一种光纤氢损测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及光纤检测技术领域，具体涉及一种光纤氢损测试装置。

背景技术：

2.光纤的氢损，是一种由于玻璃光纤被置于含氢的环境时，因光纤中的缺陷与氢发生反应，而在某些特征波长上出现衰减附加的现象。在光纤的使用寿命内，光纤中氢气的积累可能使光纤的光学性能劣化。
3.在为了了解光纤氢损特性，或者在开发新产品、改进工艺后，需要进行氢损试验。氢损试验是对常态氢损过程的一种加速模拟过程。在申请号为cn201822164508.1的中国专利中，公开了《一种光纤氢损测试装置》，如图1所示，该装置包括罐体1、罐盖2、移动机构3，罐盖2与罐体1可拆卸密封连接，罐体1设置于移动机构3上。罐体1上设置有进气口、排气口、与进气口连接的进气阀门4、与排气口连接的排气阀门5，罐体1的内壁上开设若干个凹槽，这样环形凹槽可以通过卡紧光纤盘的边缘而实现光纤盘的固定，提高了光纤盘在氢损测试的稳定性。
4.上述装置只有打开罐盖2，才能取放光纤盘，每当取放光纤盘时，罐体1内的氢损环境难以维持，从而在需要继续测试此光纤盘上的光纤的氢损特性时，需要重新等待一段时间，让罐体1内的氢损环境恢复，从而降低了测试效率。
5.故而，如何能够提高测试效率，是本领域的技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

