一种TP盖板的P/Lsensor孔的检测装置及检测方法与流程

一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置及检测方法
技术领域
1.本发明涉及智能终端前壳组件技术领域，特别是涉及一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置及检测方法。

背景技术：

2.手机skd生产模式是指在国内生产好的散件，通过海运的方式运输到海外组装工厂，再组装成整机的生产方式。该生产方式对散件的质量要求严格，因为在海外工厂的组装过程中一旦发现存在质量问题，海外工厂会退货给国内供应商，国内供应商不仅要面临退换货和索赔的损失，还需要承受海运运回国内的时间成本损失。
3.手机前壳组件的tp盖板上设置有p/l sensor孔，设置于主板上的p/l sensor需要通过p/lsensor孔感知光线变化和距离，调节屏幕亮度及关闭与点亮。p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，距离传感器发出的光线需要穿过盖板发射孔向外传传播，反射光线和环境光线也需要穿过盖板接收孔才能被距离传感器的光接收器和环境光接收器所接收。
4.现有的p/l sensor孔检测方法是将前壳组件和手机主板搭配组装，在手机开机后，通过手机的工程模式来检测前壳组件的p/l sensor孔功能，一般需要等待手机主板上电和开机时间(大概50-60秒)，距离传感器和环境光传感器功能测试时间(大概30秒)，该方法操作工时过长，效率较低，而且需要手机主板、电池物料等损耗性物料的配合使用。

