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用于检测多芯片并联瞬态电流不均匀度的方法及装置[发明专利]

专利名称：用于检测多芯片并联瞬态电流不均匀度的方法及装置

专利类型：发明专利

发明人：苏洪源，赵发展，李晶，罗家俊，瞿磊，席茜

申请号：CN201811473770.2

申请日：20181204

公开号：CN109752637A

公开日：

20190514

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明公开了一种用于检测多芯片并联瞬态电流不均匀度的方法及装置，属于功率半导体器件领域。该方法包括：将预先设置的测试电路的预设参数配置为预设的初始值；控制调节预设参数后的测试电路，测得芯片组并联瞬态电流的参考不均匀度；判断参考不均匀度是否满足预设条件；当参考不均匀度满足预设条件时，将参考不均匀度作为芯片组瞬态电流的目标不均匀度；当参考不均匀度不满足预设条件时，按照预设步长调节预设参数，并在间隔第一预设时间后，重复执行控制调节预设参数后的测试电路，测得芯片组的参考不均匀度的步骤，直至所测得的参考不均匀度满足预设条件，将该参考不均匀度作为芯片组并联瞬态电流的目标不均匀度。

申请人：中国科学院微电子研究所

地址：100029 北京市朝阳区北土城西路3号

国籍：CN

代理机构：北京华沛德权律师事务所

代理人：房德权

本文发布于:2024-09-20 21:28:24，感谢您对本站的认可！

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