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一种检测复合绝缘子内部导通性缺陷的装置及方法[发明专利]

专利名称：一种检测复合绝缘子内部导通性缺陷的装置及方法专利类型：发明专利

发明人：王黎明，涂彦昕，梅红伟，尹芳辉，郭晨鋆，沈泽锴

申请号：CN202111367883.6

申请日：20211118

公开号：CN114167231A

公开日：

20220311

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：一种检测复合绝缘子内部导通性缺陷的装置及方法，该装置包括脉冲微波发生模块、红外热像仪和数据处理单元，所述脉冲微波发生模块对复合绝缘子进行微波加热以实现导通性缺陷区域产热，所述红外热像仪采集复合绝缘子的初始红外热图和微波加热后的红外热图序列，所述数据处理单元将所述初始红外热图作为参考热图对所述红外热图序列进行差分处理得到差分热图序列，对所述差分热图序列进行处理得到热波在频域上的幅值特征和相位特征，实现热波信号频域特征的提取，并根据频域特征重构复合绝缘子的热图序列，实现复合绝缘子内部导通性缺陷区域的增强显示。本发明能够实现对复合绝缘子内部导通性缺陷快速、精准、无接触、可视化检测。

申请人：清华大学深圳国际研究生院

地址：518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼

国籍：CN

代理机构：深圳新创友知识产权代理有限公司

代理人：王震宇

本文发布于:2024-09-22 18:20:23，感谢您对本站的认可！

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