10质量份
[0320]
聚酯型聚氨酯(由tosoh corporation制造，商品名：n-2304)：100质量份
[0321]
甲乙酮：500质量份
[0322]
甲苯：400质量份
[0323]
环己酮：100质量份
[0324]
《施加步骤》
[0325]
使用如上所述制备的形成磁性层的涂料和形成基础层的涂料，将基础层和磁性层形成在作为非磁性载体的平均厚度为4.0μm的长聚酯膜的一个主表面上，使得在随后的压延之后基础层的平均厚度是0.6μm且磁性层的平均厚度是80nm。首先，将形成基础层的涂料施加至聚酯膜的一个主表面上并进行干燥，以形成基础层。接下来，将形成磁性层的涂料施加至基础层上并进行干燥，以形成磁性层。注意，当干燥形成磁性层的涂料时，通过螺线管线圈使磁性粉末在膜的厚度方向上进行磁场定向。而且，调整形成磁性层的涂料的干燥条件(干燥温度和干燥时间)，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。随后，将形成背层的涂料施加至聚酯膜的另一个主表面上并进行干燥，以形成平均厚度为0.3μm的背层。结果，获得了磁记录介质。
[0326]
《压延步骤和转移步骤》
[0327]
随后，执行压延以使磁性层表面平滑。接下来，将具有平滑表面的磁性层的磁记录介质卷绕成卷状，然后在这种状态下将磁记录介质在60℃下加热10小时。然后，将磁带重绕成卷状，使得位于内周侧上的一端相对地位于外周侧上，然后在这种状态下将磁记录介质在60℃下再次加热10小时。结果，背层的表面上的大量凸起被转移至磁性层的表面上，以在磁性层的表面上形成大量的孔。磁性层的表面的峰度被设定为3.5。
[0328]
《切割步骤》
[0329]
将如上所述获得的磁记录介质切割成1/2英寸(12.65mm)的宽度。结果，获得了靶长磁记录介质(平均厚度5.6μm)。注意，在已从磁记录介质移除润滑剂并且磁记录介质已进行干燥的状态下，获得的磁记录介质的bet比表面积是4m2/g。
[0330]
[实施例2至4]
[0331]
以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例2至4的磁记录介质，不同之处在于在施加步骤中调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和
其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。
[0332]
[实施例5]
[0333]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，将bet比表面积设定为4.5m2/g，并将磁性层的表面的峰度设定为3.1。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例5的磁记录介质。
[0334]
[实施例6]
[0335]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将bet比表面积设定为5.0m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例6的磁记录介质。
[0336]
[实施例7]
[0337]
在制备形成磁性层的涂料的步骤中，锶铁氧体颗粒粉末(六方板状，平均纵横比3.0，平均粒径21.3nm、颗粒体积2000nm3)被用作磁性粉末。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例7的磁记录介质。
[0338]
[实施例8]
[0339]
在制备形成磁性层的涂料的步骤中，ε氧化铁颗粒粉末(球形形状，平均纵横比1.1，平均粒径16nm、颗粒体积2150nm3)被用作磁性粉末。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例8的磁记录介质。
[0340]
[实施例9]
[0341]
在制备形成磁性层的涂料的步骤中，钴铁氧体颗粒粉末(立方体形状，平均纵横比1.7，平均粒径18.5nm、颗粒体积2200nm3)被用作磁性粉末。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例9的磁记录介质。
[0342]
[实施例10]
[0343]
在形成背层的涂料中，将具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)20nm)的共混量设定为80质量份，并将具有大粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)270nm)的共混量设定为20质量份。而且，在转移步骤中调整了加热条件，将孔体积设定为0.023cm3/g，并将在脱附时最大孔体积的孔径设定为9nm。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例10的磁记录介质。
[0344]
[实施例11]
[0345]
在转移步骤中调整了加热条件，并将在脱附时最大孔体积的孔径设定为10nm。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1
的平均颗粒体积的六方板状钡铁氧体颗粒粉末被用作磁性粉末。注意，将在脱附时最大孔体积的孔径设定为6nm。
[0358]
[实施例18]
[0359]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将磁性层的表面的峰度设定为3.7。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例18的磁记录介质。注意，bet比表面积为3.9m2/g。
[0360]
[实施例19]
[0361]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将磁性层的表面的峰度设定为3.8。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例19的磁记录介质。注意，bet比表面积为3.8m2/g。
[0362]
[实施例20]
