(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910159389.7
(22)申请日 2019.03.04
(71)申请人 北京邮电大学
地址 100876 北京市海淀区西土城路10号
(72)发明人 周怡琳 田楠 鲁文睿 李颖
王梦卿
(51)Int.Cl.
G01R 27/02(2006.01)
G01R 31/00(2006.01)
G01R 31/02(2006.01)
(54)发明名称一种温湿偏置盐污染环境的USB长期安全性检测方法(57)摘要本发明提供了一种温湿偏置盐污染环境的USB长期安全性检测方法。包括以下步骤：一，样品准备。待测USB样品进行500次数插拔磨损；对样品滴入40微升2％(重量百分比)NaCl溶液并干燥。二，试验环境准备。设置温湿箱参数；USB样品接入多通路绝缘电阻测试系统，设置测量参数；设置偏置电压。三，进行实验。打开稳压源提供偏置电压，温湿箱运行在温湿循环模式；启动多通路绝缘电阻测试系统；温湿偏置实验持续24小时。四，数据结果处理。温湿偏置实验结束后干燥样品，采用四点法测量USB的VBUS端接触电阻，对多个USB样品的接触电阻进行威布尔拟合得到特征值，以进行USB长期安全性评判。本发明中提供的测试方法简单高效，并且实验原理符合实际应 用情况。权利要求书1页 说明书5页 附图3页CN 109870610 A 2019.06.11
C N 109870610
A
权 利 要 求 书1/1页CN 109870610 A
1.一种温湿偏置盐污染环境的USB长期安全性检测方法，其具体步骤包括：
一、待测USB连接器样品准备
1)对待测USB连接器样品进行500次插拔磨损；
2)使用去离子水和NaCl制备重量百分比为2％的盐溶液；
3)向插拔磨损后的待测USB连接器样品壳体内添加40微升盐溶液，置于温湿参数为40℃、RH40％的环境下进行40分钟干燥，USB待测样品准备完成；
二、试验环境准备
1)设置温湿箱为温湿循环模式，相对湿度93％恒定，温度在30～65℃之间循环；
2)将干燥的待测USB连接器样品放入温湿箱；
3)将干燥的待测USB连接器样品的VBUS端和GND端接入多通路绝缘电阻测试系统，并进行系统参数设置，包括：USB线间绝缘电阻测量间隔时间，待测样品的测量线路选择，轮序测量所有USB样品后到下一轮测量的间隔时间；
4)稳压源电压设为5V DC，连接稳压源正负极于待测USB连接器样品的VBUS端和GND端，稳压源为连接器线间提供偏置电压，测量某线路间绝缘电阻时，该线路间的偏置电压被自动切断，测量结束后恢复；
三、进行试验
1)打开稳压源提供待测USB连接器线间偏置电压；
2)启动温湿箱运行在温湿循环模式；
3)启动多通路绝缘电阻测试系统监测多个待测USB连接器的线间绝缘电阻；
4)温湿偏置盐污染实验持续24小时；
四、数据结果处理
1)实验结束后，将USB样品从温湿箱内取出，在室温下干燥2小时；
2)使用插头与USB连接器配合，采用四点法测试USB连接器的VBUS端触点的接触电阻；
3)对多个USB样品的接触电阻进行威布尔拟合，得到温湿偏置盐污染实验后USB连接器VBUS端的接触电阻特征值，根据特征值评判该USB连接器是否符合长期安全性要求，评估USB样品质量。
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豫公网安备41160202000603
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