一种消除PIV实验中壁面反光的方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局

	(12)发明专利说明书
		(10)申请公布号 CN 114384270 A (43)申请公布日 2022.04.22

(21)申请号 CN202111626952.0

(22)申请日 2021.12.28

(71)申请人哈尔滨工程大学

地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

(72)发明人郭春雨吴延园韩阳王超孙聪汪永号叔渤洋庞广康

(74)专利代理机构

代理人

(51)Int.CI

G01P5/20

G01P5/26

G01P1/00

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

一种消除PIV实验中壁面反光的方法

(57)摘要

本发明属于宏观PIV实验技术领域，具体涉及一种消除PIV实验中壁面反光的方法。本发明通过对入射激光波长的过滤，使只能激发示踪粒子的激光波长照射到被测流场，将周围的环境等杂光过滤掉；然后通过对相机接收光源进行过滤，仅能让示踪粒子发射的荧光通过，被测试模型壁面反射回来的其他波长的光就不会进入高速相机，然后利用自研的基于卷积神经网络模型图像处理算法对拍摄的粒子图片进行后处理，有效的消除粒子图片中的壁面反光，从而得到高对比度的纯粒子图像。本发明能够用于PIV系统中消除由模型壁面引起的强反光并保护高速相机的感光元件，具有适用范围广、易调节、结构简单的特点。

法律状态

法律状态公告日	法律状态信息	法律状态
2022-04-22	公开	发明专利申请公布
2022-05-10	实质审查的生效IPC(主分类):G01P 5/20专利申请号:2021116269520申请日:20211228	实质审查的生效
2023-07-21	授权	发明专利权授予