[0363]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将bet比表面积设定为3.5m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例20的磁记录介质。
[0364]
[实施例21]
[0365]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表2中示出的值。而且，除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为实施例21的磁记录介质。
[0366]
[比较例1]
[0367]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表3中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将bet比表面积设定为3.0m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例1的磁记录介质。
[0368]
[比较例2]
[0369]
在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表3中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，并将bet比表面积设定为2.0m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例2的磁记录介质。
[0370]
[比较例3]
[0371]
在制备形成背层的涂料中，共混80质量份的具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)50nm)来代替具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)20nm)，并将具有大粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)270nm)的共混量设定为20质量份。而且，在转移步骤中调整了加热条件。结果，将磁性层的表面的峰度设定为3.8。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表3中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，将孔体积设定为0.018cm3/g，并将bet比表面积设定为3.0m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例3的磁记录
介质。
[0372]
[比较例4]
[0373]
在制备形成背层的涂料中，共混90质量份的具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)50nm)来代替具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)20nm)，并将具有大粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)270nm)的共混量设定为10质量份。而且，在转移步骤中调整了加热条件。结果，将磁性层的表面的峰度设定为3.2。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表3中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，将孔体积设定为0.015cm3/g，并将bet比表面积设定为2.5m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例4的磁记录介质。
[0374]
[比较例5]
[0375]
在制备形成背层的涂料中，共混100质量份的仅有具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)50nm)来代替具有小粒径的炭黑粉末(平均粒径(d50)20nm)。而且，在转移步骤中调整了加热条件。结果，将磁性层的表面的峰度设定为3.0。而且，在施加步骤中，调整了干燥条件，并将磁记录介质在厚度方向(垂直方向)上的矩形比s1和其在纵向上的矩形比s2设定为表3中示出的值。而且，在转移步骤中调整了加热条件，将孔体积设定为0.015cm3/g，将在脱附时最大孔体积的孔径设定为5nm，并将bet比表面积设定为2.0m2/g。除了这些之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例5的磁记录介质。
[0376]
[比较例6]
[0377]
在转移步骤中调整了加热条件，并将磁性层的表面的峰度设定为2.7。除了这一点之外，以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例6的磁记录介质。
[0378]
[比较例7]
[0379]
以与上述的实施例1类似的方式获得作为比较例7的磁记录介质，不同之处在于减少了润滑剂中脂肪酸酯的添加量(将第二组合物中的硬脂酸正丁酯的添加量设定为1.5质量份)。
[0380]
[评价]
[0381]
对于如上所述获得的实施例1至23和比较例1至7的磁记录介质，除了上述的摩擦系数比(μb/μa)和摩擦系数比(μ
c(1000)
/μ
c(5)
)之外，执行下述评价。
[0382]
(snr)
[0383]
利用装配有记录/再现磁头和记录/再现放大器的1/2英寸磁带行进装置(由mountain engineering ii制造，mts transport)，在25℃的环境中测量每一个磁记录介质的电磁转换特性(snr)。间隙长度为0.2μm的环型磁头被用作记录磁头，并且盾对盾距离为0.1μm的gmr磁头被用作再现磁头。将相对速度、记录时钟频率、和记录磁道宽度分别设定为6m/s、160mhz、和2.0μm。而且，基于下述文献中描述的方法计算snr。结果示出在表2中，作为相对于作为1db的实施例1的snr的相对值。
[0384]
y.okazaki：
″
an error rate emulation system.
