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反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置[发明专利]

专利名称：反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法及装置

专利类型：发明专利

发明人：徐光明，甄珍，刘新厚，汪琦

申请号：CN200910091416.8

申请日：20090821

公开号：CN101995292A

公开日：

20110330

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明涉及有机聚合物电光材料的表征技术，特别涉及反射法测量有机聚合物薄膜材料的电光系数的方法，及该方法所用的测量装置。本发明装置中的光学元件包括单光纤激光器、准直器、起偏器、索累-巴比涅补偿器、检偏器和光电探测器；电学元件包括直流/交流滤波器、锁相放大器、双路低频信号发生器和计算机。本发明的方法是采用简单可调的反射光路，结合高性能电学元件，实现聚合物薄膜电光系数的快速测量。本发明克服了直接测量电光系数方法中样品制作复杂、耦合光路调节困难、不能测量损耗介质、不能测量电光系数分布的缺点，直接测量极化后的样品，光路调节简单，数据处理快速可靠，多次测量即可得到电光系数的分布。

申请人：中国科学院理化技术研究所

地址：100190 北京市海淀区中关村北一条2号

国籍：CN

代理机构：上海智信专利代理有限公司

代理人：李柏

本文发布于:2024-09-20 12:26:09，感谢您对本站的认可！

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