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一种DDR与内存颗粒的等长检测方法及相关设备[发明专利]

专利名称：一种DDR与内存颗粒的等长检测方法及相关设备专利类型：发明专利

发明人：郑冠儒，韩威，薛广营

申请号：CN202011192995.8

申请日：20201030

公开号：CN112306772A

公开日：

20210202

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供了一种DDR与内存颗粒的等长检测方法，包括：获取DDR控制器与内存颗粒的关系参量，所述关系参量包括叠层信息、管脚坐标文件、区间长度文件和链路拓扑；读取并提取所述管脚坐标文件和所述区间长度文件的数据信息；对所述叠层信息和所述链路拓扑进行解析得到解析参量；以及根据所述数据信息和所述解析参量计算走线长度，其中，所述走线长度为当前位置到初始位置的长度；并根据所述走线长度计算每个内存颗粒的数据信号长度和控制信号长度的差值；利用所述差值结果，输出走线长度数组和检查结果数组，本发明对DDR控制器与内存颗粒的关系参量解析获得检查结果，解决了在硬件设计中DDR颗粒等长计算复杂的问题。

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

地址：215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

国籍：CN

代理机构：北京众达德权知识产权代理有限公司

代理人：彭博

本文发布于:2024-09-21 14:33:45，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/1/433881.html

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