技术实现要素：

5.基于此，本发明的目的在于，提供一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置及检测方法，可以快速、有效的对tp盖板的sensor孔的功能进行测试，大幅提升检测效率。
6.第一方面，本发明提供一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，所述p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，包括：
7.检测探头，包括光发射器、光接收器，所述光发射器用于发射探测光线，所述光接收器用于接收所述探测光线经阻挡物反射的反射光线，以及用于接收环境光线；
8.夹持模块，包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元用于夹持待测盖板，并将所述待测盖板移动至与所述检测探头的上端面贴合，使得所述盖板发射孔和所述盖板接收孔分别与所述光发射器和所述光接收器对应；所述第二夹持单元用于夹持灰卡，并带动所述灰卡在所述待测盖板上方的一定距离处水平移动；
9.控制模块，用于在所述灰卡远离所述待测盖板上方，所述待测盖板处于无遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的无遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；所述控制模块还用于在通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号；
10.所述控制模块还用于在所述灰卡在所述待测盖板上方，所述待测盖板处于遮挡状
态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行遮挡测试；所述控制模块还用于在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。
11.进一步地，所述控制模块还用于在所述待测盖板处于无遮挡状态时，将所述无遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将所述无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；
12.所述控制模块还用于在所述无遮挡底噪数值大于等于所述无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；所述控制模块还用于在所述无遮挡底噪数值小于所述无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。
13.进一步地，所述控制模块还用于在所述待测盖板处于遮挡状态时，将所述遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将所述遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；
14.所述控制模块还用于在所述遮挡底噪数值大于等于所述遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；所述控制模块还用于在所述遮挡底噪数值小于所述遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。
15.进一步地，所述控制模块还用于计算所述遮挡底噪数值与所述无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将所述底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；
16.所述控制模块还用于在所述底噪差值大于等于所述底噪差值门限的下限以及小于等于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；所述控制模块还用于在所述底噪差值小于所述底噪差值门限的下限，或者大于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信号。
17.进一步地，所述检测装置还包括指示灯模块；
18.所述控制模块用于在输出所述无遮挡测试合格信号，以及输出所述遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制所述指示灯模块亮绿灯；
19.所述控制模块还用于在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制所述指示灯模块亮红灯。
20.第二方面，本发明提供了一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，所述p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，其特征在于，所述检测装置包括检测探头、夹持模块和控制模块，所述检测探头包括光发射器、光接收器，所述夹持模块包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元用于夹持待测盖板，并将所述待测盖板移动至与所述检测探头的上端面贴合，使得所述盖板发射孔和所述盖板接收孔分别与所述光发射器和所述光接收器对应；所述第二夹持单元用于夹持灰卡，并带动所述灰卡在所述待测盖板上方的一定距离处水平移动；该方法包括以下步骤：
21.在所述灰卡远离所述待测盖板上方，所述待测盖板处于无遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；
22.在通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号；
23.在所述灰卡在所述待测盖板上方，所述待测盖板处于遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行遮挡测试；
24.在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。
25.进一步地，在所述待测盖板处于无遮挡状态时，将所述无遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将所述无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；
26.在所述无遮挡底噪数值大于等于所述无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；
27.在所述无遮挡底噪数值小于所述无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。
28.进一步地，在所述待测盖板处于遮挡状态时，将所述遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将所述遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；
29.在所述遮挡底噪数值大于等于所述遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；
30.在所述遮挡底噪数值小于所述遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。
31.进一步地，计算所述遮挡底噪数值与所述无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将所述底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；
32.在所述底噪差值大于等于所述底噪差值门限的下限以及小于等于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；
33.在所述底噪差值小于所述底噪差值门限的下限，或者大于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信号。