6.本实用新型针对现有技术存在的上述不足，提出一种光纤氢损测试装置，本实用新型能够提高测试效率。
7.为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
8.一种光纤氢损测试装置，包括罐体，罐体内设有支架，支架与光纤盘转动连接，罐体上设有测试孔，光纤盘上的光纤的端部从测试孔伸出，罐体外设有用于封闭测试孔的孔壁和光纤之间间隙的封闭结构。
9.进一步的，所述封闭结构包括定位板、防护壳、主锥齿轮、副锥齿轮、转轴、卡爪、封闭密封圈，定位板与所述罐体连接，定位板设有定位孔，定位板远离罐体的一侧设有防护壳，防护壳设有防护孔，主锥齿轮和副锥齿轮均设于防护壳内，主锥齿轮和防护壳转动连接，主锥齿轮在靠近定位板的一侧与副锥齿轮配合，副锥齿轮上设有用于与防护壳转动配合的转轴，主锥齿轮在远离定位板的一侧设有平面螺纹，卡爪与平面螺纹配合，卡爪沿主锥齿轮的径向与防护壳滑动连接，所述光纤盘上的光纤的端部依次从所述测试孔、定位孔、主锥齿轮的轮孔、防护孔伸出，测试孔的孔壁、主锥齿轮的轮孔的孔壁均设有封闭密封圈。
10.进一步的，所述罐体外设有连接法兰，连接法兰通过紧固件与所述定位板连接，连接法兰和定位板之间设有连接密封圈。
11.进一步的，所述防护壳上设有转孔，所述转轴上设有两个限位块，一个限位块设于
防护壳内，一个限位块设于防护壳外，转轴在位于两个限位块之间的部分设有限位密封圈，限位密封圈与转孔配合。
12.进一步的，所述罐体内设有滑轨，所述支架设有用于与滑轨滑动配合的滑槽，支架上设有承托轴，承托轴与所述光纤盘转动配合。
13.进一步的，所述支架上设有抓握杆。
14.本实用新型具有的有益效果：
15.1、在本实用新型的测试装置中，能够将位于罐体内的光纤向外拽出，并利用封闭结构进行封闭和夹持光纤，以便于在测试此光纤盘上的光纤的氢损特性时，无需频繁开闭罐盖，从而降低了对罐体内的氢损环境的影响，以便于连续测试光纤的氢损情况，从而无需耗费时间等待罐体内的氢损环境恢复，有利于提高测试效率。
16.2、在本实用新型的测试装置中，用于封闭和夹持光纤的封闭结构，为纯机械结构，方便检修维护，有利于提高检修维护的效率。
17.3、在本实用新型的测试装置中，封闭结构只需转动转轴即可操控卡爪对光纤的夹持，方便操作，有利于提高操作效率。
附图说明
18.图1是背景技术的结构示意图；
19.图2是一种光纤氢损测试装置的结构示意图一；
20.图3是图2中a处的局部放大图；
21.图4是封闭结构的结构示意图；
22.图5是一种光纤氢损测试装置的结构示意图二；
23.图6是一种光纤氢损测试装置的结构示意图三；
24.图7是一种光纤氢损测试装置的结构示意图四；
25.图8是支架的结构示意图。
26.附图标记说明：
27.1-罐体，101-滑轨，102-测试孔，103-连接法兰，104-紧固件，105-连接密封圈，2-罐盖，3-移动机构，4-进气阀门，5-排气阀门，6-支架，601-滑槽，602-承托轴，603-抓握杆，7-光纤盘，8-定位板，801-定位孔，9-防护壳，901-防护孔，902-支撑环，903-第一滑孔，10-主锥齿轮，1001-支撑槽，1002-平面螺纹，11-副锥齿轮，12-转轴，1201-限位块，13-卡爪，1301-第二滑孔，14-封闭密封圈。
具体实施方式
28.为了更好地理解本实用新型，下面结合附图对本实用新型进行进一步的阐述。值得注意的是，在本实用新型的描述中，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
29.实施例：
30.一种光纤氢损测试装置，包括罐体1。如图7所示，罐体1内设有支架6，支架6用于承
载光纤盘7。具体的，如图8所示，支架6上安装有承托轴602，在承载光纤盘7时，只需将光纤盘7套设在承托轴602上即可，光纤盘7能够绕承托轴602转动，图8中所示的光纤盘7上尚未卷绕光纤。
31.为了方便支架6和支架6上的光纤盘7进出罐体1，如图7-8所示，在罐体1内安装有滑轨101，支架6设有用于与滑轨101滑动配合的滑槽601，并且在支架6上安装有抓握杆603。当需要将光纤盘7放置入罐体1或者从罐体1内拿出光纤盘7时，需要先打开罐盖2，再拽出支架6，之后将光纤盘7套在承托轴602上或者从承托轴602上把光纤盘7撸下来。通过上述过程可知，通过设置滑轨101和滑槽601，能够方便从罐体1内拽出或推进支架6，从而能够方便取放光纤盘7。
32.如图4所示，罐体1上设有测试孔102，卷绕在光纤盘7上的光纤的端部能够从测试孔102处伸出罐体1。
33.如图3-4所示，罐体1外设有封闭结构，封闭结构一方面用于封闭测试孔102的孔壁和光纤之间间隙，另一方面用于夹持从测试孔102伸出的光纤，防止光纤被轻易拽出。封闭结构包括定位板8、防护壳9、主锥齿轮10、副锥齿轮11、转轴12、卡爪13、封闭密封圈14。
34.如图3-4所示，在罐体1的外侧安装有连接法兰103，连接法兰103通过紧固件104与定位板8安装在一起，紧固件104可采用螺栓，定位板8上设有定位孔801，定位孔801也允许光纤伸出。为了提高密封性，在连接法兰103和定位板8之间设有连接密封圈105。
35.如图3-4所示，防护壳9安装在定位板8远离罐体1的一侧，防护壳9设有防护孔901，防护孔901也允许光纤伸出。防护壳9上还设置有第一滑孔903，第一滑孔903与防护孔901连通，在卡爪13上设有第二滑孔1301，第一滑孔903和第二滑孔1301配合，使得卡爪13上的第二滑孔1301能够插设在防护壳9的第一滑孔903的孔壁附近。
36.如图3-4所示，主锥齿轮10安装在防护壳9内。具体的，在防护壳9的内壁安装有支撑环902，在主锥齿轮10的侧壁设置有支撑槽1001，支撑槽1001与支撑环902转动配合，在支撑环902的支撑下，主锥齿轮10能够转动。主锥齿轮10在远离定位板8的一侧设置有平面螺纹1002，此平面螺纹1002用于与卡爪13上的螺纹啮合，卡爪13能够沿着主锥齿轮10的径向与防护壳9滑动配合。为了提高密封性，在主锥齿轮10的轮孔的孔壁设置有封闭密封圈14，在测试孔102的孔壁也设置有封闭密封圈14。
37.如图4所示，副锥齿轮11安装在防护壳9内，并且副锥齿轮11安装在主锥齿轮10靠近定位板8的一侧，主锥齿轮10和副锥齿轮11啮合。如图3所示，副锥齿轮11上安装有转轴12，转轴12与设置在防护壳9上的转孔(图中未示出)转动配合，为了防止转轴12从转孔处沿轴向窜动，在转轴12上安装有两个限位块1201，一个限位块1201设于防护壳9内，一个限位块1201设于防护壳9外，使得防护壳9设置有转孔的部分夹持在两个限位块1201之间，从而防止转轴12在转孔处沿轴向窜动。并且，为了提高密封性，转轴12在位于两个限位块1201之间的部分设有限位密封圈(图中未示出)，限位密封圈能够填充转孔孔壁和转轴12之间的间隙，不仅提高密封效果，还能增大转轴12和转孔之间的阻力，以便于在不转动转轴12时，方便保持转轴12的稳定。
38.光纤盘7上的光纤的端部能够依次从测试孔102、定位孔801、主锥齿轮10的轮孔、防护孔901伸出到罐体1外部。
39.在使用本实施例的测试装置去测试光纤氢损时，需要进行如下操作：
40.(1)测试人员将待测试的光纤卷绕在光纤盘7上，将光纤盘7套设在支架6上的承托轴602上，并将光纤的端部依次从测试孔102、定位孔801、主锥齿轮10的轮孔、防护孔901伸出到罐体1外部，最后关闭罐盖2。
41.(2)关闭排气阀门5，将混合好的气瓶通过软管连接到进气阀门4，打开进气阀门4按照工艺数据要求充入一定压力的气体，关闭进气阀门4，待罐体1内部气压稳定，等待相应的测试时间，让位于罐体1内的光纤进行氢损。
42.(3)在测试光纤的氢损特性时，需要每隔一天进行依次测试，连续测试二十天，来比较氢损前后光纤衰变的变化情况。在每次测试时，无需打开罐盖2，而是逆时针转动转轴12，转轴12带动副锥齿轮11转动，与副锥齿轮11配合的主锥齿轮10转动，与主锥齿轮10上的平面螺纹1002配合的卡爪13沿着主锥齿轮10的径向向外移动，使得卡爪13松开伸出罐体1的光纤，在卡爪13松开光纤时，因为有封闭密封圈14的设置，所以能够较大程度地保障罐体1内的氢损环境，即使氢损环境稍有波动，也能通过补充气瓶内的气体来尽快恢复。然后，测试人员将光纤向外拽出一部分，再顺时针转动转轴12，以便让卡爪13重新夹持光线，在向外拽光纤时，支架6上的光纤盘7适应性的转动。最后，测试人员对新伸出罐体1外的光纤进行测试。
43.(4)在全部完成测试过程后，排气阀门5通过软管连接至通风柜，排出罐体1内部的气体，同时进气阀门4重新接入氮气进行吹扫，确保罐体1无残留气体。
44.通过上述过程可知，在本实施例的测试装置中，能够将位于罐体1内的光纤向外拽出，并利用封闭结构进行封闭和夹持光纤，以便于在测试此光纤盘7上的光纤的氢损特性时，无需频繁开闭罐盖2，从而降低了对罐体1内的氢损环境的影响，以便于连续测试光纤的氢损情况，从而无需耗费时间等待罐体1内的氢损环境恢复，有利于提高测试效率。
45.并且，在本实施例的测试装置中，用于封闭和夹持光纤的封闭结构，为纯机械结构，方便检修维护，有利于提高检修维护的效率。
46.再者，封闭结构只需转动转轴12即可操控卡爪13对光纤的夹持，方便操作，有利于提高操作效率。
47.显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

