半导体集成电路及存储器检查方法[发明专利]

专利名称：半导体集成电路及存储器检查方法专利类型：发明专利

发明人：山口德志，关口启之，盐田良治，中野三矢申请号：CN200810091679.4

申请日：20080411

公开号：CN101286366A

公开日：

20081015

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：半导体集成电路包括：存储器，其存储秘密数据；存储器BIST电路，其执行针对于该存储器的存储器BIST；第一选择器，其在用于经由外部端子针对于该存储器执行的存储器隔离测试的路径、以及来自该存储器BIST电路的路径之间切换；第二选择器，其在来自第一选择器的输出的路径和来自正常电路的路径之间切换，并且具有耦接到该存储器的输出；以及第三选择器，其在来自该存储器的输出的路径与用于接收伪信号的路径之间切换，并且接收从存储器BIST电路输出的作为选择信号的检查完成信号，在该半导体集成电路中，在通过执行存储器BIST而初始化该存储器之后，可以经由用于存储器隔离测试的路径而从外部端子访问该存储器。

申请人：松下电器产业株式会社

地址：日本大阪府

国籍：JP

代理机构：北京市柳沈律师事务所

代理人：邸万奎

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