34.进一步地，在输出所述无遮挡测试合格信号，以及输出所述遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制所述指示灯模块亮绿灯；
35.在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制所述指示灯模块亮红灯。
36.本技术提供的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置及检测方法，通过设置带有光发射器和光接收器的检测探头，模拟智能终端上的传感器对tp盖板的p/l sensor孔进行检测，还通过设计无遮挡测试、遮挡测试和差值测试，从多方面检测sensor孔的穿透、反射效果。而且该测试方法不必将盖板接入到终端主板上进行检测，从而避免了原测试方法中的终端上电、开机时间，大幅提升检测效率，可以快速、有效的对tp盖板的sensor孔的功能进行测试，将质量合格的tp盖板和有缺陷的tp盖板分别筛选出来。
37.为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本发明。
附图说明
38.图1为本发明实施例中一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置的结构示意图；
39.图2为本发明实施例中一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置的无遮挡测试原理示意图；
40.图3为本发明实施例中一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置的遮挡测试原理示意图；
41.图4为本发明实施例中一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法的步骤示意图；
42.图5为本发明实施例中一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法的流程示意图。
具体实施方式
43.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施例方式作进一步地详细描述。
44.应当明确，所描述的实施例仅仅是本技术实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术实施例中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术实施例保护的范围。
45.在本技术实施例使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本技术实施例。在本技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
46.下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
47.此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
48.针对背景技术提及的技术问题，本发明提供一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，用于对智能终端的前壳组件的p/l sensor孔进行质量检测，由于现有的智能终端基本都包括环境光检测和距离检测功能，因此，智能终端前壳组件的tp盖板需要设置供光线通过的p/lsensor孔，使得设置于主板上的环境光传感器和距离传感器能够通过sensor孔发出检测光信号，以及通过sensor孔接收到反射的检测光信号以及环境光信号。本技术是通过对应tp盖板上的sensor孔位置设计检测装置。
49.在一个例子中，如图1所示，p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，检测装置包括检测探头、夹持模块和控制模块，该检测探头包括光发射器、光接收器，光发射器用于发射探测光线，光接收器用于接收探测光线经阻挡物反射的反射光线，以及用于接收环境光线。
50.可选的，光发射器可以是红外发射器，与之对应的，光接收器包括用于接收反射的
红外光线信号的红外接收器，光发射器还可以是激光发射器，光接收器包括用于接收反射的激光光线信号的激光接收器，光接收器还包括用于接收环境光线的环境光接收器。
51.夹持模块包括第一夹持单元和第二夹持单元，第一夹持单元用于夹持待测盖板，并将待测盖板移动至与检测探头的上端面贴合，使得盖板发射孔和盖板接收孔分别与光发射器和光接收器对应，第二夹持单元用于夹持灰卡，并带动灰卡在待测盖板上方的一定距离处水平移动。
52.可选的，灰卡可以是18％灰卡，灰卡与待测盖板的p/l sensor孔之间可以保持22mm、25mm或40mm的距离，使得检测光线能够穿过盖板发射孔并被位于上方的灰卡反射，反射的检测光线通过盖板接收孔被光接收器接收。
53.控制模块，用于在灰卡远离待测盖板上方，待测盖板处于无遮挡状态时，控制光发射器发射探测光线，以及获取光接收器接收到的无遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；控制模块还用于在通过无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号。
54.其中，如图2所示，在灰卡远离待测盖板上方，待测盖板处于无遮挡状态时，光发射器发射的探测光线一部分通过盖板发射孔的孔壁反射被光接收器直接接收，另一部分则穿过盖板发射孔，没有被光接收器接收，控制模块通过接收到的无遮挡反射光线强度和环境光线强度，对待测盖板进行无遮挡测试。
55.控制模块还用于在灰卡在待测盖板上方，待测盖板处于遮挡状态时，控制光发射器发射探测光线，以及获取光接收器接收到的遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对待测盖板进行遮挡测试；控制模块还用于在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。
56.其中，如图3所示，在灰卡在待测盖板上方，待测盖板处于遮挡状态时，光发射器发射的探测光线一部分通过盖板发射孔的孔壁反射被光接收器直接接收，另一部分穿过盖板发射孔，被设置于待测盖板上方的灰卡反射，从而被光接收器接收，使得待测盖板处于遮挡状态时，遮挡反射光线包括以上两个来源，控制模块通过接收到的遮挡反射光线强度和环境光线强度，对待测盖板进行遮挡测试。
57.具体的，控制模块还用于在待测盖板处于无遮挡状态时，将无遮挡反射光线强度和环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；控制模块还用于在无遮挡底噪数值大于等于无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；控制模块还用于在无遮挡底噪数值小于无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。
58.其中，控制模块将无遮挡反射光线强度和环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，简称为ct(即crosstalk)，当ct数值满足设定的无遮挡底噪数值门限区间，如下式所示，即ct要大于等于无遮挡底噪数值门限的下限，以及要小于等于无遮挡底噪数值门限的上限，输出无遮挡测试合格信号；当ct数值不满足设定的无遮挡底噪数值门限区间，输出无遮挡测试不合格信号。
[0059][0060]
具体的，控制模块还用于在所述待测盖板处于遮挡状态时，将遮挡反射光线强度和环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；控制模块还用于在遮挡底噪数值大于等于遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；控制模块还用于在遮挡底噪数值小于遮挡底噪数值门限的下限，或者大于遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。