″
，ieee trans.man.，31，pp.3093-3095(1995)
[0385]
(高速稳定性)
[0386]
将在上述的切割步骤之后卷绕在主轴上的磁记录介质(12.65mm宽)放置在上述的
记录/再现装置30(图5)中，并使其从主轴31朝向卷轴10c行进。此时，用光纤位移传感器(由toyo corporation制造的fotonic)测量磁头单元36中磁记录介质在其宽度方向上的位移量。此时，如果磁记录介质在其宽度方向上的位移量小于5μm，则判定该磁记录介质为好，而如果位移量为5μm以上，则判定该磁记录介质为差。注意，行进速度被设定为10m/sec。
[0387]
(卡住)
[0388]
将卷绕在主轴上的磁记录介质(12.65mm宽)放置在上述的记录/再现装置(图5)中，并使其在从主轴朝向卷轴的前进方向上行进。在此之后，将磁记录介质调转，并使其在从卷轴朝向主轴的反转方向上行进。当磁记录介质从前进方向调转成反转方向时，磁头单元的位置移动。此时，通过上述的光纤位移传感器(由toyo corporation制造的fotonic)探测磁记录介质是否因磁头单元和磁记录介质的表面之间的卡住而移动。在此，如果磁记录介质未随磁头单元移动，则判定该磁记录介质为好，而如果磁记录介质随磁头单元移动，则判定该磁记录介质为差。注意，行进速度被设定为10m/sec。
[0389]
(润滑剂的定量方法)
[0390]
通过利用反相谱的上述方法，针对上述的实施例和比较例的每一个样品，将润滑剂中包括的脂肪酸和脂肪酸酯进行定量，并测定其组分比。
[0391]
表2总结了实施例和比较例中的磁记录介质的配置和评价结果。
[0392]
[0393]
[0394][0395]
如表2中所示，在实施例1至23中，由于在已从磁记录介质10移除润滑剂并且磁记录介质10已进行干燥的状态下整个磁记录介质10的bet比表面积是3.5m2/g以上，因而即使在执行了反复的记录或再现之后，也可将润滑剂稳定地供应至磁记录介质和磁头之间的界面，并且可抑制摩擦系数比的增加。同时，在比较例1至5中，由于在已从磁记录介质移除润滑剂并且磁记录介质已进行干燥的状态下整个磁记录介质的bet比表面积小于3.5m2/g，因
而在执行了反复的记录或再现之后摩擦系数比增加。
[0396]
而且，在实施例1至21中，磁性层的表面的峰度是3.0以上，并且在润滑剂中，脂肪酸的含量相对于脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6。因此，获得了优异的高速稳定性，并且没发生卡住。
[0397]
同时，在比较例6中，由于磁性层的表面的峰度是2.7，因而就高速稳定性而言获得了差的结果。
[0398]
而且，在比较例7中，在润滑剂中，由于脂肪酸的含量相对于脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)是0.65，因而在调转时卡在了磁头单元，并获得了差的结果。有人认为这是因为脂肪酸相对于脂肪酸酯不足。
[0399]
而且，在实施例1至21中，由于磁记录介质在其垂直方向(厚度方向)上的矩形比s1是65％以上，因而获得了良好的snr。
[0400]
如上所述，在实施例1至21中，在聚酯被用作基底的情况下，适当地设定了润滑剂中的脂肪酸和脂肪酸酯之间的组分比，并且进一步适当地设定了磁性层的表面的峰度。因此，可充分地减小在低速行进期间磁性层的表面和磁头之间的动摩擦系数和在高速行进期间磁性层的表面和磁头之间的动摩擦系数之间的差。而且，也确认了可长时间稳定地保持那些动摩擦系数。
[0401]
尽管已参照实施方式及其改进具体地描述了本公开内容，但本公开内容不限于上述的实施方式和类似者，而是可做出各种改进。
[0402]
例如，在上述实施方式和其改进中例示的配置、方法、步骤、形状、材料、数值、和类似者仅为示例，并且可在必要时使用与之不同的配置、方法、步骤、形状、材料、数值、和类似者。具体而言，本公开内容的磁记录介质可包括除基底、基础层、磁性层、背层、和阻挡层之外的部件。而且，这些化合物的化学式和类似者是代表性的，且并未受限于描述的价态和类似者，只要这些化合物具有相同化合物的共同名称即可。
[0403]
而且，只要不脱离本公开内容的主旨，在上述实施方式和其改进中的配置、方法、步骤、形状、材料、数值、和类似者可彼此进行组合。
[0404]
而且，在此处逐步地描述的数值范围内，一个阶段内的数值范围的上限值或下限值可被另一阶段内的数值范围的上限值或下限值代替。除非另外指明，否则此处例示的材料可单独使用或者以其两者或更多者的组合使用。
[0405]
如上所述，根据本公开内容实施方式的磁记录介质可在使用期间表现出良好的行进性能。
[0406]
注意，本公开内容的效果不限于此，并且可以是此处描述的任何效果。而且，本技术可采用下述配置。
[0407]
(1)
[0408]
一种带状磁记录介质，包括：
[0409]
基底；
[0410]
设置在所述基底上的基础层；和
[0411]
设置在所述基础层上的磁性层，其中
[0412]
所述基底包括聚酯作为主要组分，
[0413]
所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度，
