(10)申请公布号 CN 101996114 A
(43)申请公布日 2011.03.30C N 101996114 A
*CN101996114A*
(21)申请号 200910168479.9
(22)申请日 2009.08.26
G06F 11/22(2006.01)
(71)申请人英业达股份有限公司
地址台北市
(72)发明人江世豪 詹文同
(74)专利代理机构北京律诚同业知识产权代理
有限公司 11006
代理人梁挥
张燕华
(54)发明名称
(57)摘要
一种测试方法。该测试方法适用于一计算机
系统。该测试方法包括下列步骤。首先，开始累
第一测试。之后，判断计算机系统是否通过此第
一测试。接着，若计算机系统通过此第一测试，
则使计算机系统自动进入第二测试。第二测试为
休眠测试。之后，判断测试时间是否大于或等于
测试所需的预估时间。之后，若测试时间大于或
等于预定测试时间，则判断计算机系统的系统电
系统电流值不符合休眠电流值的特定范围，则关
闭计算机系统。(51)Int.Cl.
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请
权利要求书 1 页 说明书 4 页 附图 4 页
1.一种测试方法，适用于一计算机系统，其特征在于，该测试方法包括：
开始累计一测试时间；
对该计算机系统进行至少一第一测试；
判断该计算机系统是否通过该第一测试；
若该计算机系统通过该第一测试，则使该计算机系统自动进入一第二测试，该第二测试为一休眠测试；
判断该测试时间是否大于或等于一预定测试时间，该预定测试时间为大于等于该第一测试所需的预估时间；
若该测试时间大于或等于该预定测试时间，则判断该计算机系统的一系统电流值是否符合一休眠电流值的特定范围；以及
若该系统电流值不符合该休眠电流值的特定范围，则关闭该计算机系统。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该第一测试为一开关机测试，该判断的步骤为判断该计算机系统的一开关机次数是否符合一预定次数。
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，还包括：
若该计算机系统的该开机次数未符合该预定次数，则由该计算机系统的一显示单元显示出代表开关机测试失败的讯息。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该第一测试为一散热测试，该判断的步骤为判断该计算机系统在长时间运作的温度是否低于一预设温度。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，还包括：
若该计算机系统在长时间运作的温度高于该预设温度，则由该计算机系统的一显示单元显示出代表散热测试失败的讯息。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该第一测试为一烧机测试，该判断的步骤为判断该计算机系统的一组烧机结果是否符合一组预设条件。
7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：
若该系统电流符合该休眠电流值的特定范围，则定义该计算机系统通过该第二测试。
8.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，判断该计算机系统是否通过该第一测试的步骤后，还包括：
若该计算机系统未通过该第一测试，则记录失败讯息。
测试方法
技术领域
[0001] 本发明是有关于一种测试方法，且特别是有关于适用于计算机系统的测试方法。
背景技术
[0002] 在科技日新月异的现今时代中，各企业使出浑身解数推出各式各样的电子产品，来供应消费者以满足需求。电子产品例如是笔记型计算机。
[0003] 然而，各企业对出厂前的电子产品进行检测，当电子产品进行一阶段测试已完成时，需由检测人员以人工操作方式来让电子产品进入下一阶段的测试，此测试例如为休眠测试。若恰巧遇到长时间休工或假日，而无现场检测人员时，如此此些已完成阶段测试的电子商品则保持开机的状态，等待检测人员于休息结束后的上班日再以人工操作方式让电子产品进行下一阶段的测试。有可能造成电子产品数小时
甚至数天闲置但仍开机的状态，再以产线测试可能一次测试数量达上千上百台，造成各企业耗费许多能源而增加电费支出，亦相对地无法达到节能减碳以保护地球生态的目的。