[0061]
其中，控制模块在有灰卡遮挡状态下，将遮挡反射光线强度和环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，简称为prox_covered，当prox_covered数值满足设定的遮挡底噪数值门限区间，如下式所示，即prox_covered要大于等于遮挡底噪数值门限的下限，以及要小于等于遮挡底噪数值门限的上限，输出遮挡测试合格信号；当prox_covered数值不满足设定的遮挡底噪数值门限区间，输出遮挡测试不合格信号。
[0062][0063]
可选的，控制模块还用于计算遮挡底噪数值与无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；控制模块还用于在底噪差值大于等于底噪差值门限的下限以及小于等于底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；控制模块还用于在底噪差值小于底噪差值门限的下限，或者大于底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信号。
[0064]
其中，控制模块将遮挡底噪数值与无遮挡底噪数值之间作差，计算得到底噪差值，简称covered_vs_uncovered，计算方法为covered_vs_uncovered＝prox_covered
–
ct；当covered_vs_uncovered数值满足设定的底噪差值门限区间，如下式所示，即covered_vs_uncovered要大于等于底噪差值门限的下限，以及要小于等于底噪差值门限的上限，输出差值测试合格信号；当covered_vs_uncovered数值不满足设定的底噪差值门限区间，输出差值测试不合格信号。
[0065][0066]
可选的，检测装置还包括指示灯模块；控制模块用于在输出无遮挡测试合格信号，以及输出遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制指示灯模块亮绿灯；控制模块还用于在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制指示灯模块亮红灯。
[0067]
与之对应的，如图4所示，本发明还提供一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，该方法由上述检测装置的控制模块执行，包括以下步骤：
[0068]
s401：在所述灰卡远离所述待测盖板上方，所述待测盖板处于无遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；
[0069]
s402：在通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号；
[0070]
s403：在所述灰卡在所述待测盖板上方，所述待测盖板处于遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行遮挡测试；
[0071]
s404：在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。
[0072]
在一个具体的例子中，所述对所述待测盖板进行无遮挡测试，包括以下步骤：
[0073]
在所述待测盖板处于无遮挡状态时，将所述无遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将所述无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；
[0074]
在所述无遮挡底噪数值大于等于所述无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；
[0075]
在所述无遮挡底噪数值小于所述无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。
[0076]
在一个具体的例子中，所述对所述待测盖板进行遮挡测试，包括以下步骤：
[0077]
在所述待测盖板处于遮挡状态时，将所述遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将所述遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；
[0078]
在所述遮挡底噪数值大于等于所述遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；
[0079]
在所述遮挡底噪数值小于所述遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。
[0080]
在一个具体的例子中，还需要对待测盖板进行底噪差值测试，包括以下步骤：
[0081]
计算所述遮挡底噪数值与所述无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将所述底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；
[0082]
在所述底噪差值大于等于所述底噪差值门限的下限以及小于等于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；
[0083]
在所述底噪差值小于所述底噪差值门限的下限，或者大于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信号。
[0084]
在一个具体的例子中，所述检测装置还包括指示灯模块，通过指示灯将检测结果告知技术人员，通过该方法还包括以下步骤：
[0085]
在输出所述无遮挡测试合格信号，以及输出所述遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制所述指示灯模块亮绿灯；
[0086]
在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制所述指示灯模块亮红灯。
[0087]
在控制模块判定当前的tp盖板分别通过无遮挡测试、遮挡测试和差值测试，控制led绿灯亮，表示当前测试样本为合格样品；如果当前测试的tp盖板，不满足无遮挡测试、遮挡测试和差值测试中的一项或以上，控制led红灯亮，表示当前测试样本为不合格样品，tp
盖板存在缺陷。
[0088]
在一种具体的应用场景中，如图5所示，该方法的实施步骤流程为第一夹持单元将待测盖板移动至与检测探头的上端面贴合，使得盖板发射孔和盖板接收孔分别与光发射器和光接收器对应，随后在灰卡远离待测盖板上方，待测盖板处于无遮挡状态时，对待测盖板进行无遮挡测试；在无遮挡测试合格后，将灰卡移动至待测盖板上方，待测盖板处于遮挡状态时，对待测盖板进行遮挡测试；在待测盖板的遮挡测试合格后，对待测盖板进行差值测试，在待测盖板的差值测试合格后，控制led绿灯亮，表示当前测试样本为合格样品。在依次进行无遮挡测试、遮挡测试和差值测试的过程中任一项不合格，控制led红灯亮，表示当前测试样本为不合格样品，检测结束。
[0089]
本技术提供的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置及检测方法，通过设置带有光发射器和光接收器的检测探头，模拟智能终端上的传感器对tp盖板的p/l sensor孔进行检测，还通过设计无遮挡测试、遮挡测试和差值测试，从多方面检测sensor孔的穿透、反射效果。而且该测试方法不必将盖板接入到终端主板上进行检测，从而避免了原测试方法中的终端上电、开机时间，检测时间缩短至8秒以内，大幅提升检测效率，可以快速、有效的对tp盖板的sensor孔的功能进行测试，将质量合格的tp盖板和有缺陷的tp盖板分别筛选出来。
[0090]
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