技术特征：

1.一种光纤氢损测试装置，包括罐体，罐体内设有光纤盘，其特征在于，所述罐体上设有测试孔，罐体内设有支架，支架与所述光纤盘转动连接，光纤盘上的光纤的端部从测试孔伸出，罐体外设有用于封闭测试孔的孔壁和光纤之间间隙的封闭结构。2.根据权利要求1所述的一种光纤氢损测试装置，其特征在于，所述封闭结构包括定位板、防护壳、主锥齿轮、副锥齿轮、转轴、卡爪、封闭密封圈，定位板与所述罐体连接，定位板设有定位孔，定位板远离罐体的一侧设有防护壳，防护壳设有防护孔，主锥齿轮和副锥齿轮均设于防护壳内，主锥齿轮和防护壳转动连接，主锥齿轮在靠近定位板的一侧与副锥齿轮配合，副锥齿轮上设有用于与防护壳转动配合的转轴，主锥齿轮在远离定位板的一侧设有平面螺纹，卡爪与平面螺纹配合，卡爪沿主锥齿轮的径向与防护壳滑动连接，所述光纤盘上的光纤的端部依次从所述测试孔、定位孔、主锥齿轮的轮孔、防护孔伸出，测试孔的孔壁、主锥齿轮的轮孔的孔壁均设有封闭密封圈。3.根据权利要求2所述的一种光纤氢损测试装置，其特征在于，所述罐体外设有连接法兰，连接法兰通过紧固件与所述定位板连接，连接法兰和定位板之间设有连接密封圈。4.根据权利要求2所述的一种光纤氢损测试装置，其特征在于，所述防护壳上设有转孔，所述转轴上设有两个限位块，一个限位块设于防护壳内，一个限位块设于防护壳外，转轴在位于两个限位块之间的部分设有限位密封圈，限位密封圈与转孔配合。5.根据权利要求1-4任一项所述的一种光纤氢损测试装置，其特征在于，所述罐体内设有滑轨，所述支架设有用于与滑轨滑动配合的滑槽，支架上设有承托轴，承托轴与所述光纤盘转动配合。6.根据权利要求5所述的一种光纤氢损测试装置，其特征在于，所述支架上设有抓握杆。

技术总结

本实用新型公开了一种光纤氢损测试装置，涉及光纤检测技术领域，包括罐体，罐体内设有支架，支架与光纤盘转动连接，罐体上设有测试孔，光纤盘上的光纤的端部从测试孔伸出，罐体外设有用于封闭测试孔的孔壁和光纤之间间隙的封闭结构。本实用新型能够提高测试效率。本实用新型能够提高测试效率。本实用新型能够提高测试效率。