发明内容
[0004] 本发明所述解决的技术问题在于，提供一种测试方法，其利用自动进入休眠测试的手段，使得计算机系统可以避免在开机状态等待检测人员之间所浪费的电能，故能大幅地降低电费支出，亦可达到减碳的目的。
[0005] 为了实现上述目的，本发明提出一种测试方法，适用于计算机系统。测试方法包括下列步骤。首先，开始累计一测试时间。接着，对计算机系统进行至少一第一测试。之后，判断计算机系统是否通过此第一测试。接着，若计算机系统通过此第一测试，则使计算机系统自动进入一第二测试，第二测试是为一休眠测试。之后，判断测试时间是否大于或等于一预定测试时间，此预定测试时间为大于等于第一测试所需的预估时间。之后，若测试时间大于或等于预定测试时间，则判断计算机系统的一系统电流值是否符合一休眠电流值的特定范围。然后，若系统电流值不符合休眠电流值的特定范围，则关闭计算机系统。
[0006] 本发明的功效在于，相较于现有需要以人工方式来对计算机系统进行休眠测试而造成消耗能源的方法，本发明提供的测试方法，利用自动进入休眠测试的手段，除了可完成计算机系统的测试，亦可保
护计算机系统于死机中可能遭受的毁损。
[0007] 以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
[0008] 图1为本发明的一实施例的测试方法的流程图；
[0009] 图2为于图1的测试方法的计算机系统的一示意图；
[0010] 图3A为图1的测试方法的一实施例的详细流程图；
[0011] 图3B为图1的测试方法的一实施例的详细流程图。
[0012] 其中，附图标记
[0013] 10：显示单元
[0014] 100：计算机系统
[0015] S102～S114、S302～S326：流程步骤
具体实施方式
[0016] 下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：
[0017] 请参照图1，其绘示本发明的一实施例的测试方法的流程图。首先，于步骤S102中，开始累计一测试时间。接着，于步骤S104中，对计算机系统进行至少一第一测试。之后，于步骤S106中，判断计算机系统是否通过此第一测试，若计算机系统通过此第一测试，则执行步骤S108；若计算机系统未通过此第一测试，则结束本流程。接着，于步骤S108中，使计算机系统自动进入一第二测试，此第二测试系为一休眠测试。之后，于步骤S110中，判断测试时间是否大于或等于一预定测试时间，此预定测试时间为大于等于第一测试所需的预估时间；若测试时间大于或等于预定测试时间，则执行步骤S112。接着，于步骤S112中，判断计算机系统的一系统电流值是否符合一休眠电流值的特定范围；若系统电流值不符合休眠电流值的特定范围，执行关闭计算机系统的步骤S114。
[0018] 请同时参照图2、图3A与图3B，图2绘示为适用于图1的测试方法的计算机系统的示意图。图3A与图3B绘示为图1的测试方法的一实施例的详细流程图。如图2所示，计算机系统100包括一显示单元10。计算机系统100是被施以多个测试。显示单元10是将对应于多个测试的测试结果的讯息以显示的方式来表示。兹配合图3A与图3B的多个步骤详细说明。
[0019] 如图3A所示，于步骤S302中，开始累计一测试时间。于步骤S304中，对计算机系统100进行至
少一第一测试。其中，测试时间是对应于进行所有的第一测试所耗费的时间。第一测试例如是开机测试、散热测试与烧机测试。举例来说，在本实施例的步骤S304中例如是对计算机系统进行三个第一测试。然而，虽然本实施例的测试方法是以对计算机系统100进行三个第一测试为例做说明，但亦可依照此测试方法所适用的计算机系统的特性规格来进行调整或设计，以决定是应用于一个或更多个第一测试，并不以上述为限制。[0020] 举例来说，对计算机系统100进行至少一第一测试例如进入步骤S306。于步骤S306中，对计算机系统100进行开机测试以判断计算机系统100的开关机次数是否符合一预定次数。若计算机系统100的开机次数未符合预定次数，则执行由计算机系统100控制显示单元10显示出代表开关机测试失败的讯息，并记录此失败讯息的步骤S308，且于执行完步骤S308之后进入图3B的步骤S320；若计算机系统100的开机次数符合预定次数，则执行步骤S310。其中，在计算机系统100进行开机测试后，假定计算机系统100的开关机次数是符合预定次数，亦即表示计算机系统100可正常地执行开机与关机的程序。此预定次数系依据计算机系统100的规格性能，或还可搭配客户需求来设计与决定。