[0414]
所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂，
[0415]
在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6，
[0416]
所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra，
[0417]
在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质具有3.5m2/g以上的bet比表面积，
[0418]
垂直方向上的矩形比是65％以上，
[0419]
所述磁性层具有90nm以下的平均厚度，并且
[0420]
所述磁记录介质具有5.6μm以下的平均厚度。
[0421]
(2)
[0422]
根据(1)所述的磁记录介质，其中
[0423]
所述磁性层的表面的峰度是3.5以上。
[0424]
(3)
[0425]
根据上述的(1)或(2)所述的磁记录介质，其中
[0426]
在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)是0.35以下。
[0427]
(4)
[0428]
根据上述的(1)或(2)所述的磁记录介质，其中
[0429]
在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)是0.20以下。
[0430]
(5)
[0431]
根据上述的(1)至(4)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0432]
整个所述磁记录介质具有6nm以上且12nm以下的平均孔径，所述平均孔径由bjh法测定。
[0433]
(6)
[0434]
根据上述的(1)至(5)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0435]
在当将0.4n的拉力施加至所述磁记录介质时所述表面和磁头之间的动摩擦系数由μa来表示、并且当将1.2n的拉力施加至所述磁记录介质时所述表面和所述磁头之间的动摩擦系数由μb来表示的情况下，摩擦系数比μb/μa是1.2以上且2.1以下。
[0436]
(7)
[0437]
根据上述的(1)至(6)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0438]
在从开始所述磁记录介质的行进起所述表面和磁头之间的第5次动摩擦系数由μc(5)来表示、并且从开始所述磁记录介质的行进起所述表面和所述磁头之间的第1000次动摩擦系数由μc(1000)来表示的情况下，摩擦系数比μc(1000)/μc(5)是1.2以上且1.9以下。
[0439]
(8)
[0440]
根据上述的(1)至(7)中任一项1所述的磁记录介质，其中
[0441]
所述磁性层包括磁性粉末，并且
[0442]
所述磁性粉末具有1.1以上且3.0以下的平均纵横比。
[0443]
(9)
[0444]
根据上述的(1)至(8)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0445]
所述磁性层包括磁性粉末，并且
[0446]
所述磁性粉末包括含钡(ba)和锶(sr)的六方晶系铁氧体、ε氧化铁、或含钴(co)的尖晶石型铁氧体中的至少一者。
[0447]
(10)
[0448]
根据上述的(1)至(9)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0449]
所述磁性层包括磁性粉末，并且
[0450]
所述磁性粉末具有25nm以下的平均粒径。
[0451]
(11)
[0452]
根据上述的(1)至(10)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0453]
所述润滑剂包括由以下通式《1》表示的化合物和由以下通式《2》表示的化合物中的至少一者、和由以下通式《3》表示的化合物和由以下通式《4》表示的化合物中的至少一者：
[0454]
ch3(ch2)kcooh...《1》
[0455]
(条件是，在通式《1》中，k是选自14以上且22以下的范围的整数)
[0456]
ch3(ch2)nch＝ch(ch2)mcooh...《2》
[0457]
(条件是，在通式《2》中，n和m的加和是选自12以上且20以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数)
[0458]
ch3(ch2)
p
coo(ch2)qch3...《3》
[0459]
(条件是，在通式《3》中，p是选自14以上且22以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数，并且q是选自2以上且5以下的范围、更优选地2以上且4以下的范围的整数)
[0460]
ch3(ch2)
p
coo-(ch2)qch(ch3)2...《4》
[0461]
