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一种数字逻辑芯片及其可测试设计的方法[发明专利]

专利名称：一种数字逻辑芯片及其可测试设计的方法专利类型：发明专利

发明人：王振国

申请号：CN200810114557.2

申请日：20080604

公开号：CN101303392A

公开日：

20081112

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供一种数字逻辑芯片及其可测试设计的方法，其中，该方法是在所述数字逻辑芯片中的各个扫描触发器与观测管脚之间设置相应的逻辑器件，通过所述观测管脚分时观测各个扫描触发器的信号，在所述信号经过所述逻辑器件后，通过将观测结果与预定的观测结果进行比较，以判断所述数字逻辑芯片是否出现异常。本发明的数字逻辑芯片及其可测试设计的方法，能够通过少量管脚实现电路在扫描测试时的可观测。

申请人：北京中星微电子有限公司

地址：100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层

国籍：CN

代理机构：信息产业部电子专利中心

代理人：梁军

本文发布于:2024-09-23 02:14:11，感谢您对本站的认可！

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