[0021] 于步骤S310中，对计算机系统100进行散热测试以判断计算机系统100在长时间运作的温度是否低于一预设温度。若计算机系统100在长时间运作的温度高于预设温度，则执行由计算机系统100控制显示单元10显示出代表散热测试失败的讯息，并记录此失败讯息的步骤S312，且于执行完步骤S308的后进入图3B的步骤S320；若计算机系统100在长时间运作的温度未高于预设温度，则执行步骤S314。其中，在计算机系统100进行散热测
试后，假定计算机系统100在长时间运作的温度未高于预设温度，亦即代表计算机系统100可在长时间的工作环境下进行稳定的操作，不会让计算机系统100因过热而产生热死机。[0022] 于步骤S314中，对计算机系统100进行烧机测试以判断计算机系统100的一组烧机结果是否符合一组预设条件。若此组烧机结果未符合此组预设结果，则执行由计算机系统100控制显示单元10显示出代表烧机测试失败的讯息，并记录此失败讯息的步骤S316，且于执行完步骤S308的后进入图3B的步骤S320；若此组烧机结果符合此组预设结果，则执行步骤S318。其中，此组烧机结果例如包括对应于计算机系统100的中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)、电池、光驱、显示卡于测试后的结果。于实作中，此组预设条件例如是依据计算机系统100的特性规格来进行设计，还可参考计算机系统100中的受测对象(比如中央处理器、显示卡)所对应的标准规范来设计。也就是说，计算机系统100进行烧机测试后，假定此组烧机结果符合此组预设结果，亦即代表计算机系统100中的多个零件可稳定工作来维持计算机系统100的操作效能。
[0023] 于图3B所示，于步骤S318中，使计算机系统100自动进入一第二测试。第二测试为休眠测试。其中，此休眠测试是代表计算机系统100能否正常进入休眠状态的测试。如此，计算机系统100在通过第一测试后自动地进入休眠测试，可降低计算机系统100于等待检测人员施以第二测试前所消耗的能源，从而节省各企业的电费支出。
[0024] 于步骤S320中，判断测试时间是否大于或等于一预定测试时间，预定测试时间例如可于步骤302
中预先设定，此预定测试时间为大于等于第一测试所需的预估时间，若测试时间未大于或等于此预定测试时间，则重新执行步骤S320；若测试时间大于或等于该预定测试时间，则执行步骤S322。
[0025] 与例来说，计算机系统100的电源输入端例如连接一电流传感器(未绘示)，预定测试时间例如是利用此电流传感器来予以设定。其中，此预定测试时间是依据第一测试所需的时间来设计，于实作中，此预定测试时间还可依据多个第一测试可能耗费的时间，例如是为第一测试所需的预估时间，或依照不同应用环境的计算机系统100的操作性能来设计。此预定测试时间为大于等于第一测试所需的一预估时间，也就是说，当到达预定测试时间时，确保计算机系统100已有充足时间可能来完成多个第一测试。若测试时间大于或等于该预定测试时间是代表计算机系统100已经进入第二测试。此预定测试时间例如是为3小时。
[0026] 于步骤S322中，判断计算机系统100的一目前系统电流值是否符合一休眠电流值的特定范围。若目前系统电流值符合休眠电流值的特定范围，则执行定义计算机系统100通过第二测试的步骤S324；若目前系统电流值不符合休眠电流值的特定范围，则执行关闭计算机系统100的电源的步骤S326。兹举一例详细说明步骤S322～S326如下。[0027] 举例来说，电流传感器是用来判断计算机系统100的目前系统电流值是否符合休眠电流值的特定范围。此休眠电流值例如是对应于计算机系统100进入休眠状态后的系统电流值。此目前系统电流值例如系对应于计算机系统100进入开机状态后的系统电流值。其中，于开机状态中的目前的系统电流值会大于休眠状态中的休眠电流值，也就是说，在目前系统电流值大于休
眠电流值时，代表计算机系统100未通过第二测试，即未进入休眠状态。
[0028] 举例来说，假定目前系统电流值大于休眠电流值，是代表计算机系统100可能已
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
关于我们
投诉建议