(条件是，在通式《4》中，p是选自14以上且22以下的范围的整数，并且q是选自1以上且3以下的范围的整数)。
[0462]
(12)
[0463]
根据上述的(1)至(11)中任一项所述的磁记录介质，其中
[0464]
所述基础层具有大量的孔，并且
[0465]
所述磁性层的孔连接至所述基础层的孔。
[0466]
(13)
[0467]
根据上述的(1)至(12)中任一项所述的磁记录介质，进一步包括
[0468]
设置在所述基底与所述基础层相对的一侧上的背层。
[0469]
(14)
[0470]
一种磁记录/再现装置，包括：
[0471]
可顺序地供给带状磁记录介质的进给单元；
[0472]
可将从所述进给单元供给的磁记录介质卷起的卷绕单元；和
[0473]
在与从所述进给单元朝向所述卷绕单元行进的磁记录介质接触的同时可将信息写入所述磁记录介质上并可从所述磁记录介质读出信息的磁头，其中
[0474]
所述磁记录介质包括：
[0475]
基底；
[0476]
设置在所述基底上的基础层；和
[0477]
设置在所述基础层上的磁性层，
[0478]
所述基底包括聚酯作为主要组分，
[0479]
所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度，
[0480]
所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂，
[0481]
在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6，
[0482]
所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra，
[0483]
在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质具有3.5m2/g以上的bet比表面积，
[0484]
垂直方向上的矩形比是65％以上，
[0485]
所述磁性层具有90nm以下的平均厚度，并且
[0486]
所述磁记录介质具有5.6μm以下的平均厚度。
[0487]
(15)
[0488]
根据上述的(14)所述的磁记录/再现装置，其中
[0489]
可调整在所述磁记录介质的纵向上施加至所述磁记录介质的拉力。
[0490]
(16)
[0491]
一种磁记录介质盒，包括：
[0492]
根据上述的(1)至(13)中任一项所述带状磁记录介质；和
[0493]
安置所述磁记录介质的壳体。
[0494]
本技术主张基于在2019年8月16日递交的日本专利申请第2019-149510号的优先权权益，其全部内容通过引用并入本文中。
[0495]
本领域技术人员可根据设计要求和其他因素想到各种改进、组合、子组合、和变化。人们理解这些改进、组合、子组合、和变化也被包括在随附的权利要求书及其等价体的范围内。

技术特征：

1.一种带状磁记录介质，包括：基底；设置在所述基底上的基础层；和设置在所述基础层上的磁性层，其中所述基底包括聚酯作为主要组分，所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度，所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂，在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6，所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra，在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质具有3.5m2/g以上的bet比表面积，垂直方向上的矩形比是65％以上，所述磁性层具有90nm以下的平均厚度，并且所述磁记录介质具有5.6μm以下的平均厚度。2.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述磁性层的表面的峰度是3.5以上。3.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)是0.35以下。4.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)是0.20以下。5.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中整个所述磁记录介质具有6nm以上且12nm以下的平均孔径，所述平均孔径由bjh法测定。6.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中在当将0.4n的拉力施加至所述磁记录介质时所述表面和磁头之间的动摩擦系数由μa来表示、并且当将1.2n的拉力施加至所述磁记录介质时所述表面和所述磁头之间的动摩擦系数由μb来表示的情况下，摩擦系数比μb/μa是1.2以上且2.1以下。7.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中在从开始所述磁记录介质的行进起第5次所述表面和磁头之间的动摩擦系数由μc(5)来表示、并且从开始所述磁记录介质的行进起第1000次所述表面和所述磁头之间的动摩擦系数由μc(1000)来表示的情况下，摩擦系数比μc(1000)/μc(5)是1.2以上且1.9以下。8.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述磁性层包括磁性粉末，并且所述磁性粉末具有1.1以上且3.0以下的平均纵横比。9.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述磁性层包括磁性粉末，并且
