透射电镜样品制备方法及优缺点

透射电镜样品制备方法及优缺点
    透射电镜样品制备主要分为两步,即液体/固体 样品处理和超薄切片制备。
    1、液体/固体样品处理
    第一种方法是基于普通电镜样品制备的双步处理法,即第一步用电子束处理样品表面,使其导电,再经过透射电子束进行处理。在这种方法下,样品表面层只有几百到几千纳米厚,因此,只有比较薄的样品才能够得到满意的结果。
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上彩    另一种方法是采用高真空下的固态电子涂覆,即将样品表面涂覆上薄层特殊金属。例如可以用铱、金、铂或其它金属的熔合物作为涂层,以获得特殊的涂层电导能力,从而保证样品的电子图像分辨率和可视深度。
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    超薄切片制备分为超声切片和非超声切片两类。超声切片通常是采用高能量超声波振荡使容易被劈开的液体/固体样品形成自发非规则薄片,有时还可以加入一定量的碎薄片,从而使超声对样品的透射变的更容易,提高了结果的准确性。
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    非超声切片制备则采用比较稳定的技术来实现,如钻石刀片切割、钝型刀制备和原子力显微镜焦点束来制备,具有薄层切片准确厚度的特点,且可以满足多层次数据获取。
    优点:
    1、透射电镜样品制备要求低,可以在常规实验室条件下完成,便于实验和分析
    2、采用精确远离样品表面的电子束,使放大比例高,且能够获得更高的分辨率和更深的可视深度;
塔吊防碰撞    3、三维结构复杂的物质可以藉由采用不同的金属包覆来进行分析;
    1、制备过程繁琐复杂,容易出现样品分析结果不精确的情况;
    2、物质表面多层次结构信息分析难度大,可能会影响分析结果准确性;
    3、结构深度较大时,获取信息较困难,分析效果受到影响。

本文发布于:2024-09-20 10:46:23,感谢您对本站的认可!

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