检测物的检测装置、电极、基板、检查芯片及检测方法[发明专利]

专利名称:检测物的检测装置、电极、基板、检查芯片及检测方法
专利类型:发明专利
发明人:堀信康,桐村浩哉
申请号:CN201110333157.2
申请日:20111028
公开号:CN102539741A
公开日:
20120704
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明的目的在于提供一种能够灵敏地检测出检测物和受测物的检测物的检测装置、电极基板、工作电极、检查芯片、检测物的检测方法以及受测物的检测方法;为达到上述目的,在工作电极上设置反射部件(反射层),该反射部件将光源照射出的、且透过了工作电极主体的激励光反射到工作电极主体上的检测物上。
申请人:希森美康株式会社
地址:日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
国籍:JP
代理机构:北京市安伦律师事务所
代理人:刘良勇

本文发布于:2024-09-22 07:23:14,感谢您对本站的认可!

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