所述磁性粉末包括含钡(ba)和锶(sr)的六方晶系铁氧体、ε氧化铁、或含钴(co)的尖晶石型铁氧体中的至少一者。10.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述磁性层包括磁性粉末，并且所述磁性粉末具有25nm以下的平均粒径。11.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述润滑剂包括由以下通式<1>表示的化合物和由以下通式<2>表示的化合物中的至少一者、和由以下通式<3>表示的化合物和由以下通式<4>表示的化合物中的至少一者：ch3(ch2)
k
cooh...<1>(条件是，在通式<1>中，k是选自14以上且22以下的范围的整数)ch3(ch2)
n
ch＝ch(ch2)
m
cooh...<2>(条件是，在通式<2>中，n和m的加和是选自12以上且20以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数)ch3(ch2)
p
coo(ch2)
q
ch3...<3>(条件是，在通式<3>中，p是选自14以上且22以下的范围、更优选地14以上且18以下的范围的整数，并且q是选自2以上且5以下的范围、更优选地2以上且4以下的范围的整数)ch3(ch2)
p
coo-(ch2)
q
ch(ch3)2...<4>(条件是，在通式<4>中，p是选自14以上且22以下的范围的整数，并且q是选自1以上且3以下的范围的整数)。12.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中所述基础层具有大量的孔，并且所述磁性层的孔连接至所述基础层的孔。13.根据权利要求1所述的磁记录介质，进一步包括设置在所述基底与所述基础层相对的一侧上的背层。14.一种磁记录/再现装置，包括：可顺序地供给带状磁记录介质的进给单元；可将从所述进给单元供给的磁记录介质卷起的卷绕单元；和在与从所述进给单元朝向所述卷绕单元行进的磁记录介质接触的同时可将信息写入所述磁记录介质上并可从所述磁记录介质读出信息的磁头，其中所述磁记录介质包括：基底；设置在所述基底上的基础层；和设置在所述基础层上的磁性层，所述基底包括聚酯作为主要组分，所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度，所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂，在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6，所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra，
在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质具有3.5m2/g以上的bet比表面积，垂直方向上的矩形比是65％以上，所述磁性层具有90nm以下的平均厚度，并且所述磁记录介质具有5.6μm以下的平均厚度。15.根据权利要求14所述的磁记录/再现装置，其中可调整在所述磁记录介质的纵向上施加至所述磁记录介质的拉力。16.一种磁记录介质盒，包括：带状磁记录介质；和安置所述磁记录介质的壳体，其中所述磁记录介质包括基底；设置在所述基底上的基础层；和设置在所述基础层上的磁性层，其中所述基底包括聚酯作为主要组分，所述磁性层与所述基础层相对的表面具有3.0以上的峰度，所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂，在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例(脂肪酸/脂肪酸酯)小于0.6，所述磁性层的表面具有2.5nm以下的算术平均粗糙度ra，在已从所述磁记录介质移除所述润滑剂并且所述磁记录介质已进行干燥的状态下，整个所述磁记录介质具有3.5m2/g以上的bet比表面积，垂直方向上的矩形比是65％以上，所述磁性层具有90nm以下的平均厚度，并且所述磁记录介质具有5.6μm以下的平均厚度。

技术总结

提供了一种可在使用期间表现良好行进性能的磁记录介质。这种磁记录介质是带状磁记录介质，并且包括含聚酯作为主要组分的基底、设置在所述基底上的基础层、和设置在所述基础层上的磁性层。所述磁性层的表面的峰度是3.0以上。所述基础层和所述磁性层各自包括含脂肪酸和脂肪酸酯的润滑剂。在所述润滑剂中，所述脂肪酸的含量相对于所述脂肪酸酯的含量的比例小于0.6。小于0.6。小于0.6。