技术特征：

1.一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，所述p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，其特征在于，包括：检测探头，包括光发射器、光接收器，所述光发射器用于发射探测光线，所述光接收器用于接收所述探测光线经阻挡物反射的反射光线，以及用于接收环境光线；夹持模块，包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元用于夹持待测盖板，并将所述待测盖板移动至与所述检测探头的上端面贴合，使得所述盖板发射孔和所述盖板接收孔分别与所述光发射器和所述光接收器对应；所述第二夹持单元用于夹持灰卡，并带动所述灰卡在所述待测盖板上方的一定距离处水平移动；控制模块，用于在所述灰卡远离所述待测盖板上方，所述待测盖板处于无遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的无遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；所述控制模块还用于在通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号；所述控制模块还用于在所述灰卡在所述待测盖板上方，所述待测盖板处于遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的遮挡反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行遮挡测试；所述控制模块还用于在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。2.根据权利要求1所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，其特征在于：所述控制模块还用于在所述待测盖板处于无遮挡状态时，将所述无遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将所述无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；所述控制模块还用于在所述无遮挡底噪数值大于等于无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；所述控制模块还用于在所述无遮挡底噪数值小于所述无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。3.根据权利要求2所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，其特征在于：所述控制模块还用于在所述待测盖板处于遮挡状态时，将所述遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将所述遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；所述控制模块还用于在所述遮挡底噪数值大于等于遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；所述控制模块还用于在所述遮挡底噪数值小于所述遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。4.根据权利要求3所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，其特征在于：所述控制模块还用于计算所述遮挡底噪数值与所述无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将所述底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；所述控制模块还用于在所述底噪差值大于等于底噪差值门限的下限以及小于等于底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；所述控制模块还用于在所述底噪差值小于所述底噪差值门限的下限，或者大于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信
号。5.根据权利要求4所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测装置，其特征在于：所述检测装置还包括指示灯模块；所述控制模块用于在输出所述无遮挡测试合格信号，以及输出所述遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制所述指示灯模块亮绿灯；所述控制模块还用于在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制所述指示灯模块亮红灯。6.一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，所述p/l sensor孔包括盖板发射孔和盖板接收孔，其特征在于，所述检测装置包括检测探头、夹持模块和控制模块，所述检测探头包括光发射器、光接收器，所述夹持模块包括第一夹持单元和第二夹持单元，所述第一夹持单元用于夹持待测盖板，并将所述待测盖板移动至与所述检测探头的上端面贴合，使得所述盖板发射孔和所述盖板接收孔分别与所述光发射器和所述光接收器对应；所述第二夹持单元用于夹持灰卡，并带动所述灰卡在所述待测盖板上方的一定距离处水平移动；该方法包括以下步骤：在所述灰卡远离所述待测盖板上方，所述待测盖板处于无遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行无遮挡测试；在通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试合格信号，在没通过所述无遮挡测试时，输出无遮挡测试不合格信号；在所述灰卡在所述待测盖板上方，所述待测盖板处于遮挡状态时，控制所述光发射器发射探测光线，以及获取所述光接收器接收到的反射光线强度和环境光线强度，以此对所述待测盖板进行遮挡测试；在通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试合格信号，在没通过所述遮挡测试时，输出遮挡测试不合格信号。7.根据权利要求6所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：在所述待测盖板处于无遮挡状态时，将所述无遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到无遮挡底噪数值，并将所述无遮挡底噪数值与设定的无遮挡底噪数值门限区间进行比较；在所述无遮挡底噪数值大于等于无遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试合格信号；在所述无遮挡底噪数值小于所述无遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述无遮挡底噪数值门限的上限时，输出无遮挡测试不合格信号。8.根据权利要求7所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：在所述待测盖板处于遮挡状态时，将所述遮挡反射光线强度和所述环境光线强度计算得到遮挡底噪数值，并将所述遮挡底噪数值与设定的遮挡底噪数值门限区间进行比较；在所述遮挡底噪数值大于等于遮挡底噪数值门限的下限以及小于等于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试合格信号；
在所述遮挡底噪数值小于所述遮挡底噪数值门限的下限，或者大于所述遮挡底噪数值门限的上限时，输出遮挡测试不合格信号。9.根据权利要求8所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：计算所述遮挡底噪数值与所述无遮挡底噪数值之间的底噪差值，并将所述底噪差值与设定的底噪差值门限区间进行比较；在所述底噪差值大于等于底噪差值门限的下限以及小于等于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试合格信号；在所述底噪差值小于所述底噪差值门限的下限，或者大于所述底噪差值门限的上限时，输出差值测试不合格信号。10.根据权利要求9所述的一种tp盖板的p/l sensor孔的检测方法，其特征在于，所述检测装置还包括指示灯模块，该方法还包括以下步骤：在输出所述无遮挡测试合格信号，以及输出所述遮挡测试合格信号，以及输出差值测试合格信号后，控制所述指示灯模块亮绿灯；在输出无遮挡测试不合格信号，或者，输出遮挡测试不合格信号，或者，输出差值测试不合格信号后，控制所述指示灯模块亮红灯。

技术总结

本发明涉及一种TP盖板的P/L sensor孔的检测装置及检测方法。本发明所述的检测装置包括检测探头、夹持模块和控制模块，检测探头包括光发射器、光接收器；夹持模块用于夹持待测盖板，并将待测盖板移动至与检测探头的上端面贴合，使得盖板发射孔和盖板接收孔分别与光发射器和光接收器对应；夹持模块还用于夹持灰卡，并带动灰卡在待测盖板上方的一定距离处水平移动；控制模块，用于在灰卡远离待测盖板上方，待测盖板处于无遮挡状态时，对待测盖板进行无遮挡测试；以及在灰卡位于待测盖板上方，待测盖板处于遮挡状态时，对待测盖板进行遮挡测试。本发明提供的检测装置可以sensor孔的功能进行测试，将质量合格或有缺陷的TP盖板分别筛选出来，提升检测效率。提升检测效率。提升检测效率。