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一种检测锁相环假锁的方法[发明专利]

专利名称：一种检测锁相环假锁的方法专利类型：发明专利

发明人：吴安军

申请号：CN200710074684.X

申请日：20070601

公开号：CN101140308A

公开日：

20080312

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种检测锁相环假锁的方法，包括以下步骤：a.初始化锁相环芯片用到的I/O 管脚；b.给锁相环寄存器配置失锁的数据，使得锁相环处于失锁状态；c.检查锁相环是否处于失锁状态，如果失锁，则表明锁相环正常；如果不失锁，则表明锁相环有故障。采用本发明，可以及时有效地检测出有假锁现象的锁相环芯片，预防假锁导致的故障，提高了系统的稳定性。

申请人：中兴通讯股份有限公司

地址：518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部

国籍：CN

代理机构：深圳市永杰专利商标事务所

代理人：曹建军

本文发布于:2024-09-24 20:20:03，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/1/430662.html

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