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测试信号集的测试方法及装置[发明专利]

专利名称：测试信号集的测试方法及装置

专利类型：发明专利

发明人：韩惠婕，李杰，孙健，孙洁，路林海，余航，尹安旭申请号：CN201310701223.6

申请日：20131218

公开号：CN103678066A

公开日：

20140326

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种测试信号集的测试方法及装置。该方法包括：按照IEEE1641中测试信号框架TSF的标准规则，通过一个或多个基本信号组件的组合与重用定义测试信号的信号模型；对测试信号的信号模型中的各个组件进行状态转换和接口调用，并通过对各个组件的动态集成和交互完成测试信号的测试。借助于本发明的技术方案，使得测试信息在设计、测试以及维护等各个阶段更好的流通，从而降低测试难度，提高测试信息的通用性和测试流程的可移植性。

申请人：北京航天测控技术有限公司

地址：100041 北京市石景山区实兴东街3号

国籍：CN

代理机构：工业和信息化部电子专利中心

代理人：秦莹

本文发布于:2024-09-22 22:18:27，感谢您对本站的认可！

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