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一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法[发明专利]

专利名称：一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法专利类型：发明专利

发明人：刘振辉，王业文，王胜利

申请号：CN201910375817.X

申请日：20190507

公开号：CN110018385A

公开日：

20190716

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格；能够快速检测串联或并联的多个元器件电连接后的串联电压或并联电流是否合格，提高多元器件经过电连接后的测试效率。

申请人：深圳市矽电半导体设备有限公司

地址：518172 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区

国籍：CN

本文发布于:2024-09-22 17:26:34，感谢您对本站的认可！

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标签：元器件合格龙城

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