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维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统[发明专利]

专利名称：维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统专利类型：发明专利

发明人：郭仲仁，薛国强，简祯富，吴吉政

申请号：CN02119842.X

申请日：20020515

公开号：CN1458606A

公开日：

20031126

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统，其中，半导体元件电性测试系统包括一测试机台、一制造执行系统、一成本系统、一测试数据系统与一维修决策支持系统。其测试方法是由测试机台所得的目前各测试管生产情况的数据，利用维修决策方法中的决策树来计算目标函数与允许维修时间函数，以求得最大的测试利益。

申请人：旺宏电子股份有限公司

地址：台湾省新竹科学工业园区力行路16号

国籍：CN

代理机构：北京集佳专利商标事务所

代理人：王学强

本文发布于:2024-09-21 20:38:58，感谢您对本站的认可！

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