一种用于WAT测试软件的自动测试方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 114443474 A (43)申请公布日 2022.05.06

(21)申请号 CN202111649453.3

(22)申请日 2021.12.30

(71)申请人杭州广立微电子股份有限公司

地址浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座

(72)发明人李成霞唐宁敏

(74)专利代理机构

代理人

(51)Int.CI

G06F11/36

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

一种用于WAT测试软件的自动测试方法

(57)摘要

本发明提供一种用于WAT测试软件的自动测试方法，包括在测试阶段进行：步骤S1.设置测试执行文件并运行，自动向WAT测试软件发送若干测试用例进行测试，并自动生成log文件记录所述测试执行文件中全部或部分测试用例的执行结果；步骤S2.根据所述log文件，判断是否测试用例的测试结果是否符合预设标准，判定所述WAT测试软件的质量是否达标。通过设置测试执行文件并运行，实现针对WAT测试软件的自动化测试，并可以通过针对性地设置所述测试执行文件中的测试用例集来覆盖不同的测试情景，于不同应用场景下的适用性更强，有效避免人为错误的产生且能极大提高测试效率，最大程度优化测试软件的研发周期进而全面提高工作效率。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-05-06	公开	发明专利申请公布
2022-05-24	实质审查的生效IPC(主分类):G06F11/36专利申请号:2021116494533申请日:20211230	实质审查的生效
2023-09-26	专利申请权的转移IPC(主分类):G06F11/36专利申请号:2021116494533登记生效日:20230909变更事项:申请人变更前权利人:杭州广立微电子股份有限公司变更后权利人:杭州广立测试设备有限公司变更事项:地址变更前权利人:浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座变更后权利人:310012 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢1楼1106室	专利申请权、专利权的转移